X-RAY 4000

Przyrząd FISCHERSCOPE X-RAY 4000 został zaprojektowany z myślą o pomiarze grubości powłok i badaniach materiałowych w trakcie powlekania elektrolitycznego taśm. System został już zamontowany w ponad 300 zakładach różnej wielkości. Dzięki mechanizmowi szybkiego przemieszczania głowicy pomiar można wykonać w różnych punktach produktu. Modułowa konstrukcja systemu umożliwia optymalny dobór źródła i detektora promieniowania rentgenowskiego.

X-RAY 4000
Zintegrowany system do pomiaru powłok elektrolitycznych na taśmach
X-RAY 4000
Zintegrowany system do pomiaru powłok cewek

Właściwości:

  • Precyzyjne pomiary w trakcie produkcji: sprzęt i oprogramowanie są skonfigurowane tak, aby pomiar był możliwy
  • Krótki czas konfiguracji dzięki łatwości obsługi i automatycznej kalibracji
  • Dobór i regulacja źródła i detektora promieniowania rentgenowskiego gwarantują, że każdy pomiar zostanie wykonany w optymalnych warunkach
  • Elastyczność umożliwiająca integrację z różnymi systemami powlekania i wykonywanie pomiaru w zakresie od kilku milimetrów do metra

Zastosowania:

Pomiar grubości powłoki

  • Powłoki na taśmach tłoczonych i galwanizowanych, wykonane z Au, Ag, Pd, Ni, Cu itp.
  • Styki elektryczne na taśmach
  • Cewki ze stali ocynkowanej ogniowo i miedzi
  • Cienkie powłoki dla energetyki słonecznej

Kontakt z FISCHER

Contact

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością sp.k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo
Poznań/Polska
Tel.: + 48 61 222 58 00
E-mail: info@ita-polska.com.pl
Formularz kontaktu online