FISCHERSCOPE® XDV®
Nieuw
met geoptimaliseerde meetgeometrie
monsterpositionering
gebruikersbegeleiding met FISIQ® X-software
Snelheid ontmoet precisie.
Ontworpen voor maximale snelheid, hoogste precisie en intuïtief gebruiksgemak – zo introduceren we de nieuwe generatie FISCHERSCOPE® XDV® XRF-instrumenten. Als een van onze high-end XRF-oplossingen is het instrument ontworpen voor het betrouwbaar meten van microstructuren. In combinatie met onze geavanceerde FISIQ® X software levert het apparaat uitstekende meetprestaties. Bovendien zorgen vereenvoudigde en efficiënte workflows voor soepele meetprocessen en een aanzienlijk hogere doorvoer in uw kwaliteitscontrole.
Supersnelle monsterpositionering.
Hoge snelheid Z-as, 6x sneller*
Snelle monsteropname.
Autofocus binnen 2 seconden – 14x sneller*
Geautomatiseerde bediening.
Geautomatiseerde of handmatige kap voor maximale flexibiliteit
Optimale monsterverlichting en beeldopname.
10x hogere* cameraresolutie en multizone LED-verlichting
* Vergeleken met FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.
Ongeëvenaarde hoge precisie en reproduceerbare resultaten.
Geoptimaliseerde meetgeometrie
Apparaatstatus altijd zichtbaar.
Intuïtief 180° statuslampje
Verbeterde gebruiksvriendelijkheid en gebruikersbegeleiding.
Nieuwe FISIQ® X software
Houd altijd alles in beeld met de hoge-resolutie overzichtscamera. Of het nu gaat om matte, glanzende of reflecterende oppervlakken - de multi-zone LED-verlichting onthult elk detail met precisie.
Kies tussen automatische en handmatige bediening, versterkt door een gemotoriseerde kap voor maximale flexibiliteit in uw meetworkflows.
Zie direct de status van het apparaat met intuïtieve statusverlichting: stand-by (blauw), klaar om te meten (groen) en actief meten (pulserend oranje).
Profiteer van een uitstekende meetnauwkeurigheid en krijg betrouwbare resultaten van hoge kwaliteit dankzij de geoptimaliseerde afstand tussen röntgenbuis, monster en detector.
Bereik snelle, uiterst nauwkeurige metingen met vereenvoudigde en efficiënte workflows, zelfs in de meest uitdagende toepassingen zoals waferanalyse.
Maak nu kennis met FISIQ® X - de eerste XRF software met AI technologie!
Kenmerken
Microfocusbuis met wolfraamanode, andere anoden op aanvraag verkrijgbaar
Siliciumdriftdetector 50 mm² voor de hoogste precisie op dunne lagen
Geautomatiseerde afzuigkap en programmeerbare meettafel voor geautomatiseerde metingen
4-voudig verwisselbare diafragma's en 6-voudig verwisselbare filters
Individuele goedkeuring als volledig beschermd instrument
FISIQ® X-software met AI-ondersteunde spectrummodus voor slimmere meetprocessen
Traploze meetafstand met meten van boven naar beneden
Tot 140 mm mogelijke hoogte van monsters
Toepassingsvoorbeelden
- Analyse van zeer dunne coatings, bijv. goud/palladium coatings van ≤ 50 nm (0,002 mils)
- Metingen van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, bijv. bepaling van de coatingdikte van goudlagen tot 2 nm (0,00008 mils) voor loodframes
- Meting van ultradunne coatings op silicium wafers
- Bepaling van coatings van lichte elementen op wafers (Al, Ti, NiP)
- Brandstofcel- en batterijfolies: metalen (Pt, Ir, Ce; Ni, Co, Mn) in organische matrix (koolstof)
- Goudanalyse met de hoogste eisen
- Meting van complexe meerlagige systemen
- Geautomatiseerde metingen, bijv. bij kwaliteitscontrole
Heb je nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Tutorialnotities
Productvideo's
Brochures
Tutorialnotities
Productvideo's
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Brochures
FISCHER Inzichten
Ontdek meer producten
