FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
prestaties dankzij DPP+
Zelf geproduceerd en voortdurend verder ontwikkeld²
geschikt polycapillair optiek³
¹ Aanzienlijk verbeterde standaarddeviatie en dus meetcapaciteit of aanzienlijk kortere meettijd in vergelijking van DPP naar DPP+.
² Polycapillaire optiek, die voortdurend verder wordt ontwikkeld. Hoogwaardige capillaire optiek gemaakt door Fischer - 's werelds enige fabrikant van röntgenfluorescentiemeetinstrumenten met een eigen polycapillaire productie.
3 Drie verschillende high-end polycapillairen beschikbaar - de juiste oplossing voor elk van uw toepassingen: 10 µm halo-vrij, 20 µm halo-vrij of 20 µm halo.
Voor de hoogste eisen tot de kleinste µ.
De FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ instrumenten behoren tot de high-end röntgenfluorescentiemeetapparatuur van Fischer en zijn ideaal voor het meten van kleine structuren. Ze zijn uitgerust met de nieuwste generatie krachtige siliciumdriftdetectoren, microfocusbuizen Ultra en in eigen huis geproduceerde polycapillaire optiek. Door de hoge stralingsintensiteit worden meettijden drastisch verkort en zijn zeer nauwkeurige metingen op de kleinste meetpunten mogelijk.
Alle uitdagingen aan.
Betrouwbare en snelle resultaten voor ambitieuze metingen
Meest geavanceerde polycapillaire optiek op de markt.
Onze in eigen huis geproduceerde polycapillaire optiek levert uitstekende meetresultaten met korte meettijden.
Nauwkeurig en precies.
Positionering van het meetpunt op kleine structuren dankzij automatische beeldherkenning
Volledig automatiseerbaar.
Laat je instrument voor je werken met slechts één klik
DPP+ digitale puls processor.
Kortere meettijden of verbetering van de standaardafwijking*.
*in vergelijking met de DPP
Kenmerken
Microfocusbuis Ultra met wolfraamanode voor nog betere prestaties op de kleinste spots; molybdeenanode optioneel
Verwisselbaar filter
Hogere telsnelheden en aanzienlijk kortere meettijden dankzij DPP+
Polycapillaire optiek maakt bijzonder kleine meetpunten mogelijk met korte meettijden met hoge intensiteit
Meetspot ca: Ø 10 of 20 µm
Siliciumdriftdetector met 20 of 50 mm² actief gebied voor de hoogste precisie
Tot 135 mm mogelijke hoogte van monsters
Toepassingsvoorbeelden
- Meten op de kleinste, vlakke componenten en structuren zoals sporen, contacten of afleidingsframes
- Functionele lagen meten in de elektronica- en halfgeleiderindustrie
- Bepalen van complexe meerlaagse systemen
- Geautomatiseerd meten, zoals in kwaliteitscontrole
- Meten van lichte elementen, bijv. bepaling van fosforgehalte in elektroless nikkel onder goud en palladium (ENIG/ENEPIG)
Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Toepassingsadviezen
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN008 Thickness and composition of NiP on connectors or small structures on PCBs 0.56 MB AN032 Material analysis of solder bumps in the Integrated circuit (IC) packaging industry 0.57 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN098 Optimized for the electronics industry: Measuring ENIG and ENEPIG on a new level 1.46 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBProductvideo's
Lesmateriaal
Webinars
Brochures