FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
prestaties dankzij DPP+
voor snelle en eenvoudige positionering van de taster
gepatenteerde DCM-methode
¹ Aanzienlijk betere standaardafwijking en dus meetvermogen of aanzienlijk kortere meettijd in vergelijking DPP met DPP+.
Universele röntgenfluorescentieanalyse voor zeer dunne lagen.
De FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 is de universele XRF-analysator van Fischer voor de bepaling van dunne lagen, sporenelementen en legeringen. Bij top-downmetingen wordt het monster eenvoudig op de handmatig bediende schuiftafel geplaatst. Een laserpointer dient als positioneerhulp. Dit betekent dat zelfs monsters met complexe geometrieën nauwkeurig en eenvoudig geanalyseerd kunnen worden.
Veelzijdig.
Ideaal voor de elektronica- en halfgeleiderindustrie
RoHS-analyse.
Betrouwbare bepaling van gevaarlijke stoffen
Snel meetontwerp.
Het monster is in slechts enkele stappen geplaatst en klaar voor de meting.
Evenwichtig.
Optimale kosten-batenverhouding
DPP+ digitale pulsprocessor.
Kortere meettijden of verbetering van standaardafwijking*.
*in vergelijking met de DPP
Real-time overdracht, evaluatie en export van meetgegevens met WinFTM®, de krachtigste toepassingssoftware op de markt.
Nauwkeurige en snelle sporenanalyse voor consumentenbescherming, zoals loodgehalte in speelgoed.
Veelzijdig en ideaal voor een nog hogere resolutie dankzij de krachtige siliciumdriftdetector en het configureerbare diafragma.
Hoogste flexibiliteit voor een breed scala aan metingen: 4 verschillende diafragma's en 3 verschillende filters.
Kenmerken
Siliciumdriftdetector 50 mm² met extra groot effectief oppervlak van 50 mm²
4-voudig verwisselbare diafragma's en 3-voudig verwisselbare filters
Hogere telsnelheden en aanzienlijk kortere meettijden dankzij DPP+
Microfocusbuis met wolfraamanode
Tot 140 mm mogelijke hoogte van monsters
Meetspot ca: Ø 0,15 mm
Toepassingsvoorbeelden
- Analyse van dunne en zeer dunne coatings van ≤ 0,1 µm
- Meten van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, zoals op loodframes, stekkercontacten of PCB's
- Bepaling van complexe meerlagensystemen
- Bepalen van loodgehalte in soldeer
- Bepalen van fosforgehalte in NiP coatings
Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Toepassingsadviezen
Lesmateriaal
Webinars
Brochures
Toepassingsadviezen
Lesmateriaal
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®Webinars
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationBrochures
Fischer Inzichten.
Ontdek meer producten.
