FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
precisie, zelfs met korte meettijden
met kleinste spotgrootte 10 µm (FWHM)
voor betrouwbaar meten van kleine structuren
1 Tot 50% betere prestaties: Aanzienlijk verbeterde standaarddeviatie en dus meetcapaciteit of aanzienlijk kortere meettijd in vergelijking van DPP naar DPP+.
² Hoogwaardige capillaire optiek gemaakt door Fischer - 's werelds enige fabrikant van röntgenfluorescentiemeetinstrumenten met een eigen productie van polycapillairen. Er zijn drie verschillende high-end polycapillairen beschikbaar - de juiste oplossing voor elk van uw toepassingen: 10 µm halo-vrij, 20 µm halo-vrij of 20 µm halo.
Geautomatiseerde XRF-kwaliteitscontrole van PCB's.
De FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB is een echte specialist voor betrouwbare kwaliteitscontrole van PCB's met röntgenfluorescentie. Dankzij een krachtige siliciumdriftdetector, microfocusbuis Ultra en polycapillaire optiek meet het XRF-instrument met een extreem kleine meetspot bij een zeer hoge intensiteit. Hierdoor kun je zelfs de dunste lagen betrouwbaar bepalen. De apparaten voldoen ook aan de IPC vereisten 4552 en 4556 voor ENIG en ENEPIG, evenals 4553A (zilver) en 4554 (tin).
Alle uitdagingen aan.
Betrouwbare en snelle resultaten voor ambitieuze meettaken
Volledig automatiseerbaar.
Laat uw instrument voor u werken
PCB-experts.
Gespecialiseerde meetoplossingen voor printplaten, voldoen aan IPC-normen
Meest geavanceerde polycapillaire optiek op de markt.
Onze in eigen huis geproduceerde polycapillaire optiek levert uitstekende meetresultaten bij korte meettijden.
Nauwkeurig en precies.
Positionering van het meetpunt op kleine structuren dankzij automatische beeldherkenning
Inbedrijfstelling.
Uiterst snel en eenvoudig
DPP+ digitale puls processor.
Kortere meettijden of verbetering van de standaardafwijking*.
*in vergelijking met de DPP
Kenmerken
Microfocusbuis Ultra met wolfraamanode voor nog betere prestaties op de kleinste spots; molybdeenanode optioneel
4-voudig verwisselbare filters
Tot 10 mm mogelijke hoogte van monsters
Polycapillaire optiek maakt bijzonder kleine meetpunten mogelijk met korte meettijden bij hoge intensiteit
Meetspot ca: Ø 10 of 20 µm (FWHM)
Zeer nauwkeurige, programmeerbare meettafel voor printplaten tot 610 x 610 mm, optioneel met vacuümopspanning
Siliciumdriftdetector met 20 of 50 mm² voor de hoogste precisie op dunne films
DPP+ voor de hoogste precisie, zelfs bij korte meettijden
Toepassingsvoorbeelden
- Meten aan de kleinste vlakke componenten en structuren op printplaten tot 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Analyse van zeer dunne coatings, zoals goud/palladium lagen van ≤ 3 nm of 10 nm
- Geautomatiseerde metingen zoals bij kwaliteitscontrole
- Met de 10 μm optie: Meten met kleinste meetspot in combinatie met een grote silicium driftdetector
- Met de vacuümtafel optie: Meten op flexibele printplaten
- Volledig in overeenstemming met IPC standaarden 4552 en 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (zilver) en 4554 (tin)
Hebt u nog andere toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Toepassingsadviezen
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MBLesmateriaal
Webinars
Brochures