Na fabricação de painéis solares de película fina ou folhas (por exemplo, CIS / CIGS, CdTe), é crucial manter os limites especificados de espessura e composição exatamente, pois isso afeta diretamente a eficiência do painel. Somente com um sistema de medição em linha preciso, rápido e confiável, os parâmetros de produção podem ser monitorados continuamente e, assim, a qualidade dos processos de revestimento garantida.
Um sistema fotovoltaico de filme fino (PV) típico é composto por uma pilha bastante complexa de camadas revestidas em substratos como vidro ou folhas. Conforme os fabricantes se esforçam para desenvolver produtos CdTe / CIS / CIGS confiáveis e de baixo custo, alguns de seus problemas mais críticos são:
- eficiências de módulo cada vez maiores
- camadas absorventes cada vez mais finas de menos de 1 µm
- estequiometria de filme absorvente consistente e uniformidade em grandes áreas </ ul >
É aqui que a tecnologia de medição não destrutiva e madura, como a fluorescência de raios X (XRF), ajuda a melhorar a uniformidade e a estequiometria - e, portanto, a eficiência celular e o rendimento de produção. O FISCHERSCOPE® X-RAY 5400 permite a medição precisa e precisa da espessura da camada e composição em sistemas CIS / CIGS / CdTe complexos, para controle de qualidade inline contínuo em vários estágios durante a produção.
Como os cabeçotes de raios-X são montados por meio de interfaces padrão resfriadas no sistema de câmara de vácuo, eles podem até mesmo ser usados em máquinas de produção sob condições em que as temperaturas do substrato se aproximam de 500 ° C.
O movimento e a protuberância do produto podem ocorrer durante o processo de produção, o que faz com que a distância entre a amostra e o cabeçote de medição flutue. Para evitar efeitos de falsificação, o software WinFTM® da FISCHER usa informações já contidas nos espectros de XRF medidos, alcançando compensação de distância confiável sem quaisquer peças móveis e, assim, evitando a necessidade de sensores de distância secundários.
Com o recurso de compensação de distância ativado, a distância de medição pode ser alterada em até +/- 5 mm sem afetar significativamente as leituras de medição.
A qualidade da produção de células solares de filme fino pode ser monitorada com precisão e precisão usando a tecnologia XRF. O cabeçote de medição de raios X em linha especialmente projetado da FISCHER, FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, também atende a todos os requisitos de robustez de ambientes de produção ao vivo. Para obter mais informações, entre em contato com o representante local da FISCHER.