FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

Lorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei Ipsum

Product kan variëren op basis van model of functies

 

Het systeem voor een breed scala aan toepassingen.

Universeel instrument voor metaal- en edelmetaalanalyse, coatingdiktemeting op eenvoudig gevormde monsters en RoHS-screening.

Diverse meettafelopties:
Vast of handmatig
RoHS-analyse:
Betrouwbare bepaling van gevaarlijke stoffen
Videomicroscoop voor handige
bepaling van de optimaal meetpunt

Het juiste XRF-apparaat voor elke toepassing.

PIN-detector, siliciumdriftdetector, vaste monstersteun of handmatig bediende XY-tafel: De FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® biedt veelzijdige toepassingen en wordt aangepast aan uw behoeften. Dit maakt nauwkeurige materiaalanalyse van edelmetalen en goudlegeringen, laagdiktemeting of sporenanalyse mogelijk. De instrumentversie met de 50 mm² siliciumdriftdetector is ook geschikt voor RoHS-metingen.

Veelzijdig.

Voor handel, industrie en laboratoriumtoepassingen

Snel meetontwerp.

Het monster is in slechts enkele stappen geplaatst en klaar voor de meting.

Inbedrijfstelling.

Uiterst snel en eenvoudig

RoHS-analyse.

Betrouwbare bepaling van gevaarlijke stoffen

DPP+ digitale pulse processor*.

Nog kortere meettijden met dezelfde standaardafwijking**

*niet met FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215
**in vergelijking met de DPP

  • Kenmerken

      Microfocusbuis met wolfraamanode

      Silicium PIN- en siliciumdriftdetectoren bieden een zeer goede detectienauwkeurigheid en hoge resolutie

      Hogere telsnelheden en aanzienlijk kortere meettijden dankzij DPP+

      Grotere kap: Van 90 tot 170 mm mogelijke hoogte van monsters, afhankelijk van apparaat

      Diafragma: vast of 4-voudig verwisselbaar*
      Primaire filters: vast of 6-voudig verwisselbaar*
      *afhankelijk van apparaat

      Type goedgekeurde volledige beveiliging

      Kleinste meetspot ca: Ø 0,3 mm

      Bepaling van het metaalgehalte in galvaniseerbaden met bijbehorende accessoires

  • Toepassingsvoorbeelden

      • Niet-destructieve analyse van tandheelkundige legeringen
      • Meerlaagse coatings
      • Analyse van functionele lagen vanaf 10 nm in de elektronica- en halfgeleiderindustrie
      • Sporenanalyses voor consumentenbescherming, zoals loodgehalte in speelgoed
      • Bepaling van metaallegeringen met de hoogste nauwkeurigheidseisen in de juwelenindustrie en raffinaderijen

      Hebt u nog meer toepassingen? Neem dan contact met ons op!

Toepassingsadviezen
Productvideo's
Lesmateriaal
Webinars
Brochures
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

Fischer Inzichten.

Meetmethode.

Leer en ontdek hoe röntgenfluorescentieanalyse werkt.

Meer informatie
Diensten.

Wij bieden je alles wat je nodig hebt voor betrouwbare meetresultaten.

Meer informatie
Waarom Fischer.

Ervaar veel goede redenen die voor ons als bedrijf spreken.

Meer informatie

Ontdek meer producten.