Semicondutores

Medição de alta precisão da espessura de revestimentos e análise de materiais de multicamadas e microestruturas ultra-finas
Como pode medir e analisar de forma fiável sistemas multicamadas ultra-finos e complexos e microestruturas, mantendo os mais elevados padrões de controlo de qualidade no fabrico de semicondutores?
Com os nossos instrumentos XRF, oferecemos-lhe soluções de elevado desempenho para uma medição precisa da espessura do revestimento e análise do material dos seus semicondutores de silício e compostos. Quer necessite de um sistema totalmente automatizado ou de um instrumento compacto de bancada, nós fornecemos-lhe a solução de medição correta - também para aplicações electrónicas!
Exija o melhor. Confie na FISCHER.
desempenho da medição
soluções - adaptado às suas necessidades
- intuitivo, eficiente, poderoso
tamanhos mínimos de pontos
FISCHER serviço ao cliente
com peças originais FISCHER
Aplicações
A nossa tecnologia de medição tem a confiança de numerosos clientes da indústria de semicondutores e eletrónica em todo o mundo. A fiabilidade, a eficiência e, acima de tudo, o desempenho de medição líder de mercado tornam os nossos instrumentos indispensáveis. Descubra a vasta gama de aplicações, desde o empacotamento de bolachas e o empacotamento avançado até aos semicondutores de alta potência e aplicações electrónicas, em que as nossas soluções proporcionam benefícios reais e mensuráveis.

