FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
precisão mesmo com tempos de medição curtos
com o mais pequeno tamanho do ponto 10 µm (FWHM)
para a medição fiável de pequenas estruturas
Até 50 % de aumento do desempenho: Desvio padrão significativamente melhorado e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com DPP para DPP+.
Ótica capilar de alta qualidade fabricada pela Fischer - o único fabricante mundial de instrumentos de medição por fluorescência de raios X com produção própria de policapilares. Três diferentes policapilares topo de gama disponíveis - a solução certa para cada uma das suas aplicações: 10 µm sem halo, 20 µm sem halo ou 20 µm com halo.
Controlo de qualidade automatizado por XRF de PCBs.
O FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB é um verdadeiro especialista para um controlo de qualidade fiável de PCBs com fluorescência de raios X. Graças a um potente detetor de desvio de silício, tubo de microfoco Ultra e ótica policapilar, o instrumento XRF mede com um ponto de medição extremamente pequeno a uma intensidade muito elevada. Isto permite-lhe determinar de forma fiável mesmo as camadas mais finas. Os dispositivos também cumprem os requisitos IPC 4552 e 4556 para ENIG e ENEPIG, bem como 4553A (prata) e 4554 (estanho).
Responder a todos os desafios.
Resultados fiáveis e rápidos para tarefas de medição ambiciosas
Totalmente automatizável.
Deixe o seu instrumento trabalhar para si
Especialistas em PCB.
Soluções de medição especializadas para placas de circuito impresso, cumprem as normas IPC
As ópticas policapilares mais avançadas do mercado.
As nossas ópticas policapilares fabricadas internamente proporcionam excelentes resultados de medição em curtos tempos de medição
Programável.
Medições automatizadas em estruturas predefinidas graças à tecnologia avançada de reconhecimento de padrões
Colocação em funcionamento.
Extremamente rápido e simples
Processador de impulsos digital DPP+.
Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*
*em comparação com o DPP
Características
Tubo Microfocus Ultra com ânodo de tungsténio para um desempenho ainda mais elevado nos pontos mais pequenos; ânodo de molibdénio opcional
Filtros 4 vezes substituíveis
Altura possível das amostras até 10 mm
As ópticas policapilares permitem pontos de medição particularmente pequenos com tempos de medição curtos a alta intensidade
Ponto de medição aprox: Ø 10 ou 20 µm (FWHM)
Mesa de medição programável de alta precisão para placas de circuito impresso até 610 x 610 mm, opcionalmente com dispositivo de vácuo
Detetor de desvio de silício com 20 ou 50 mm² para maior precisão em películas finas
DPP+ para maior precisão mesmo com tempos de medição curtos
Exemplos de aplicação
- Medição dos componentes e estruturas planas mais pequenos em placas de circuito impresso até 610 x 610 mm (24 x 24 pol.)
- Análise de revestimentos muito finos, como camadas de ouro/paládio de ≤ 3 nm ou 10 nm
- Medição automatizada, como no controlo de qualidade
- Com a opção de 10 μm: Medição com o ponto de medição mais pequeno em combinação com um grande detetor de desvios de silício
- Com a opção de mesa de vácuo: Medição em placas de circuito impresso flexíveis
- Conformidade total com as normas IPC 4552 e 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (Prata) e 4554 (Estanho)
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Notas de aplicação
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MBTutoriais
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