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Semicondutores

Medição de alta precisão da espessura de revestimentos e análise de materiais de multicamadas e microestruturas ultra-finas

Como pode medir e analisar de forma fiável sistemas multicamadas ultra-finos e complexos e microestruturas, mantendo os mais elevados padrões de controlo de qualidade no fabrico de semicondutores?

Com os nossos instrumentos XRF, oferecemos-lhe soluções de elevado desempenho para uma medição precisa da espessura do revestimento e análise do material dos seus semicondutores de silício e compostos. Quer necessite de um sistema totalmente automatizado ou de um instrumento compacto de bancada, nós fornecemos-lhe a solução de medição correta - também para aplicações electrónicas!

Exija o melhor. Confie na FISCHER.

Líder de mercado em
desempenho da medição
Totalmente e parcialmente automatizado
soluções - adaptado às suas necessidades
O melhor software da sua classe
- intuitivo, eficiente, poderoso
Ótica policapilar para
tamanhos mínimos de pontos
Excelente
FISCHER serviço ao cliente
Fornecimento fiável de peças sobresselentes
com peças originais FISCHER

Aplicações

A nossa tecnologia de medição tem a confiança de numerosos clientes da indústria de semicondutores e eletrónica em todo o mundo. A fiabilidade, a eficiência e, acima de tudo, o desempenho de medição líder de mercado tornam os nossos instrumentos indispensáveis. Descubra a vasta gama de aplicações, desde o empacotamento de bolachas e o empacotamento avançado até aos semicondutores de alta potência e aplicações electrónicas, em que as nossas soluções proporcionam benefícios reais e mensuráveis.

Quadros de comando

Como componentes essenciais nos processos básicos de embalagem, os quadros de chumbo servem de suporte mecânico e de ligação eléctrica entre a matriz e as ligações externas de uma caixa. São frequentemente revestidos com multicamadas complexas. Estas incluem normalmente camadas de ouro e paládio com espessuras na ordem dos nanómetros, enquanto a camada de níquel tem normalmente vários micrómetros de espessura. É a estrutura em filigrana deste suporte de chumbo que torna as medições altamente propensas a erros e complica o controlo de qualidade. Descubra como pode enfrentar este desafio connosco!

Plataformas de aterragem

Nas tecnologias de empacotamento de semicondutores, servem como pontos de contacto básicos num chip, por exemplo, para fixar fios durante a ligação de fios ou para soldar saliências durante o empacotamento de flip chips. Uma vez que as almofadas de aterragem são feitas de metais como o alumínio, cobre ou níquel, são normalmente fornecidas com revestimentos de proteção ou passivação para evitar a corrosão e a difusão do metal. Está à procura de uma solução de medição rápida e fiável?

BGAs

Os conjuntos de grelhas de esferas (BGA) são um tipo de invólucro para circuitos integrados (IC) e microprocessadores utilizados para montagem em placas de circuito impresso. Oferecem uma elevada densidade de ligações, que são dispostas como uma matriz microscópica de esferas de solda por baixo da caixa. Descubra como as nossas soluções de medição avançadas tornam o teste de BGAs rápido e fiável!

UBM

A metalização de alta qualidade sob os ressaltos (UBM) é crucial para o desempenho e a fiabilidade das ligações dos chips flip. É normalmente aplicada às almofadas metálicas para garantir uma melhor soldabilidade e adesão dos pontos de soldadura mais tarde no processo. Além disso, o UBM forma uma camada de barreira contra a difusão de metal, melhorando assim a ligação entre o chip e o pacote. Está pronto para descobrir como as nossas soluções o ajudam a medir o seu UBM?

Soldas

Nos processos de flip chip ou de embalamento avançado, como as tecnologias de embalamento ao nível do wafer, 2,5D e 3D, são utilizados ressaltos de solda, ressaltos de pilar de cobre e ressaltos de ouro para ligar os chips ao substrato ou aos wafers num substrato (CoWoS). Para uma funcionalidade adequada e por razões de custo, a composição exacta do material - especialmente a concentração de SnAg - dos diferentes tipos de solavancos, bem como a espessura do revestimento, desempenham um papel importante. Explore as nossas soluções de medição para este desafio!

RDLs

As camadas de redistribuição (RDLs) são componentes críticos do empacotamento em nível de wafer (WLP), especialmente em tecnologias avançadas como o Wafer-Level Chip Scale Packaging (WLCSP). São utilizados para redistribuir as posições de ligação de um chip de modo a que se ajustem a uma disposição normalizada para diferentes designs de embalagem. Uma vez que as pistas condutoras nos RDLs são maioritariamente feitas de cobre, são também aplicadas camadas finas de titânio, crómio ou níquel para evitar a difusão do cobre nos materiais isolantes e para conseguir uma melhor adesão. Quer saber como as nossas soluções de medição o podem ajudar?

