FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
desempenho graças ao DPP+
Produzido internamente e constantemente desenvolvido²
ótica policapilar adequada³
Desvio padrão significativamente melhorado e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com DPP para DPP+.
Ótica policapilar, que está constantemente a ser desenvolvida. Ótica capilar de topo de gama fabricada pela Fischer - o único fabricante mundial de instrumentos de medição de fluorescência de raios X com produção própria de policapilares.
Três diferentes policapilares topo de gama disponíveis - a solução certa para cada uma das suas aplicações: 10 µm sem halo, 20 µm sem halo ou 20 µm com halo.
Para as exigências mais elevadas até ao mais pequeno µ.
Os instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ estão entre os dispositivos de medição de fluorescência de raios X topo de gama da Fischer e são ideais para medir estruturas minúsculas. Estão equipados com a última geração de poderosos detectores de desvio de silício, tubos de microfoco Ultra e ópticas policapilares produzidas internamente. Devido à elevada intensidade de radiação, os tempos de medição são drasticamente reduzidos e são possíveis medições altamente precisas nos pontos de medição mais pequenos.
Responder a todos os desafios.
Resultados confiáveis e rápidos para tarefas de medição exigentes
As ópticas policapilares mais avançadas do mercado.
As nossas ópticas policapilares de fabrico próprio proporcionam excelentes resultados de medição com tempos de medição curtos
Programável.
Medições automatizadas em estruturas predefinidas graças à tecnologia avançada de reconhecimento de padrões
Totalmente automatizável.
Deixe o seu instrumento trabalhar para si com apenas um clique
Processador de impulsos digital DPP+.
Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*
*em comparação com o DPP
Sistema de vídeo com zoom ótico de 3 vezes e software WinFTM® - garante o posicionamento exato de cada amostra.
Com o tubo microfocus Ultra, a intensidade de excitação é significativamente aumentada. Isto garante um desempenho de medição ainda melhor com os menores pontos de medição
Graças à inovadora ótica de raios X policapilares, o instrumento mede com um ponto de medição extremamente pequeno, mantendo uma intensidade muito elevada.
O detetor de desvio de silício de alto desempenho permite-lhe medir as estruturas mais pequenas e as camadas mais finas < 0,1 µm de forma precisa e não destrutiva.
Características
Tubo Microfocus Ultra com ânodo de tungsténio para um desempenho ainda mais elevado nos pontos mais pequenos; ânodo de molibdénio opcional
Filtro substituível
Taxas de contagem mais elevadas e tempos de medição significativamente reduzidos graças ao DPP+
A ótica policapilar permite pontos de medição particularmente pequenos, com tempos de medição curtos e elevada intensidade
Ponto de medição aprox: Ø 10 ou 20 µm
Detetor de desvio de silício com área ativa de 20 ou 50 mm² para maior precisão
Altura possível das amostras até 135 mm
Exemplos de aplicação
- Medição nos menores componentes e estruturas planas, como circuitos, contatos ou estruturas de chumbo
- Medição de camadas comuns na indústria eletrónica e de semicondutores
- Determinação de sistemas multicamadas complexos
- Medição automatizada, por exemplo, no controle de qualidade
- Medição de elementos leves, por exemplo, determinação do teor de fósforo em níquel electroless sob ouro e paládio (ENIG/ENEPIG)
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Notas de aplicação
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