FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
desempenho graças ao DPP+
para um posicionamento rápido e fácil da sonda
método patenteado DCM
Desvio padrão significativamente melhor e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com DPP para DPP+.
Análise universal por fluorescência de Raios-X para camadas muito finas.
O FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 é o analisador XRF da Fischer para a determinação de camadas finas, revestimentos finos e ligas. Com a medição completa a amostra é simplesmente colocada na mesa de medição e operada manualmente. Um ponteiro laser serve como auxiliar de posicionamento. Isto significa que mesmo amostras com geometrias complexas podem ser analisadas com precisão e facilidade.
Versátil.
Ideal para a indústria eletrónica e de semicondutores
Análise RoHS.
Determinação fiável de substâncias perigosas
Design de medição rápida.
A amostra é colocada e está pronta para a medição em apenas alguns passos
Equilibrado.
Óptima relação custo-benefício
Processador de impulsos digital DPP+.
Tempos de medição mais curtos ou melhoria do desvio padrão*
*em comparação com o DPP
Transmissão, avaliação e exportação de dados de medição em tempo real com o WinFTM®, o software de aplicação mais potente do mercado.
Análise precisa e rápida de vestígios para proteção do consumidor, como o teor de chumbo em brinquedos.
Versátil e ideal para uma resolução ainda mais elevada graças ao potente detetor de desvios de silício e à abertura configurável.
Máxima flexibilidade para uma vasta gama de medições: 4 aberturas diferentes e 3 filtros diferentes.
Características
Detetor de desvios de silício com área efectiva extra grande de 20 mm²
Aberturas 4 vezes alteráveis e filtros 3 vezes alteráveis
Taxas de contagem mais elevadas e tempos de medição significativamente reduzidos graças ao DPP+
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio
Altura possível das amostras até 140 mm
Ponto de medição aprox: Ø 0,15 mm
Exemplos de aplicação
- Análise de revestimentos finos e muito finos de ≤ 0,1 µm
- Medição de revestimentos comuns na indústria eletrónica e de semicondutores, tais como em estruturas de chumbo, contactos de fichas ou PCBs
- Determinação de sistemas multicamadas complexos
- Determinação do teor de chumbo em soldas
- Determinação do teor de fósforo em revestimentos NiP
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