FISCHERSCOPE® XDAL®
Nieuw
met geoptimaliseerde meetgeometrie
monsterpositionering
gebruikersbegeleiding met FISIQ® X-software
Eenvoudige bediening, maximale snelheid en precisie.
Wanneer precisie grenzen verlegt, herdefinieert onze FISCHERSCOPE® XDAL® wat mogelijk is. De innovatieve opvolger van onze FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® is ideaal voor toepassingen op het gebied van dunne en zeer dunne coatings (< 0.05 μm) en voor materiaalanalyse in het ppm-bereik. U kunt kiezen tussen onze modellen XDAL® 650, uitgerust met onze krachtige 50 mm² siliciumdriftdetector, en XDAL® 620, uitgerust met een 20 mm² siliciumdriftdetector. Samen met onze geavanceerde FISIQ® X XRF-software zorgt deze hoogwaardige oplossing voor een soepel meetproces met meer gebruiksgemak, veiligheid en maximale doorvoer.
Supersnelle monsterpositionering.
Hoge snelheid Z-as: 6 keer sneller*
Snelle monsterdetectie.
Autofocus in minder dan 2 seconden – 14 keer sneller*
Geautomatiseerde bediening.
Automatische of handmatige kap voor maximale flexibiliteit
Optimale monsterverlichting en beeldopname.
10 keer hogere* cameraresolutie en multizone LED-verlichting
* Vergeleken met de FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
Ongeëvenaarde hoge precisie en reproduceerbare resultaten.
Geoptimaliseerde meetgeometrie
Apparaatstatus altijd zichtbaar.
Intuïtieve 180° statusverlichting
Verbeterde gebruiksvriendelijkheid en gebruikersbegeleiding.
Nieuwe FISIQ® X software
Grote onderdelen.
C-slot maakt meting van grote onderdelen mogelijk
Detailcamera met multi-zone LED-verlichting: optimale verlichting voor alle monsteroppervlakken (mat, glanzend, reflecterend).
Meet op jouw manier – automatisch of handmatig – ondersteund door een gemotoriseerde kap voor maximale flexibiliteit.
Een verbeterde afstand tussen de röntgenbuis, het monster en de detector zorgt voor maximale intensiteit en garandeert een ongeëvenaarde meetnauwkeurigheid - voor maximaal betrouwbare en hoogwaardige resultaten.
De LED-lichtlijst geeft in één oogopslag de status van het apparaat weer. Blauw licht geeft de stand-bymodus aan, groen geeft aan dat het apparaat klaar is om te meten en pulserend oranje geeft aan dat er een meting wordt uitgevoerd.
FISIQ® X: de moderne en eerste XRF-software met AI-ondersteunde spectrummodus. Verhoog uw productiviteit met vereenvoudigde en efficiënte workflows.
Kenmerken
Microfocusbuis met wolfraamanode, andere anoden op aanvraag verkrijgbaar
C-sleufbehuizing voor het meten van grotere monsters
Siliciumdriftdetector 20 mm² of 50 mm² voor de hoogste precisie op dunne lagen
4-voudig verwisselbare diafragma's en 6-voudig verwisselbare filters
Individuele goedkeuring als volledig beschermd instrument
FISIQ® X-software met AI-ondersteunde spectrummodus voor slimmere meetprocessen
Traploze meetafstand met meten van boven naar beneden
Tot 140 mm mogelijke hoogten van monsters
Geautomatiseerde kap en programmeerbare meettafel voor geautomatiseerde metingen
Toepassingsvoorbeelden
- Analyse van zeer dunne coatings van ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Metingen van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, bijv. op loodframes, connectoren of printplaten
- Meting van complexe meerlagige systemen
- Geautomatiseerde metingen, bijv. bij kwaliteitscontrole
- Bepalen van het loodgehalte in solderingen
- Bepaling van het fosforgehalte in NiP coatings
- Bepaling van PCB-afwerkingen
Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Productvideo's
Brochures
Productvideo's
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Brochures
FISCHER Inzichten.
Ontdek meer producten