Quadros de comando
Como componentes essenciais nos processos básicos de embalagem, os quadros de chumbo servem de suporte mecânico e de ligação eléctrica entre a matriz e as ligações externas de uma caixa. São frequentemente revestidos com multicamadas complexas. Estas incluem normalmente camadas de ouro e paládio com espessuras na ordem dos nanómetros, enquanto a camada de níquel tem normalmente vários micrómetros de espessura. É a estrutura em filigrana deste suporte de chumbo que torna as medições altamente propensas a erros e complica o controlo de qualidade. Descubra como pode enfrentar este desafio connosco!
Resolva-o com a FISCHER!
Os nossos dispositivos XRF policapilares, como o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, são perfeitamente adequados para a medição da espessura do revestimento nos condutores individuais de estruturas de chumbo.
Principais aplicações: Medição da espessura do revestimento de Au/Pd/NiP/CuFe e outras multicamadas comuns
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Plataformas de aterragem
Nas tecnologias de empacotamento de semicondutores, servem como pontos de contacto básicos num chip, por exemplo, para fixar fios durante a ligação de fios ou para soldar saliências durante o empacotamento de flip chips. Uma vez que as almofadas de aterragem são feitas de metais como o alumínio, cobre ou níquel, são normalmente fornecidas com revestimentos de proteção ou passivação para evitar a corrosão e a difusão do metal. Está à procura de uma solução de medição rápida e fiável?
Resolva-o com a FISCHER!
O nosso inovador FISCHERSCOPE® XDV® e o nosso instrumento especializado comprovado FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD estão particularmente bem estabelecidos para a inspeção de qualidade fiável de plataformas de aterragem. Naturalmente, os nossos outros instrumentos XRF, como o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ ou o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER, também são perfeitamente adequados para esta aplicação.
Principais aplicações: Medição da espessura do revestimento de Au/Pd/NiP/Cu/substrato de wafer, análise de materiais
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BGAs
Os conjuntos de grelhas de esferas (BGA) são um tipo de invólucro para circuitos integrados (IC) e microprocessadores utilizados para montagem em placas de circuito impresso. Oferecem uma elevada densidade de ligações, que são dispostas como uma matriz microscópica de esferas de solda por baixo da caixa. Descubra como as nossas soluções de medição avançadas tornam o teste de BGAs rápido e fiável!
Resolva-o com a FISCHER!
Descubra o verdadeiro significado da inspeção de qualidade de alta precisão com o nosso FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ! Analise a composição do material das suas ligas BGA - incluindo a verificação do seu estado sem chumbo - de forma rápida, precisa e fiável.
Principais aplicações: Análise de material de SnPb, SnAgCu
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UBM
A metalização de alta qualidade sob os ressaltos (UBM) é crucial para o desempenho e a fiabilidade das ligações dos chips flip. É normalmente aplicada às almofadas metálicas para garantir uma melhor soldabilidade e adesão dos pontos de soldadura mais tarde no processo. Além disso, o UBM forma uma camada de barreira contra a difusão de metal, melhorando assim a ligação entre o chip e o pacote. Está pronto para descobrir como as nossas soluções o ajudam a medir o seu UBM?
Resolva-o com a FISCHER!
Para a medição fiável de sistemas multicamada extremamente finos e complexos, como UBM, oferecemos os nossos instrumentos de bancada semi-automatizados FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ e FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER, bem como o nosso sistema topo de gama totalmente automatizado FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI. Com os nossos instrumentos XRF, pode cumprir as tolerâncias mais reduzidas e garantir o melhor desempenho dos dispositivos electrónicos.
Principais aplicações: Medição da espessura do revestimento e análise de materiais de Au/Ni/Ti/substrato de almofada metálica/wafer, Au/Ni/Cu/Ti/substrato de almofada metálica/wafer, Pd/Ni/Cu/substrato de almofada metálica/wafer
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Soldas
Nos processos de flip chip ou de embalamento avançado, como as tecnologias de embalamento ao nível do wafer, 2,5D e 3D, são utilizados ressaltos de solda, ressaltos de pilar de cobre e ressaltos de ouro para ligar os chips ao substrato ou aos wafers num substrato (CoWoS). Para uma funcionalidade adequada e por razões de custo, a composição exacta do material - especialmente a concentração de SnAg - dos diferentes tipos de solavancos, bem como a espessura do revestimento, desempenham um papel importante. Explore as nossas soluções de medição para este desafio!
Resolva-o com a FISCHER!
Com os nossos instrumentos XRF topo de gama, como o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER e o FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI, mede com precisão a composição do material, a altura e a espessura do revestimento dos seus ressaltos.
Principais aplicações: Análise de material e medição da altura de saliências de solda e saliências de pilares de cobre com composições como Sn/Ag ou SnAg/Cu com Ag entre 1 % e 3 %, medição da espessura do revestimento de saliências de ouro como Au/Ni/Cu/UBM/almofada de metal/substrato de wafer
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RDLs
As camadas de redistribuição (RDLs) são componentes críticos do empacotamento em nível de wafer (WLP), especialmente em tecnologias avançadas como o Wafer-Level Chip Scale Packaging (WLCSP). São utilizados para redistribuir as posições de ligação de um chip de modo a que se ajustem a uma disposição normalizada para diferentes designs de embalagem. Uma vez que as pistas condutoras nos RDLs são maioritariamente feitas de cobre, são também aplicadas camadas finas de titânio, crómio ou níquel para evitar a difusão do cobre nos materiais isolantes e para conseguir uma melhor adesão. Quer saber como as nossas soluções de medição o podem ajudar?
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Meça os seus RDLs com elevada precisão e fiabilidade utilizando o nosso FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER ou FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI.
Principais aplicações: Análise de materiais e medição da espessura do revestimento de RDLs, por exemplo, Ti/Cu
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Metalização da parte traseira
A metalização da face posterior é uma etapa fundamental do processo de fabrico de semicondutores e sensores de alta potência, por exemplo, sensores MEMS. Ao selecionar cuidadosamente as camadas e a sua sequência de combinação, a metalização da face posterior pode ser adaptada de forma óptima aos requisitos específicos do respetivo componente semicondutor em termos de propriedades eléctricas, mecânicas e térmicas. Procura uma solução de medição para testar as suas metalizações da face posterior?
Resolva-o com a FISCHER!
Com o nosso inovador sucessor de bancada FISCHERSCOPE® XDV® ou com o nosso comprovado especialista FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, pode medir com precisão a espessura e a composição das suas metalizações traseiras e garantir a qualidade do seu processo de revestimento. Perfeitamente adequado à sua tarefa de medição e adaptado às suas necessidades, também oferecemos soluções personalizadas, por exemplo, os nossos mandris de wafer para medir camadas de metal mais espessas.
Principais aplicações: Medição da espessura do revestimento e análise do material de sistemas multicamadas comuns, por exemplo, Ag/Ni/Ti/Al/substrato de wafer
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Contactos de mola / Pogo pins
Os pinos de pogo, ou pinos com mola, são mecanismos de ligação eléctrica colocados em bolachas para testes de bolachas utilizando cartões de sonda. Para obter resultados absolutamente fiáveis neste processo de teste, os revestimentos funcionais dos pinos de pogo têm de ser de alta qualidade. É aqui que os nossos dispositivos XRF entram em ação. Descubra como as nossas soluções de medição avançadas tornam o teste dos pinos de pogo fácil e preciso!
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Meça os seus pinos de pogo com o nosso FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ ou FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD para contactos de mola com formas complexas.
Principais aplicações: Medição da espessura do revestimento, por exemplo, da liga Au/Ni/Cu
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As nossas soluções para os seus desafios

