FISCHERSCOPE® XDAL®
Nieuw
snellere positionering
snellere autofocus
hogere cameraresolutie
¹ In vergelijking met FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237.
² Afhankelijk van het oppervlak van het monster.
Eenvoudige bediening, maximale snelheid en precisie.
De FISCHERSCOPE® XDAL® is ideaal voor toepassingen op het gebied van dunne en zeer dunne coatings < 0,05 μm en voor materiaalanalyses in het ppm-bereik. Het apparaat is uitgerust met de nieuwste generatie krachtige detectoren, een 50 mm² silicium driftdetector. De intuïtieve statusverlichting en de geautomatiseerde meetkap zorgen samen met de moderne FISIQ® X RF software voor een soepel meetproces - voor meer gebruiksgemak, veiligheid en maximale doorvoer.
Snelle Z-as.
Voor snelle positionering van je monsters
Autofocus onder 2 seconden.
Snelle acquisitie en scherpstelling van uw meetobject voor nog efficiëntere meetprocessen.
Overzichtscamera met hoge resolutie.
Houd een beter overzicht met scherpere en meer gedetailleerde beelden
Multi-zone LED-verlichting.
Altijd perfecte verlichting, ongeacht het oppervlak
Geautomatiseerde meetkap.
Handmatige of geautomatiseerde bediening voor maximale flexibiliteit
Geoptimaliseerde meetgeometrie.
Ongeëvenaarde meetnauwkeurigheid dankzij de grotere afstand tussen röntgenbuis, monster en detector.
Intuïtieve statusverlichting.
In één oogopslag de status van het apparaat
Detailcamera met multi-zone LED-verlichting: optimale verlichting voor alle monsteroppervlakken (mat, glanzend, reflecterend).
Gemotoriseerde kap die met een druk op de knop of softwarematig kan worden geopend en gesloten. Voor soepele en efficiënte processen.
Een verbeterde afstand tussen de röntgenbuis, het monster en de detector zorgt voor maximale intensiteit en garandeert een ongeëvenaarde meetnauwkeurigheid - voor maximaal betrouwbare en hoogwaardige resultaten.
De LED-lichtlijst geeft in één oogopslag de status van het apparaat weer. Blauw licht geeft de stand-bymodus aan, groen geeft aan dat het apparaat klaar is om te meten en pulserend oranje geeft aan dat er een meting wordt uitgevoerd.
FISIQ® X: de moderne en eerste XRF-software met AI-ondersteunde spectrummodus. Verhoog uw productiviteit met vereenvoudigde en efficiënte workflows.
Kenmerken
Microfocusbuis met wolfraamanode, andere anoden op aanvraag verkrijgbaar
C-sleufbehuizing voor geautomatiseerde metingen op grotere monsters
Siliciumdriftdetector 20 mm² of 50 mm² voor de hoogste precisie op dunne lagen
4-voudig verwisselbare diafragma's en 6-voudig verwisselbare filters
Type goedgekeurde volledige beveiliging
Software FISIQ® X met AI-ondersteunde spectrummodus voor slimmere meetprocessen
Traploze meetafstand met meten van boven naar beneden
Tot 140 mm mogelijke hoogten van monsters
Programmeerbare meettafel voor geautomatiseerde metingen
Toepassingsvoorbeelden
- Analyse van zeer dunne coatings van ≤ 0,1 μm (0,004 mils)
- Metingen van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, bijv. op loodframes, connectoren of printplaten
- Bepaling van complexe multi-coating systemen
- Geautomatiseerde metingen, bijv. bij kwaliteitscontrole
- Bepalen van het loodgehalte in soldeer
- Bepaling van het fosforgehalte in NiP coatings
- Bepaling van PCB-afwerkingen
Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Productvideo's
Brochures
Productvideo's
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®Brochures
Fischer Inzichten.
Ontdek meer producten.
