FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

O produto pode variar com base no modelo ou características

 

Menor ponto de medição, maior distância de medição.

Controlar tarefas de medição exigentes com policapilares: Aparelho de medição XRF de ponta com ótica de Raios-X policapilar para medição em pequenos componentes com o menor ponto de medição e a maior distância de medição.

Até 50% ¹ aumentou
desempenho graças ao DPP+
60 µm
menor tamanho do ponto
12 mm
maior distância de medição - o melhor da sua linha!
¹ Mostrar mais
Mostrar menos

Desvio padrão significativamente melhorado e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com DPP para DPP+.

 

O desempenho no seu melhor.

O destaque para pequenas peças de teste com formas complexas. A distância de medição incomparável combinada com o menor ponto de medição e o tubo microfokus Ultra para maior desempenho com os menores pontos de medição, fazem do FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD o equipamento de Raios-X líder do setor.

Responder a todos os desafios.

Resultados confiáveis e rápidos para tarefas de medição exigentes

As ópticas policapilares mais avançadas do mercado.

As nossas ópticas policapilares de fabricação própria proporcionam excelentes resultados de medição com tempos de medição curtos

Programável.

Medições automatizadas em estruturas predefinidas graças à tecnologia avançada de reconhecimento de padrões

Totalmente automatizável.

Deixe o seu instrumento trabalhar para si com apenas um clique

Processador de impulsos digital DPP+.

Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*

*em comparação com o DPP

  • Características

      Tubo Microfocus Ultra com ânodo de tungsténio para um desempenho ainda mais elevado nos pontos mais pequenos; ânodo de molibdénio opcional

      Filtro substituível

      Taxas de contagem mais elevadas e tempos de medição significativamente reduzidos graças ao DPP+

      A ótica policapilar permite pontos de medição particularmente pequenos, com tempos de medição curtos e elevada intensidade

      Ponto de medição aprox: Ø 60 µm

      Determinação do teor de metais em banhos de galvanoplastia com os respectivos acessórios

      Detetor de desvio de silício com área ativa de 20 ou 50 mm² para a mais alta precisão com camadas finas

      Altura possível das amostras até 135 mm

  • Exemplos de aplicação

      • Medição dos componentes e estruturas mais pequenos, como placas de circuito impresso montadas e de forma complexa, contactos de fichas, áreas de ligação, componentes SMD ou fios finos
      • Medição de camadas funcionais na indústria eletrónica e de semicondutores
      • Determinação de sistemas multicamadas complexos
      • Medição automatizada, por exemplo, no controlo de qualidade

      Tem outras aplicações? Então contacte-nos!

Notas de aplicação
Vídeos de produtos
Tutoriais
Webinars
Catálogo
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation

Fischer Insights.

Método de medição.

Aprenda e descubra como funciona a análise por fluorescência de raios X.

Saiba mais
Serviços.

Oferecemos-lhe tudo o que necessita para obter resultados de medição fiáveis.

Saiba mais
Porquê o Fischer.

Experimente muitas boas razões que falam por nós enquanto empresa.

Saiba mais

Descubra mais produtos.