XDL / XDLM / XDAL

Dzięki napędzanym osiom (opcja) i wykonywaniu pomiaru od góry do dołu przyrządy z serii XDL® umożliwiają wykonywanie zautomatyzowanych pomiarów seryjnych. Dostępne są wersje wyposażone w różne źródła promieniowania rentgenowskiego, filtry, przesłony i detektory, co pozwala dobrać przyrząd odpowiedni do konkretnego zastosowania.

Seria XDL

Właściwości:

  • Spektrometry fluorescencji rentgenowskiej z osprzętem umożliwiającym wykonywanie różnych pomiarów
  • Pozwala na pomiar przy zmiennej odległości (do 80 mm), dzięki czemu może być stosowany do badań zmontowanych płytek drukowanych lub części z wcięciami
  • Zautomatyzowany pomiar seryjny dzięki programowalnemu stolikowi XY i osi Z (opcja)
  • Doskonały do pomiaru bardzo cienki warstw za pomocą krzemowego detektora dryfowego o dużej rozdzielczości energetycznej (model XDAL)

Zastosowania:

Pomiar grubości powłoki

  • Pomiar grubości powłok na dużych i elastycznych płytkach drukowanych (PCB)
  • Cienkie warstwy przewodzące i/lub oddzielające na płytkach drukowanych
  • Powłoki na częściach trójwymiarowych
  • Powłoki chromowe, np. dekoracyjne wykończenie przedmiotów z tworzyw sztucznych

Analiza materiałowa

  • Analiza kąpieli elektrolitycznych
  • Analiza powłok funkcyjnych w przemyśle elektronicznym i półprzewodnikowym
  • Analiza powłok z materiałów twardych, np. CrN, TiN i TiCN

Kontakt z FISCHER

Contact

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością sp.k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo
Poznań/Polska
Tel.: + 48 61 222 58 00
E-mail: info@ita-polska.com.pl
Formularz kontaktu online

Informacje