FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Kenmerken
- Hoogwaardige universele XRF-analysator voor geautomatiseerde metingen van zeer dunne coatings (< 0,05 ฮผm) en voor fijne materiaalanalyse in het sub-mill-bereik volgens ISO 3497 en ASTM B 568
- Microfocus buis met wolfraam anode
- 4x veranderlijk diafragma voor optimale meetomstandigheden
- 6x verwisselbaar filter voor optimale excitatiecondities voor complexere taken
- Extreem krachtige silicium drift detector (SDD) met extra groot effectief oppervlak van 50 mmยฒ
- Digitale pulsprocessor DPP+ voor hogere telsnelheden, kortere meettijden of betere herhaalbaarheid van uw meetresultaten
- Analyse van elementen van Al(13) tot U(92)
- Monsterhoogten tot 14 cm
- Zeer nauwkeurige, programmeerbare XY-trap met positioneernauwkeurigheid van < 5 ยตm voor geautomatiseerde metingen aan kleine structuren
- DCM-methode voor eenvoudige en snelle aanpassing van de meetafstand
- Volledig beschermd instrument met typegoedkeuring volgens de huidige stralingsbeschermingswetgeving
Typische toepassingsgebieden
- Meting van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, b.v. bepaling van de laagdikte van goudlagen tot 2 nm
- Analyse van dunne en zeer dunne coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie, b.v. goud/palladium coatings van โค 0,1 ยตm
- Bepaling van complexe meerlagige systemen
- Diktemeting van coatings in de fotovoltaรฏsche industrie
- Sporenanalyse van gevaarlijke stoffen zoals lood en cadmium volgens RoHS, WEEE, CPSIA en andere richtlijnen voor elektronica, verpakkingen en consumentengoederen
- Analyse en echtheidscontrole van goud en andere edelmetalen, alsmede legeringen daarvan
- Directe bepaling van het fosforgehalte in functionele NiP coatings
De hoogwaardige allrounder
De FISCHERSCOPEยฎ X-RAY XDVยฎ-SDD is een van de krachtigste rรถntgenfluorescentie-instrumenten in het Fischer portfolio. Deze XRF spectrometer is uitgerust met een hoge-resolutie en krachtige silicium driftdetector (SDD) met een effectief oppervlak van 50 mmยฒ. Dit maakt het mogelijk om zelfs de dunste lagen nauwkeurig en niet-destructief te meten - bijv. goudcoatings van ongeveer 2 nm dik op lead frames.
In combinatie met de nieuwe, in eigen huis ontwikkelde digitale pulsprocessor DPP+, kunt u uw meetprestaties naar een nieuw level tillen. Zelfs hogere telsnelheden kunnen nu worden verwerkt, wat resulteert in kortere meettijden of een verbeterde herhaalbaarheid van uw meetresultaten. Tegelijkertijd is de XDV-SDD perfect geschikt voor niet-destructieve materiaalanalyse. De detectiegevoeligheid voor sporen van lood in kunststof is bijvoorbeeld ongeveer 2 ppm - enkele orden van grootte lager dan de waarden die worden vereist door RoHS of CPSIA.
Om ideale omstandigheden te creรซren voor elke XRF coatingdiktemeting, heeft de XDV-SDD verwisselbare collimatoren en primaire filters, waardoor op wetenschappelijk niveau kan worden gewerkt. Desondanks is het een uiterst robuuste apparaat wat met zijn intuรฏtieve bedieningspaneel eenvoudig te bedienen is via een joystick en knoppen. Het is speciaal ontworpen voor serieproeven in industrieel gebruik.
Onderzoek legeringen of edelmetalen betrouwbaar op de fijnste verschillen met de nieuwe FISCHERSCOPEยฎ X-RAY XDVยฎ-SDD. Verkrijg zeer nauwkeurige analyses, op basis waarvan u betrouwbare uitspraken kunt doen over de waarde van goudstaven, munten of sieraden
Onderzoek legeringen of edelmetalen betrouwbaar op de fijnste verschillen met de nieuwe FISCHERSCOPEยฎ X-RAY XDVยฎ-SDD. Verkrijg zeer nauwkeurige analyses, op basis waarvan u betrouwbare uitspraken kunt doen over de waarde van goudstaven, munten of sieraden.
Casestudies
