XDL / XDLM / XDAL

Com eixos acionados por motor (opcional) e direção de medição descendente, os instrumentos de medição da gama XDL® permitem testes de série automatizados. Uma variedade de versões, diferindo na fonte de raios X, filtro, Abertura e detetor, possibilitam a seleção do dispositivo de raios X com a configuração que melhor se adequa à sua tarefa de medição específica.

Série XDL

Características:

  • Instrumentos de fluorescência de raios X, para uma variedade de tarefas de medição, permitem diferentes componentes de hardware
  • Também adequado para teste de placas de circuito impresso montadas ou peças com indentações, devido à distância de medição variável (até 80 mm)
  • Teste de série automatizado com mesa XY e eixo Z (opcional) programável
  • Ideal para a medição de camadas muito finas utilizando o detetor de desvio de silicone com elevada resolução energética (dipositivo XDAL)

Aplicações:

Medição de espessura de revestimento

  • Medição de revestimentos em placas de circuito amplas e flexíveis (placas de circuito impresso flexíveis)
  • Camadas finas de condução e/ou separação nas placas de circuito
  • Revestimentos em componentes de três dimensões
  • Revestimentos de crómio, por exemplo, itens plásticos com acabamento em crómio decorativo

Análise de material

  • Análise de banhos de eletrogalvanização
  • Análise de revestimentos funcionais na indústria eletrónica e de semicondutores
  • Análise de revestimentos de material rígido, por exemplo, CrN, TiN ou TiCN

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