FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Functies
- Universele rรถntgenfluorescentiespectrometer voor geautomatiseerde metingen op lagen <<0,0 5ฮผm en voor materiaalanalyse in het ppm-bereik volgens DIN ISO 3497 en ASTM B 568
- 3 verschillende detectoropties (Si-PIN diode; SDD 20 mmยฒ; SDD 50 mmยฒ)
- 3x verwisselbare primaire filters
- 4x verwisselbare collimatoren
- Kleinste meetspot ca. 0,15 mm
- Sample hoogtes tot 14 cm
- Programmeerbare XY-tafel met positioneringsnauwkeurigheid van 10 ฮผm
- Slotted behuizing voor het meten op grote printplaten
- Volledig beschermend, gecertificeerd apparaat
Toepassingen
- De materiaalanalyse van coatings en legeringen (ook dunne coatings en lage concentraties)
- Electronica-industrie, ENIG, ENEPIG
- Connectoren en contacten
- Goud-, juwelen- en horloge-industrie
- Meting van dunne (enkele nanometers) goud- en palladiumcoatings in PCB-productie
- Analyse van sporenelementen
- Bepaling van lood (Pb) voor zeer betrouwbare toepassingen (tin-whiskers vermijden)
- Analyse van harde materiaalcoatings
Rรถntgenfluorescentieanalyse voor geavanceerde eisen
De FISCHERSCOPEยฎ X-RAY XDALยฎ is het beste rรถntgenfluorescentiemeetinstrument van de XDL series. Net als zijn 'kleine broertjes', meet hij van boven naar beneden, wat het testen van zelfs vreemd gevormde monsters gemakkelijk maakt. Om de meetomstandigheden voor uw taak te optimaliseren, wordt de FISCHERSCOPE X-RAY XDAL geleverd met verwisselbare collimatoren en filters als standaarduitrusting.
Hoe veeleisender de meettaak, hoe belangrijker het type detector! De FISCHERSCOPE X-RAY XDAL biedt daarom 3 verschillende halfgeleiderdetectoren.
De silicium pindiode is een mid-range detector en zeer geschikt voor het meten van meerdere elementen over een relatief groot meetgebied. De XDAL wordt vaak gebruikt voor het inspecteren van harde materiaalcoatings.
De hoogwaardige siliciumddriverdetector (SDD) biedt een betere energieresolutie dan de silicium pindiode. Zo worden xdal spectrometers gebruikt voor het oplossen van complexe meettaken in de elektronica-industrie: bijvoorbeeld het meten van dunne legeringslagen, of materiaalanalyse van zeer vergelijkbare elementen zoals goud en platina. Dit is het vertrouwde XRF-instrument voor kwaliteitscontrole met ENIG- en ENEPIG-toepassingen.
Voor bijzonder zware uitdagingen biedt Fischer ook een SDD met een extra groot detectoroppervlak aan. De kracht van deze detector ligt in het vermogen om op betrouwbare wijze lagen te meten tot een bereik van slechts enkele nanometers, en om sporenanalyse te doen in het bereik van mills. Met deze XDAL -apparaten u het leadgehalte testen in soldeer die bedoeld is voor toepassingen met een hoge betrouwbaarheid om tin whiskers te voorkomen.
