FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Características
- Espectrômetro universal de fluorescência de raios-X para medições automatizadas em camadas & lt; 0,0 5μm e para análise de material na faixa de ppm de acordo com DIN ISO 3497 e ASTM B 568
- 3 opções de detector diferentes ( Diodo Si-PIN; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
- 3x filtros primários trocáveis
- 4x colimadores trocáveis
- Menor ponto de medição aprox. 0,15 mm
- Amostras de alturas de até 14 cm
- Estágio XY programável com precisão de posicionamento de 10 µm
- Caixa com fenda para medição em grandes placas de circuito impresso
- Dispositivo de proteção totalmente certificado
Aplicações
- Análise de materiais de revestimentos e ligas (também revestimentos finos e baixas concentrações)
- Indústria eletrônica, ENIG, ENEPIG
- Conectores e contatos
- Indústria de ouro, joalheria e relojoaria
- Medição de revestimentos finos (alguns nanômetros) de ouro e paládio na fabricação de PCBs
- Análise de oligoelementos
- Determinação de chumbo ( Pb) para aplicações de alta confiabilidade (prevenção de bigode de estanho)
- Análise de revestimentos de materiais duros
Análise de fluorescência de raios-X para demandas sofisticadas
O FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® é o melhor instrumento de medição de fluorescência de raios-X da série XDL . Como seus "irmãos mais novos", ele mede de cima para baixo, o que torna fácil e conveniente testar até mesmo amostras de formatos estranhos. pARA otimizar as condições de medição para sua tarefa, o FISCHERSCOPE X-RAY XDAL vem com colimadores e filtros substituíveis como equipamento padrão.
Quanto mais exigente for a tarefa de medição, mais importante será o tipo de detector! O FISCHERSCOPE X-RAY XDAL portanto, oferece três detectores de semicondutores diferentes.
O diodo PIN de silício é um detector de faixa média e adequado para medir vários elementos em uma área de medição relativamente grande. Quando equipado com um PIN, o XDAL costuma ser usado para inspecionar revestimentos de materiais duros.
O detector de desvio de silício (SDD) de alta qualidade oferece melhor resolução de energia do que o diodo PIN de silício. Os espectrômetros XDAL assim equipados são usados para resolver tarefas de medição complexas na indústria eletrônica: por exemplo, a medição de camadas de ligas finas ou análise de material de elementos muito semelhantes, como ouro e platina. Este é o instrumento XRF confiável para controle de qualidade com aplicativos ENIG e ENEPIG.
Para desafios particularmente difíceis, a Fischer também oferece um SDD com uma superfície de detector extragrande. A força desse detector está em sua capacidade de medir camadas de forma confiável até a faixa de apenas alguns nanômetros e de fazer análises de traços na faixa por moinho. Com esses dispositivos XDAL você pode testar o conteúdo de chumbo em soldas destinadas a aplicações de alta confiabilidade
