FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
método patenteado DCM
segurança total
automatizável
Análise por fluorescência de Raios-X para exigências mais elevadas.
XDAL®: Graças ao tubo de microfoco e a vários detectores de semicondutores, a série FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® é ideal para aplicações no campo de revestimentos finos e ultra finos < 0,05 μm, bem como para análise de materiais na escala ppm. A versão do equipamento com o detetor de desvio de silício de 50 mm² é, além disso, adequada para medições RoHS. O XDAL® é flexível e, graças a várias opções de configuração (mesa, abertura, filtro e detector), mede de forma confiável, precisa e garante 100% de segurança.
Colocação em funcionamento.
Extremamente rápido e simples
Um aparelho, muitas possibilidades.
Medição da espessura do revestimento, análise do material e análise de traços
Teste de múltiplos pontos de medição.
Mesmo em amostras de grandes dimensões, são possíveis pontos de medição em toda a superfície da amostra
Também para amostras grandes.
O formato curvado do proporcional counter permite medição precisa de amostras grandes e planas.
Totalmente automatizável.
Deixe o seu instrumento trabalhar por si com apenas um clique
Design compacto.
Compromisso muito bom entre desempenho e requisitos de espaço
Transmissão, avaliação e exportação de dados de medição em tempo real com o WinFTM®, o software de aplicação mais potente do mercado.
Minimizar o risco na inspeção de entrada de mercadorias: eliminar diferentes lotes de solda graças à mesa de medição programável e ao detetor de semicondutores.
Não podia ser mais cómodo: Medição contínua da distância com uma medição a partir de cima e uma calibração ex works.
Características
Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio
Ponto de medição aprox: Ø 0,15 mm
PIN de silício e detetor de desvio de silício para uma precisão de deteção muito boa e uma resolução elevada
Filtros de 3 camadas substituíveis
Equipamento com total segurança
Determinação do teor de metais em banhos de galvanoplastia com os respectivos acessórios
4 aberturas intermutáveis
Alturas possíveis de amostras até 140 mm
Várias opções de mesas de medição
Exemplos de aplicação
- Análise de revestimentos finos e ultrafinos de ≤ 0,05 μm
- Medição de revestimentos comuns na indústria eletrónica e de semicondutores, tais como em estruturas de chumbo, contatos de fichas ou PCBs
- Determinação de sistemas multicamadas complexos
- Medições automatizadas, por exemplo, no controle de qualidade
- Determinação do teor de chumbo em soldas
- Na versão SDD (20 mm² ou 50 mm²):
- Determinação do teor de fósforo em camadas de NiP
- Cumpre os requisitos ENIG/ENEPIG
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