FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
prestaties dankzij DPP+
veranderlijke diafragma's
verwisselbare filters
¹ Significant verbeterde standaarddeviatie en dus meetcapaciteit of significant kortere meettijd vergeleken met DPP met DPP+.
Röntgenfluorescentieanalyse voor universeel hoogste eisen.
De FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD is een van de krachtigste röntgenfluorescentie-instrumenten in het Fischer assortiment. Til uw meetprestaties naar een hoger niveau met dit topmodel: In combinatie met de in eigen huis ontwikkelde digitale puls-processor DPP+ kunnen nu nog hogere tellingssnelheden worden verwerkt, wat resulteert in kortere meettijden of een verbeterde herhaalbaarheid van uw meetresultaten.
Gebouwd om lang mee te gaan.
Robuust ontwerp voor bijzonder hoge eisen
Volledig automatiseerbaar.
Laat je apparaat voor je werken met slechts één klik
Snel meetontwerp.
Met een paar eenvoudige stappen is het monster geplaatst en klaar voor de meting. Geautomatiseerde metingen van vele onderdelen zijn mogelijk
Snel.
Dankzij korte meettijden bespaar je kostbare tijd
RoHS-analyse.
Bepaling van verontreinigende stoffen met hoge detectienauwkeurigheid en uitstekende prestaties
DPP+ digitale puls processor.
Kortere meettijden of verbetering van de standaardafwijking*.
*in vergelijking met de DPP
Kenmerken
Microfocusbuis met wolfraamanode
Siliciumdriftdetector 50 mm² met extra groot effectief oppervlak van 50 mm²
Bepaling van het metaalgehalte in galvaniseerbaden met bijbehorende accessoires
Meetspot ca: Ø 0,25 mm
Hogere telsnelheden en aanzienlijk kortere meettijden dankzij DPP+
Type goedgekeurde volledige beveiliging
Tot 140 mm mogelijke hoogte van monsters
4-voudig verwisselbare diafragma's en 6-voudig verwisselbare filters
Toepassingsvoorbeelden
- Meten van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, bijv. bepalen van de dikte van goudcoatings tot 2 nm
- Analyse van dunne en zeer dunne coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, zoals goud/palladiumlagen van ≤ 0,1 μm
- Bepaling van complexe meerlagensystemen
- Laagdiktemeting voor fotovoltaïsche, brandstofcel- en batterijceltoepassingen
- Sporenanalyses van gevaarlijke stoffen zoals lood en cadmium volgens RoHS, WEEE, CPSIA en andere richtlijnen voor elektronica, verpakkingen en consumentenproducten
- Analyse en echtheidscontrole van goud en andere edelmetalen en edelmetaallegeringen
- Directe bepaling van het fosforgehalte in functionele NiP-lagen
- Bepaling van het metaalgehalte van galvaniseerbaden
Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Toepassingsadviezen
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards 0.48 MB AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable 0.52 MB AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters 0.58 MB AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories 0.51 MB AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification 0.75 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably 0.69 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBProductvideo's
Lesmateriaal
Webinars
Brochures