FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

Product kan variëren op basis van model of functies

 

De hoogwaardige allrounder.

Topmodel voor universeel gebruik voor de inspectie van zeer dunne of complexe lagen tot RoHS-screening bij zeer lage detectielimieten.

Tot 50% ¹ toegenomen
prestaties dankzij DPP+
4-voudig
veranderlijke diafragma's
6-voudig
verwisselbare filters
¹ Meer tonen
Minder tonen

¹ Significant verbeterde standaarddeviatie en dus meetcapaciteit of significant kortere meettijd vergeleken met DPP met DPP+.

 

Röntgenfluorescentieanalyse voor universeel hoogste eisen.

De FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD is een van de krachtigste röntgenfluorescentie-instrumenten in het Fischer assortiment. Til uw meetprestaties naar een hoger niveau met dit topmodel: In combinatie met de in eigen huis ontwikkelde digitale puls-processor DPP+ kunnen nu nog hogere tellingssnelheden worden verwerkt, wat resulteert in kortere meettijden of een verbeterde herhaalbaarheid van uw meetresultaten.

Gebouwd om lang mee te gaan.

Robuust ontwerp voor bijzonder hoge eisen

Volledig automatiseerbaar.

Laat je apparaat voor je werken met slechts één klik

Snel meetontwerp.

Met een paar eenvoudige stappen is het monster geplaatst en klaar voor de meting. Geautomatiseerde metingen van vele onderdelen zijn mogelijk

Snel.

Dankzij korte meettijden bespaar je kostbare tijd

RoHS-analyse.

Bepaling van verontreinigende stoffen met hoge detectienauwkeurigheid en uitstekende prestaties

DPP+ digitale puls processor.

Kortere meettijden of verbetering van de standaardafwijking*.

*in vergelijking met de DPP

  • Kenmerken

      Microfocusbuis met wolfraamanode

      Siliciumdriftdetector 50 mm² met extra groot effectief oppervlak van 50 mm²

      Bepaling van het metaalgehalte in galvaniseerbaden met bijbehorende accessoires

      Meetspot ca: Ø 0,25 mm

      Hogere telsnelheden en aanzienlijk kortere meettijden dankzij DPP+

      Type goedgekeurde volledige beveiliging

      Tot 140 mm mogelijke hoogte van monsters

      4-voudig verwisselbare diafragma's en 6-voudig verwisselbare filters

  • Toepassingsvoorbeelden

      • Meten van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, bijv. bepalen van de dikte van goudcoatings tot 2 nm
      • Analyse van dunne en zeer dunne coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, zoals goud/palladiumlagen van ≤ 0,1 μm
      • Bepaling van complexe meerlagensystemen
      • Laagdiktemeting voor fotovoltaïsche, brandstofcel- en batterijceltoepassingen
      • Sporenanalyses van gevaarlijke stoffen zoals lood en cadmium volgens RoHS, WEEE, CPSIA en andere richtlijnen voor elektronica, verpakkingen en consumentenproducten
      • Analyse en echtheidscontrole van goud en andere edelmetalen en edelmetaallegeringen
      • Directe bepaling van het fosforgehalte in functionele NiP-lagen
      • Bepaling van het metaalgehalte van galvaniseerbaden

      Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!

Toepassingsadviezen
Productvideo's
Lesmateriaal
Webinars
Brochures
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

Fischer Inzichten.

Meetmethode.

Leer en ontdek hoe röntgenfluorescentieanalyse werkt.

Meer informatie
Diensten.

Wij bieden je alles wat je nodig hebt voor betrouwbare meetresultaten.

Meer informatie
Waarom Fischer.

Ervaar veel goede redenen die voor ons als bedrijf spreken.

Meer informatie

Ontdek meer producten.