Principais aplicações
Metalização da face posterior, almofadas de aterragem, microplacas, rastreio RoHS
Os seus desafios
- Medição de muitas ligas diferentes e multicamadas complexas
- Medição de amostras pequenas e em grande escala
- Análises de elementos vestigiais com limites de deteção muito baixos
Destaques dos nossos produtos
- Vários tamanhos de colimadores até 3 mm e filtros para utilização universal
- A mais alta precisão e medições curtas graças a componentes optimizados e geometria de medição
- Mesa de medição programável para medições automatizadas
- Software líder de mercado com fluxos de trabalho eficientes

Principais aplicações
Quadros de chumbo, fios finos, pontos de solda, microplacas, componentes SMD, pinos de pogo, BGAs, UBMs, RDLs
Os seus desafios
- Medição em microestruturas
- Medição de amostras planas e multicamadas ultra-finas
Destaques dos nossos produtos
- Várias opções de filtros, detectores e ópticas policapilares para pontos de medição mais pequenos e maior precisão
- Caixa com ranhura em C para fácil manuseamento de amostras planas e de grande dimensão
- Software líder de mercado para tarefas de medição exigentes

Principais aplicações
Placas de circuito impresso montadas, conectores, pinos de pogo
Os seus desafios
- Lidar com diferentes tamanhos de amostras e formas complexas
- Medição de amostras com montagens ou níveis diferentes
- Medição em microestruturas
- Medição de multicamadas ultra-finas
Destaques dos nossos produtos
- Medição das mais pequenas caraterísticas em amostras de formas complexas graças à nossa ótica policapilar única de 35 µm com grande distância de medição, por exemplo, para wafers com potenciais deformações
- Caixa com ranhura em C para fácil manuseamento de amostras planas e de grande dimensão
- Software líder de mercado para tarefas de medição exigentes

Principais aplicações
Solda, pilares de cobre, ouro, pequenas superfícies de contacto, microplacas, UBMs, RDLs
Os seus desafios
- Medição de filmes finos e microestruturas em wafers com diâmetros de 6'' a 12''
- Lidar com wafers com potenciais deformações
- Cumprir os requisitos de sala limpa
Destaques dos nossos produtos
- Várias opções de detetor e ótica policapilar para maior precisão em camadas finas
- Mandril de wafer a vácuo ou manuseio personalizado de wafer com achatamento mecânico
- Extensas opções de automação com software líder de mercado

Principais aplicações
Solda, pilares de cobre, ouro, pequenas superfícies de contacto, microplacas, UBMs, RDLs
Os seus desafios
- Automatização do seu processo de medição de bolachas
- Gerir um elevado rendimento
- Lidar com wafers com potenciais deformações
- Cumprir os requisitos de sala limpa
Destaques dos nossos produtos
- Sistema de medição totalmente automatizado com FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER integrado e sistema automatizado de manuseamento de bolachas
- Várias opções de detetor e ótica policapilar para maior precisão em camadas finas
- Software líder de mercado para aumentar a sua eficiência
A solução certa para a sua tarefa de medição.
Construção de sistemas personalizados a pedido, totalmente ou semi-automatizados. À medida da sua aplicação, implementamos etapas adicionais do processo, como o achatamento mecânico de wafers. Ao trabalhar em conjunto com parceiros de integração locais, evitamos longos prazos de entrega.
Também oferecemos outros métodos de medição para além do XRF. Para mais informações, contacte-nos diretamente.