Microresistiviteitsmethode
Bepaal nauwkeurig de koperdikte op printplaten.
De microweerstandsmethode is geschikt voor het meten van de dikte van elektrisch geleidende lagen op isolerende substraten volgens ISO 14571. De methode wordt vaak gebruikt om koperlagen op printplaten en meerlagige printplaten te controleren. Het voordeel van de methode is dat andere lagen of tussenlagen in de printplaten geen invloed hebben op de meting, zodat de dikte zelfs bij dunne lagen nauwkeurig kan worden bepaald.
Zo werkt de microweerstandsmethode.
Deze methode maakt gebruik van sondes met vier naalden in een rij aan de onderkant van de sonde. Wanneer de sonde op het oppervlak wordt geplaatst, vloeit er stroom tussen de twee buitenste naalden. De coating werkt als een elektrische weerstand waarover een spanningsval wordt gemeten met de twee binnenste naalden. De spanningsval en dus de weerstand nemen toe naarmate de dikte van de coating afneemt en omgekeerd.
Waar wordt dit proces gebruikt?
- Controle van kopercoatings op PCB's en meerlagige PCB's
Welke factoren kunnen de meting beïnvloeden?
Alle elektromagnetische meetmethoden zijn vergelijkend. Dit betekent dat het gemeten signaal wordt vergeleken met een karakteristiek die in het apparaat is opgeslagen. Om er zeker van te zijn dat het resultaat correct is, moet de karakteristiek worden aangepast aan de huidige omstandigheden. Dit wordt gedaan door het meetapparaat te kalibreren voor laagdiktemeting.
De juiste kalibratie maakt het verschil
Factoren die het meten van de laagdikte sterk kunnen beïnvloeden zijn voornamelijk: de specifieke weerstand van de koperlaag en indirect de temperatuur, de grootte van het meetoppervlak of geleidende pad en extra lagen op het koper.
Specifieke weerstand en temperatuur
Naast de laagdikte is ook de specifieke weerstand van het koper van invloed op de spanningsval tussen de meetnaalden. De weerstand kan verschillen afhankelijk van de legering en verwerking van het metaal. Bovendien varieert de weerstand bij verschillende temperaturen. Dit kan temperatuurcompensatie of kalibratie onder de meetomstandigheden noodzakelijk maken.
De grootte van het meetoppervlak
Voor smalle meetoppervlakken, bijv. geleidende paden, lopen de stromen anders dan voor brede objecten. Deze afwijking van de theoretische stromen leidt tot systematische fouten in de laagdiktemeting. Daarom zijn er sondespecifieke specificaties voor de minimale grootte van het monster of de minimale afstand tot de rand van het monster.
Extra lagen
Als er andere lagen op het koper zitten, zoals tin, wordt de laagdikte daarvan door de sonde gemeten in verhouding tot de koperdikte. Hoe groot de meetfout is, hangt af van de verhouding tussen de specifieke elektrische geleidbaarheid van koper en het coatingmateriaal.
Belangrijk
Om foutieve meetresultaten tegen te gaan, moet ook met de volgende invloeden rekening worden gehouden:
- Indrukfouten bij bijzonder zachte coatings (zoals fosfaatcoatings).
- Verstrooiingstoename door slijtage van de tasterpool; we raden aan om regelmatig controles uit te voeren.
Welke norm wordt hier toegepast?
Microweerstandsmethode volgens ISO 14571
Ontdek onze meetapparaten.
