FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
aprox. Ø 0,2 mm
3 vezes filtros substituíveis
para uma excelente precisão de detecção e uma resolução elevada
Ensaios PCB por XRF para profissionais.
A combinação de um potente detector de desvio de silício, abertura múltipla e filtros alteráveis torna os equipamentos FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB são ideais para a medição de pequenas estruturas em PCBs.
Especialistas em PCB.
Soluções de medição especializadas para placas de circuito impresso, cumprem as normas IPC
Enfrentando todos os desafios.
Resultados confiáveis e rápidos para tarefas de medição exigentes
Totalmente automatizável.
Deixe o seu equipamento trabalhar para você
Programável.
Medições automatizadas em estruturas predefinidas graças à tecnologia avançada de reconhecimento de padrões
Funcionamento.
Extremamente rápido e simples
Transmissão, avaliação e exportação de dados de medição em tempo real com o WinFTM®, o software de aplicação mais potente do mercado.
Com a intuitiva série de instrumentos PCB, a Fischer oferece soluções de medição especializadas para PCBs.
Instrumento universal para medição em pequenas estruturas, multicamadas, revestimentos funcionais e revestimentos finos < 0,1 μm.
Uma excelente estabilidade a longo prazo é caraterística de todos os instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY. Isto reduz consideravelmente o esforço de calibração e poupa tempo e custos.
Características
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio
Mesa de medição fixa e larga para placas de circuito impresso até 610 × 610 mm, opcionalmente com extensão da mesa de medição de 1200 x 900 mm ou em versão automatizada, dependendo do dispositivo
Ponto de medição aprox: Ø 0,2 mm
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 3 vezes alteráveis
Altura possível das amostras até 10 mm
Detetor de desvio de silício de grandes dimensões para maior precisão em camadas finas
Exemplos de aplicação
- Medição dos componentes e estruturas mais pequenos em placas de circuito impresso até 610 x 610 mm (24 x 24 pol.)
- Medição de revestimentos funcionais na indústria eletrônica e de semicondutores
- Análise de revestimentos muito finos de ≤ 0,1 μm
- Determinação do teor de chumbo em soldas
- Determinação de sistemas multicamadas complexos
- Determinação direta do fósforo em revestimentos NiP
- Cumpre os requisitos ENIG/ENEPIG
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