FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

Product kan variëren op basis van model of functies

 

Kleinste meetspot, grootste meetafstand.

Veeleisende meettaken met polycapillairen: High-end XRF-meetapparaat met polycapillaire röntgenoptiek voor metingen aan de kleinste componenten met de kleinste meetspot en de grootste meetafstand.

Tot 50% ¹ toegenomen
prestaties dankzij DPP+
60 µm
kleinste spotgrootte
12 mm
Grootste meetafstand - de beste in zijn klasse!
¹ Meer tonen
Minder tonen

¹ Significant verbeterde standaarddeviatie en dus meetcapaciteit of significant kortere meettijd vergeleken met DPP met DPP+.

 

Prestaties op zijn best.

Het hoogtepunt voor complex gevormde kleine testonderdelen. De ongeëvenaarde meetafstand in combinatie met de kleinste meetspot en de microfocusbuis Ultra voor hogere prestaties maken van de FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD het toonaangevende XRF-instrument in de sector.

Alle uitdagingen aan.

Betrouwbare en snelle resultaten voor ambitieuze metingen

Meest geavanceerde polycapillaire optiek op de markt.

Onze in eigen huis geproduceerde polycapillaire optiek levert uitstekende meetresultaten met korte meettijden.

Nauwkeurig en precies.

Positionering van het meetpunt op kleine structuren dankzij automatische beeldherkenning

Volledig automatiseerbaar.

Laat je instrument voor je werken met slechts één klik

DPP+ digitale puls processor.

Kortere meettijden of verbetering van de standaardafwijking*.

*in vergelijking met de DPP

  • Kenmerken

      Microfocusbuis Ultra met wolfraamanode voor nog betere prestaties op de kleinste spots; molybdeenanode optioneel

      Verwisselbaar filter

      Hogere telsnelheden en aanzienlijk kortere meettijden dankzij DPP+

      Polycapillaire optiek maakt bijzonder kleine meetpunten mogelijk met korte meettijden met hoge intensiteit

      Meetspot ca: Ø 60 µm

      Bepaling van het metaalgehalte in galvaniseerbaden met bijbehorende accessoires

      Silicium driftdetector met 20 of 50 mm² actief gebied voor de hoogste precisie met dunne lagen

      Tot 135 mm mogelijke hoogte van monsters

  • Toepassingsvoorbeelden

      • Meten aan kleinste componenten en structuren zoals geassembleerde en complex gevormde PCB's, stekkercontacten, hechtgebieden, SMD-componenten of dunne draden
      • Meten van functionele lagen in de elektronica- en halfgeleiderindustrie
      • Bepalen van complexe meerlaagse systemen
      • Geautomatiseerd meten, zoals bij kwaliteitscontrole

      Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!

Toepassingsadviezen
Productvideo's
Lesmateriaal
Webinars
Brochures
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation

Fischer Inzichten.

Meetmethode.

Leer en ontdek hoe röntgenfluorescentieanalyse werkt.

Meer informatie
Diensten.

Wij bieden je alles wat je nodig hebt voor betrouwbare meetresultaten.

Meer informatie
Waarom Fischer.

Ervaar veel goede redenen die voor ons als bedrijf spreken.

Meer informatie

Ontdek meer producten.