FISCHERSCOPE X-RAY XDL and XDLM
Functies
- Energiedispersieve röntgenfluorescentiespectrometer voor geautomatiseerde materiaalanalyse en niet-destructieve meting van de coatingdikte volgens ISO 3497 en ASTM B 568
- Kleinste meetspot van de XDLM: ca. 0,1 mm; kleinste meetspot XDL: ca. 0,2 mm
- Wolfraam röntgenbuis of microfocusbuis (XDLM) als röntgenbron
- Proportionele tellerbuisdetectoren voor snelle meting
- Vaste of verwisselbare collimators
- Vaste of automatisch verwisselbare primaire filters
- Verkrijgbaar met een handmatige of een programmeerbare XY-tafel
- Behuizing met sleuven voor het meten op grote printplaten
- Videocamera voor eenvoudig vaststellen van de meetlocatie
- Gecertificeerde apparaten met volledige bescherming
Toepassingen
- Gegalvaniseerde coatings zoals zink op ijzer als corrosiebescherming
- Serietests van in massa geproduceerde onderdelen
- Analyse van de samenstelling van speciale staalsoorten, bijv. detectie van molybdeen in A4
- Decoratieve chroomcoatings, bijvoorbeeld Cr/Ni/Cu/ABS
- Meting van functionele gouden coatings op printplaten zoals Au/Ni/Cu/PCB of Sn/Cu/PCB
- Coatings op connectoren en contacten in de elektronica-industrie zoals Au/Ni/Cu en Sn/Ni/Cu
Uw toegang tot de wereld van geautomatiseerde meting
De FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® en XDLM® spectrometers zijn nauw verwant aan de XUL -reeks. Alle hoofdcomponenten – zoals de detector, röntgenbuizen en filtercombinaties – zijn identiek. Maar er is een significant verschil: de XDL en XDLM -apparaten meten van boven naar beneden. En dat betekent een gemakkelijke analyse van niet-platte monsters – complexe vormen zijn geen probleem meer!
De top-down benadering heeft nog een voordeel: het zorgt voor gemakkelijke geautomatiseerde metingen. De XDL 240 en XDLM 237 zijn uitgerust met een programmeerbare monsterfase en zijn ideaal voor het scannen van oppervlakken. U kunt dus de dikte van lagen op grotere delen controleren of automatisch veel kleine onderdelen achter elkaar meten.
Net als bij de XUL -serie staat de 'M' in XDLM voor 'microfocus tube'. Dit betekent dat deze apparaten bijzonder geschikt zijn voor het analyseren van kleine monsters. Met een meetspot van slechts 0,1 mm doorsnede is de XDLM perfect voor de elektronica-industrie.
