FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
ca. Ø 0,2 mm
3-voudig verwisselbare filters
voor een zeer goede detectienauwkeurigheid en hoge resolutie
XRF PCB-tests voor professionals.
De combinatie van een krachtige siliciumdriftdetector, multi-diafragma en verwisselbare filters maakt FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB instrumenten voorbestemd voor het meten van kleine structuren op printplaten.
PCB-experts.
Gespecialiseerde meetoplossingen voor printplaten, voldoen aan IPC-normen
Voldoen aan alle uitdagingen.
Betrouwbare en snelle resultaten voor ambitieuze meettaken
Volledig automatiseerbaar.
Laat uw instrument voor u werken
Programmeerbaar.
Geautomatiseerde metingen op vooraf gedefinieerde structuren dankzij geavanceerde patroonherkenningstechnologie
Inbedrijfstelling.
Uiterst snel en eenvoudig
Real-time overdracht, evaluatie en export van meetgegevens met WinFTM®, de krachtigste toepassingssoftware op de markt.
Met de intuïtieve serie PCB-instrumenten biedt Fischer gespecialiseerde meetoplossingen voor printplaten.
Universeel instrument voor het meten aan kleine structuren, multilagen, functionele coatings en dunne coatings < 0,1 μm.
Een uitstekende stabiliteit op lange termijn is kenmerkend voor alle FISCHERSCOPE® X-RAY instrumenten. Dit vermindert de inspanning voor kalibratie aanzienlijk en bespaart tijd en kosten.
Kenmerken
Microfocusbuis met wolfraamanode
Vaste, brede meettafel voor printplaten tot 610 × 610 mm, optioneel met meettafelverlenging 1200 x 900 mm of in geautomatiseerde versie, afhankelijk van apparaat
Meetspot ca: Ø 0,2 mm
4-voudig verwisselbare diafragma's en 3-voudig verwisselbare filters
Tot 10 mm mogelijke hoogte van monsters
Grote siliciumdriftdetector voor de hoogste precisie op dunne lagen
Toepassingsvoorbeelden
- Meten aan kleinste componenten en structuren op printplaten tot 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Meten van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie
- Analyse van zeer dunne coatings van ≤ 0,1 μm
- Bepaling van loodgehalte in soldeer
- Bepaling van complexe meerlaagse systemen
- Directe fosforbepaling van NiP coatings
- Voldoet aan ENIG/ENEPIG vereisten
Heeft u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Toepassingsadviezen
Tutorialnotities
Lesmateriaal
Webinars
Brochures
Toepassingsadviezen
Tutorialnotities
Lesmateriaal
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Webinars
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationBrochures
Fischer Inzichten.
Ontdek meer producten.
