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O sistema XRF automatizado para energia fotovoltaica

O sistema FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 mede continuamente a espessura da camada de camadas finas em substratos de grandes áreas, por exemplo, em fotovoltaicos. Os dispositivos desta série formam unidades modulares fáceis de instalar em linhas de produção. O X-RAY 5000 pode ser operado em atmosfera normal ou sob vácuo. Além disso, o dispositivo é projetado para ser de fácil manutenção: a cabeça de medição pode ser reparada sem ter que liberar o vácuo.

Se o produto se mover ou inchar durante a fabricação, pode distorcer os resultados da medição. Por esse motivo, o software WinFTM da Fischer também possui uma função integrada para compensação de distância, que pode compensar flutuações de até 1 cm sem a necessidade de sensores de distância adicionais.

Características

  • Medição contínua em processos em execução com conexão a sistemas de controle de produção
  • Uso flexível: para medições em vácuo ou ar; para amostras de temperaturas de até 400 ° C
  • Opcionalmente disponível com refrigeração a água
  • Design e construção particularmente robustos para medições precisas de forma sustentável sob condições adversas
  • Excepcionalmente bem adequado para medição de espessura de revestimento e análise de material em produtos com grandes superfícies
  • Fonte de raios X, detector e filtro primário podem ser selecionados pelo cliente
  • Sistemas em conformidade com DIN ISO 3497 e ASTM B 568

Aplicações

  • Espessura das camadas CIGS, CIS, CdTe e CdS na indústria solar
  • Camadas finas com apenas alguns µm de espessura em tiras de metal, folhas metálicas e folhas de plástico
  • Composição das camadas CIGS, CIS, CdTe e CdS em fotovoltaicos
  • Controle da espessura do revestimento em produção contínua
  • Monitoramento do processo em instalações de sputter e galvanoplastia

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