FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
gepatenteerde DCM-methode
volledig gesloten systeem
automatisch
Röntgenfluorescentieanalyse voor hogere eisen.
Dun, dunner, XDAL®: Dankzij de microfocusbuis en diverse halfgeleiderdetectoren is de FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® serie ideaal voor toepassingen op het gebied van dunne en zeer dunne coatings < 0,05 μm en voor materiaalanalyses in het ppm-bereik. De instrumentversie met de 50 mm² silicium driftdetector is bovendien geschikt voor RoHS-metingen. De flexibele en dankzij diverse configuratiemogelijkheden (tafel, diafragma, filter en detector) universele XDAL® meet betrouwbaar, nauwkeurig en staat voor 100% veiligheid.
Inbedrijfstelling.
Uiterst snel en eenvoudig
Eén apparaat, vele mogelijkheden.
Laagdiktemeting, materiaalanalyse en sporenanalyse
Testen van meerdere meetpunten.
Zelfs bij grote monsters zijn meetpunten op het hele monsteroppervlak mogelijk.
Ook voor grote monsters.
Kap met C-sleuf
Volledig automatiseerbaar.
Laat je instrument voor je werken met slechts één klik
Compact ontwerp.
Zeer goed compromis tussen prestaties en benodigde ruimte
Kenmerken
Microfocusbuis met wolfraamanode
Meetspot ca: Ø 0,15 mm
Silicium-PIN en silicium-driftdetector voor zeer goede detectienauwkeurigheid en hoge resolutie
3-voudig verwisselbare filters
Type goedgekeurde volledige beveiliging
Bepaling van het metaalgehalte in galvaniseerbaden met bijbehorende accessoires
4-voudig verwisselbaar diafragma
Tot 140 mm mogelijke hoogten van monsters
Diverse meettafelopties
Toepassingsvoorbeelden
- Analyse van dunne en zeer dunne coatings van ≤ 0,05 μm
- Meten van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, zoals op loodframes, stekkercontacten of PCB's
- Bepaling van complexe meerlaagse systemen
- Geautomatiseerde metingen, zoals bij kwaliteitscontrole
- Bepaling van loodgehalte in soldeer
- Met versie SDD (20 mm² of 50 mm²):
- Bepaling van het fosforgehalte in NiP-lagen
- Voldoet aan ENIG/ENEPIG vereisten
Hebt u nog andere toepassingen? Neem dan contact met ons op!
Toepassingsadviezen
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MBProductvideo's
Lesmateriaal
Webinars
Brochures
Technische artikelen