FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

Product kan variëren op basis van model of functies

 

De beste detectoren voor dunne lagen.

Universeel instrument voor geautomatiseerd meten van dunne en zeer dunne lagen < 0,05 μm en voor materiaalanalyse in het ppm-bereik.

Aanpassing van de meetafstand door
gepatenteerde DCM-methode
Type goedgekeurd
volledig gesloten systeem
Volledig
automatisch

Röntgenfluorescentieanalyse voor hogere eisen.

Dun, dunner, XDAL®: Dankzij de microfocusbuis en diverse halfgeleiderdetectoren is de FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® serie ideaal voor toepassingen op het gebied van dunne en zeer dunne coatings < 0,05 μm en voor materiaalanalyses in het ppm-bereik. De instrumentversie met de 50 mm² silicium driftdetector is bovendien geschikt voor RoHS-metingen. De flexibele en dankzij diverse configuratiemogelijkheden (tafel, diafragma, filter en detector) universele XDAL® meet betrouwbaar, nauwkeurig en staat voor 100% veiligheid.

Inbedrijfstelling.

Uiterst snel en eenvoudig

Eén apparaat, vele mogelijkheden.

Laagdiktemeting, materiaalanalyse en sporenanalyse

Testen van meerdere meetpunten.

Zelfs bij grote monsters zijn meetpunten op het hele monsteroppervlak mogelijk.

Ook voor grote monsters.

Kap met C-sleuf

Volledig automatiseerbaar.

Laat je instrument voor je werken met slechts één klik

Compact ontwerp.

Zeer goed compromis tussen prestaties en benodigde ruimte

  • Kenmerken

      Microfocusbuis met wolfraamanode

      Meetspot ca: Ø 0,15 mm

      Silicium-PIN en silicium-driftdetector voor zeer goede detectienauwkeurigheid en hoge resolutie

      3-voudig verwisselbare filters

      Type goedgekeurde volledige beveiliging

      Bepaling van het metaalgehalte in galvaniseerbaden met bijbehorende accessoires

      4-voudig verwisselbaar diafragma

      Tot 140 mm mogelijke hoogten van monsters

      Diverse meettafelopties

  • Toepassingsvoorbeelden

      • Analyse van dunne en zeer dunne coatings van ≤ 0,05 μm
      • Meten van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, zoals op loodframes, stekkercontacten of PCB's
      • Bepaling van complexe meerlaagse systemen
      • Geautomatiseerde metingen, zoals bij kwaliteitscontrole
      • Bepaling van loodgehalte in soldeer
      • Met versie SDD (20 mm² of 50 mm²):
        • Bepaling van het fosforgehalte in NiP-lagen
        • Voldoet aan ENIG/ENEPIG vereisten

      Hebt u nog andere toepassingen? Neem dan contact met ons op!

Toepassingsadviezen
Productvideo's
Lesmateriaal
Webinars
Brochures
Technische artikelen
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

Fischer Inzichten.

Meetmethode.

Leer en ontdek hoe röntgenfluorescentieanalyse werkt.

Meer informatie
Diensten.

Wij bieden je alles wat je nodig hebt voor betrouwbare meetresultaten.

Meer informatie
Waarom Fischer.

Ervaar veel goede redenen die voor ons als bedrijf spreken.

Meer informatie

Ontdek meer producten.