Metalização da parte traseira

A metalização da face posterior é uma etapa fundamental do processo de fabrico de semicondutores e sensores de alta potência, por exemplo, sensores MEMS. Ao selecionar cuidadosamente as camadas e a sua sequência de combinação, a metalização da face posterior pode ser adaptada de forma óptima aos requisitos específicos do respetivo componente semicondutor em termos de propriedades eléctricas, mecânicas e térmicas. Procura uma solução de medição para testar as suas metalizações da face posterior?

Contactos de mola / Pogo pins

Os pinos de pogo, ou pinos com mola, são mecanismos de ligação eléctrica colocados em bolachas para testes de bolachas utilizando cartões de sonda. Para obter resultados absolutamente fiáveis neste processo de teste, os revestimentos funcionais dos pinos de pogo têm de ser de alta qualidade. É aqui que os nossos dispositivos XRF entram em ação. Descubra como as nossas soluções de medição avançadas tornam o teste dos pinos de pogo fácil e preciso!

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As nossas soluções para os seus desafios

Principais aplicações

Metalização da face posterior, almofadas de aterragem, microplacas, rastreio RoHS

Os seus desafios

  • Medição de muitas ligas diferentes e multicamadas complexas
  • Medição de amostras pequenas e em grande escala
  • Análises de elementos vestigiais com limites de deteção muito baixos

Destaques dos nossos produtos

  • Vários tamanhos de colimadores até 3 mm e filtros para utilização universal
  • A mais alta precisão e medições curtas graças a componentes optimizados e geometria de medição
  • Mesa de medição programável para medições automatizadas
  • Software líder de mercado com fluxos de trabalho eficientes

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

Pontos mais pequenos, maior precisão.

Saiba mais

Principais aplicações

Quadros de chumbo, fios finos, pontos de solda, microplacas, componentes SMD, pinos de pogo, BGAs, UBMs, RDLs

Os seus desafios

  • Medição em microestruturas
  • Medição de amostras planas e multicamadas ultra-finas

Destaques dos nossos produtos

  • Várias opções de filtros, detectores e ópticas policapilares para pontos de medição mais pequenos e maior precisão
  • Caixa com ranhura em C para fácil manuseamento de amostras planas e de grande dimensão
  • Software líder de mercado para tarefas de medição exigentes

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

Pontos mais pequenos, maior distância de medição.

Mais informações

 

Principais aplicações

Placas de circuito impresso montadas, conectores, pinos de pogo

Os seus desafios

  • Lidar com diferentes tamanhos de amostras e formas complexas
  • Medição de amostras com montagens ou níveis diferentes
  • Medição em microestruturas
  • Medição de multicamadas ultra-finas

Destaques dos nossos produtos

  • Medição das mais pequenas caraterísticas em amostras de formas complexas graças à nossa ótica policapilar única de 35 µm com grande distância de medição, por exemplo, para wafers com potenciais deformações
  • Caixa com ranhura em C para fácil manuseamento de amostras planas e de grande dimensão
  • Software líder de mercado para tarefas de medição exigentes

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER

Tecnologia de ponta para aplicações de wafer.

Saiba mais

 

Principais aplicações

Solda, pilares de cobre, ouro, pequenas superfícies de contacto, microplacas, UBMs, RDLs

Os seus desafios

  • Medição de filmes finos e microestruturas em wafers com diâmetros de 6'' a 12''
  • Lidar com wafers com potenciais deformações
  • Cumprir os requisitos de sala limpa

Destaques dos nossos produtos

  • Várias opções de detetor e ótica policapilar para maior precisão em camadas finas
  • Mandril de wafer a vácuo ou manuseio personalizado de wafer com achatamento mecânico
  • Extensas opções de automação com software líder de mercado

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI

Primeira escolha para medição automatizada de bolachas.

Saiba mais

Principais aplicações

Solda, pilares de cobre, ouro, pequenas superfícies de contacto, microplacas, UBMs, RDLs

Os seus desafios

  • Automatização do seu processo de medição de bolachas
  • Gerir um elevado rendimento
  • Lidar com wafers com potenciais deformações
  • Cumprir os requisitos de sala limpa

Destaques dos nossos produtos

  • Sistema de medição totalmente automatizado com FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER integrado e sistema automatizado de manuseamento de bolachas
  • Várias opções de detetor e ótica policapilar para maior precisão em camadas finas
  • Software líder de mercado para aumentar a sua eficiência

SOLUÇÕES PERSONALIZADAS

A solução certa para a sua tarefa de medição.

Construção de sistemas personalizados a pedido, totalmente ou semi-automatizados. À medida da sua aplicação, implementamos etapas adicionais do processo, como o achatamento mecânico de wafers. Ao trabalhar em conjunto com parceiros de integração locais, evitamos longos prazos de entrega.

Também oferecemos outros métodos de medição para além do XRF. Para mais informações, contacte-nos diretamente.