FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
desempenho graças ao DPP+
janelas intercambiáveis
filtros substituíveis
Desvio padrão significativamente melhorado e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com DPP para DPP+.
Análise por fluorescência de Raios-X para exigências universalmente elevadas.
O FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD é um dos instrumentos de fluorescência de Raios-X mais potentes do portfólio da Fischer. Leve o seu desempenho de medição a um novo nível com este modelo premium: Em combinação com o processador de impulsos digitais DPP+, desenvolvido internamente, podem agora ser processadas taxas de contagem ainda mais elevadas, resultando em tempos de medição reduzidos ou numa melhor repetibilidade dos seus resultados de medição.
Construído para durar.
Design robusto para os mais altos requisitos
Totalmente automatizável.
Deixe o seu dispositivo trabalhar para si com apenas um clique
Design de medição rápida.
Com alguns passos simples, a amostra é colocada e está pronta para a medição. São possíveis medições automatizadas de muitas peças
Rápido.
Graças aos curtos tempos de medição, poupa-se tempo valioso
Análise RoHS.
Determinação de poluentes com elevada precisão de deteção e desempenho excecional
Processador de impulsos digital DPP+.
Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*
*em comparação com o DPP
Transmissão, avaliação e exportação de dados de medição em tempo real com o WinFTM®, o software de aplicação mais potente do mercado.
Abertura até 3 mm: Intensidade mais elevada para um tempo de medição mais curto, mesmo com amostras difíceis.
Mesa de medição programável para medições automáticas em pequenas estruturas.
O FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD é um dos instrumentos de fluorescência de Raios-X mais potentes da Fischer.
O detector de desvio de silício de alta resolução e alto desempenho permite-lhe medir as camadas mais finas com precisão e de forma não destrutiva.
Características
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio
Detector de desvios de silício 50 mm² com área efectiva extra grande de 50 mm²
Determinação do teor de metais em banhos de galvanoplastia com os respectivos acessórios
Ponto de medição aprox: Ø 0,25 mm
Taxas de contagem mais elevadas e tempos de medição significativamente reduzidos graças ao DPP+
Dispositivo de proteção total de tipo aprovado
Altura possível das amostras até 140 mm
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 6 vezes alteráveis
Exemplos de aplicação
- Medição de revestimentos funcionais na indústria eletrónica e de semicondutores, por exemplo, determinação da espessura de revestimentos de ouro até 2 nm
- Análise de revestimentos finos e ultra finos na indústria eletrónica e de semicondutores, como camadas de ouro/paládio de ≤ 0,1 μm
- Determinação de sistemas multicamadas complexos
- Medição da espessura de revestimentos para aplicações fotovoltaicas, de células de combustível e de células de bateria
- Análises de vestígios de substâncias perigosas, como chumbo e cádmio, de acordo com RoHS, WEEE, CPSIA e outras diretrizes para produtos eletrônicos, embalagens e produtos de consumo
- Análise e controle de autenticidade de ouro e outros metais preciosos e ligas de metais preciosos
- Determinação direta do teor de fósforo em camadas de NiP
- Determinação do teor de metais em banhos de galvanoplastia
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Notas de aplicação
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