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Medição de revestimentos Cr / Ni / Cu em substratos de plástico

Chrome Plating Measurement

Os acessórios do banheiro são geralmente acabados com um revestimento decorativo de cromo. Mas o que pode parecer um chuveiro de metal sólido, por exemplo, geralmente é apenas um revestimento de metal com várias camadas sobre um substrato de plástico. Para garantir que o chuveiro não fique bonito apenas quando entregue, mas mesmo depois de muitos anos de uso, a espessura de cada camada individual deve ser controlada para garantir a qualidade.

A composição típica de tais chuveiros é um sistema de revestimento de cromo / níquel / cobre sobre um substrato de plástico. O acabamento externo decorativo em cromo tem geralmente apenas 0,5 µm de espessura (ou menos) e a camada de níquel cerca de 5-10 µm. Se a camada de cobre estiver entre 20-25 µm, tornando a espessura total do revestimento não superior a 30 µm, a medição não destrutiva usando o método de fluorescência de raios-X (XRF) é possível.

Para este tipo de aplicação, os instrumentos de fluorescência de raios-X com tubo contador proporcional são perfeitamente adequados. Mesmo com pequenos pontos de medição, taxas de contagem suficientemente altas podem ser obtidas devido à grande área do detector, garantindo uma boa precisão de repetibilidade. Por causa da grande câmara de medição facilmente acessível, os instrumentos robustos da família FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® são adequados para grandes amostras com formas complexas.

Para maximizar a precisão dos resultados, o posicionamento adequado do objeto é essencial, por exemplo, escolhendo uma área intrinsecamente horizontal ou alinhando corretamente a amostra. Para auxiliar nesta etapa crucial, os sistemas de medição FISCHERSCOPE® X-RAY são equipados com um apontador laser como auxílio de posicionamento e óptica de câmera de alta ampliação. Usando a imagem de vídeo gerada pelo software WinFTM®, o foco exato necessário do ponto de medição pode ser alcançado.

Resultados típicos de uma medição de raios-X, coletados usando um FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® com um tempo de medição de 30 segundos para quatro ciclos de medição por ponto.

Ponto de medição

1

2

3

4

5

Valor médio de Cr

0,17

0,17

0,17

0,17

0,16

Desvio padrão

0,003

0,005

0,005

0,004

0,005

Valor médio de Ni

7,24

7,40

7,10

7,29

7,21

Desvio padrão

0,07

0,04

0,10

0,11

0,07

Valor médio de Cu

21,40


21,90


22,10


20,10


20,60

Desvio padrão

0,25


0,39


0,29


0,29


0,26

Para determinar a espessura de placas decorativas de Cr / Ni / Cu em substratos de plástico com uma espessura de revestimento total máxima de aproximadamente 30 µm, os sistemas de medição de tubo de contador proporcional de baixo custo da família FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® são a solução ideal. Para medir revestimentos mais espessos, instrumentos que empregam o método Coulométrico (destrutivo) também estão disponíveis como alternativa. Para obter mais informações, entre em contato com seu representante local da FISCHER.

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