XDV-µ

Modele serii XDV® są najbardziej wszechstronnymi spektrometrami XRF w portfolio FISCHER’a. Są wyposażone w detektory SDD o wysokiej czułości ponadto mogą być uzupełnione o różne filtry i przesłony. Dodatkowo spektrometry XDV-µ są dostarczane z lampami rentgenowskimi typu micro-focus. To sprawia, że są idealne do najbardziej wymagających zadań pomiarowych. Wykorzystując urządzenia XDV można na przykład analizować grubość i skład pierwiastkowy powłok o grubości zaledwie 5nm i struktury o rozmiarach jedynie 10 µm.

XDV-µ: Bardzo wydajne spektrometry XRF

Właściwości

  • Precyzyjny pomiar najcieńszych powłok z dużą powtarzalnością, dzięki wydajnym lampom rentgenowskim i czułym detektorom półprzewodnikowym SDD
  • Ekstremalnie solidna konstrukcja dla długotrwałych pomiarów seryjnych z ponadprzeciętną stabilnością długoterminową
  • XDV-µ LD z dużą odległością pomiarową (min. 12mm)
  • XDV-μ LEAD FRAME z opcjonalnym czyszczeniem helowym
  • Zaawansowana optyka polikapilarna pozwala skupić promieniowanie na niezwykle małych powierzchniach
  • Automatyczne pomiary seryjne z wykorzystaniem programowalnego stolika XY i osi Z (opcjonalne)
  • Szybkie i łatwe pozycjonowanie próbek ze wsparciem kamery wideo i wskaźnika laserowego

Zastosowania:

Pomiar grubości powłoki

  • Powłoki przeciw zużyciowe takie jak NiP na najmniejszych częściach zegarków
  • Bardzo cienkie powłoki z metali szlachetnych na widocznych mechanicznych elementach zegarków
  • Pomiary montowanych płytek PCB
  • Badanie metalizowanej bazy płytek pod BGA (pod metalizacja pod kulkami, UBM) w skali nanometrycznej
  • Pomiary C4 i mniejszych kulek BGA

Analiza materiałowa

  • Detekcja niechcianych substancji (np. metali ciężkich) w elektronice, opakowaniach i dobrach konsumenckich zgodnie z RoHS, WEEE, CPSIA i innymi normami
  • Analiza bardzo lekkich pierwiastków takich jak sód
  • Skład powłok funkcyjnych, na przykład określenie zawartości fosforu w powłokach NiP
  • Analiza złota i innych metali szlachetnych i ich stopów
  • Analiza cyny bezołowiowej na pręcikach miedzianych
  • Badanie składu pierwiastkowego C4 i mniejszych kulek BGA

Kontakt z FISCHER

Contact

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością sp.k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo
Poznań/Polska
Tel.: + 48 61 222 58 00
E-mail: info@ita-polska.com.pl
Formularz kontaktu online