FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
aprox. Ø 0,2 µm
3 vezes filtros substituíveis
para uma excelente precisão de detecção e uma resolução elevada
Ensaios PCB por XRF para profissionais.
A combinação de um potente detector de desvio de silício, abertura múltipla e filtros alteráveis torna os equipamentos FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB são ideais para a medição de pequenas estruturas em PCBs.
Especialistas em PCB.
Soluções de medição especializadas para placas de circuito impresso, cumprem as normas IPC
Enfrentando todos os desafios.
Resultados confiáveis e rápidos para tarefas de medição exigentes
Totalmente automatizável.
Deixe o seu equipamento trabalhar para você
Programável.
Medições automatizadas em estruturas predefinidas graças à tecnologia avançada de reconhecimento de padrões
Funcionamento.
Extremamente rápido e simples
Transmissão, avaliação e exportação de dados de medição em tempo real com o WinFTM®, o software de aplicação mais potente do mercado.
Com a intuitiva série de instrumentos PCB, a Fischer oferece soluções de medição especializadas para PCBs.
Instrumento universal para medição em pequenas estruturas, multicamadas, revestimentos funcionais e revestimentos finos < 0,1 μm.
Uma excelente estabilidade a longo prazo é caraterística de todos os instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY. Isto reduz consideravelmente o esforço de calibração e poupa tempo e custos.
Características
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio
Mesa de medição fixa e larga para placas de circuito impresso até 610 × 610 mm, opcionalmente com extensão da mesa de medição de 1200 x 900 mm ou em versão automatizada, dependendo do dispositivo
Ponto de medição aprox: Ø 0,2 mm
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 3 vezes alteráveis
Altura possível das amostras até 10 mm
Detetor de desvio de silício de grandes dimensões para maior precisão em camadas finas
Exemplos de aplicação
- Medição dos componentes e estruturas mais pequenos em placas de circuito impresso até 610 x 610 mm (24 x 24 pol.)
- Medição de revestimentos funcionais na indústria eletrônica e de semicondutores
- Análise de revestimentos muito finos de ≤ 0,1 μm
- Determinação do teor de chumbo em soldas
- Determinação de sistemas multicamadas complexos
- Determinação direta do fósforo em revestimentos NiP
- Cumpre os requisitos ENIG/ENEPIG
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Notas de aplicação
Tutoriais
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Brochuras
Notas de aplicação
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN096 Optimized for the PCB industry: Measure ultrathin layers of gold and palladium according to IPC-4552B/IPC-4556A 0.76 MBTutoriais
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Webinars
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