Fluorescencja rentgenowska

Energodyspersyjna rentgenowska analiza fluorescencyjna (XRFA), zgodnie z normami DIN ISO 3497 i ASTM B 568

Metoda pomiaru:

Podstawą rentgenowskiej analizy fluorescencyjnej jest zjawisko zachodzące, gdy atomy próbki materiału zostają wzbudzone przez pierwotne promieniowanie rentgenowskie. W wyniku tego następuje wybicie elektronów znajdujących się na wewnętrznych powłokach. Na ich miejsce przenoszą się elektrony z wyższych powłok.

Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.
Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.

W trakcie przejść generowane jest promieniowanie fluorescencyjne charakterystyczne dla konkretnego pierwiastka. Promieniowanie jest wykrywane przez detektor, pozwalając określić skład pierwiastkowy próbki.

Kontakt z FISCHER

Contact

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością sp.k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo
Poznań/Polska
Tel.: + 48 61 222 58 00
E-mail: info@ita-polska.com.pl
Formularz kontaktu online