COULOSCOPE® CMS2 en CMS2 STEP
voor verschillende lagensystemen
volledige lagenstructuur
maximale mate van nauwkeurigheid
Coulometrische laagdiktemeting voor kwaliteitscontrole.
Boven een bepaalde coatingdikte bereikt het gebruik van röntgenfluorescentie om coatingdiktes niet-destructief te meten zijn grenzen. Dit is waar de COULOSCOPE® CMS2 om de hoek komt kijken. Gebruik de coulometrische methode om de laagdikte van bijna alle metalen coatings nauwkeurig en betrouwbaar te meten door elektrolytische laag verwijdering. Dit gebruiksvriendelijke tafelmodel biedt maximale flexibiliteit, omdat het gebruikt kan worden voor een breed scala aan coating-substraat combinaties.
Optimaal meetconcept.
Vooraf gedefinieerde meettaken voor verschillende coatingsystemen
Eenvoudige kalibratie.
Bereik de hoogste nauwkeurigheid
Individueel uitbreidbaar.
Uitgebreide accessoires maken praktisch werken en veilig opbergen mogelijk
Intuïtieve bediening.
Kleurenscherm en grafisch ondersteunde gebruikersbegeleiding
Maximale flexibiliteit.
Exacte laagdiktemeting van vrijwel elke coating-substraat-combinatie
Kenmerken
Grafische weergave van de spanningscurve bij de meetcel
Bijna 100 vooraf gedefinieerde meettaken voor verschillende coatingsystemen (zoals zink op ijzer of nikkel op messing)
De coating verwijderen volgens DIN EN ISO 2177
Eenvoudige gegevensoverdracht via USB-interface
Meetbereik: Afhankelijk van de coating-basismateriaalcombinatie en de verwijderingssnelheid 0,02 - 50 µm
Geheugen voor meetwaarde: 3000 in 50 toepassingen
Functies voor STEP-testmetingen volgens ASTM B764 - 04 en DIN EN 16866
Eenvoudige selectie van de onthechtingssnelheid (0,1 - 50 µm/min) en het onthechtingsoppervlak (0,6 - 3,2 mm Ø)
Meetmethode: Coulometrie door anodische stripping
Toepassingsvoorbeelden
- Meten van de laagdikte van bijna alle metalen, eenlaagse en meerlaagse coatings op bijna elk basismateriaal
- Kwaliteitscontrole van gegalvaniseerde coatings
- Bewaking van de resterende tinlaagdikte op PCB's
- STEP testmeting: meten van enkellaagse diktes en potentiaalverschillen in meerdere nikkellagen op koper, ijzer, aluminium of kunststof substraten (ABS)
Heeft u andere toepassingen? Neem dan contact met ons op!