Jump to the content of the page

Het juiste apparaat voor elke toepassing

Net zoals de XUL series zijn de FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®-instrumenten bij uitstek geschikt voor het analyseren van eenvoudig gevormde monsters. Een groot voordeel van de XAN -serie ligt echter in hun hoogwaardige halfgeleiderdetectoren. En röntgenfluorescentie stelt u in staat om niet alleen de dikte van coatings te meten, maar ook om de samenstelling van legeringen te analyseren (bijvoorbeeld koper). 

In totaal bestaat de XAN -serie uit 5 tafelmodellen XRF-spectrometers die een breed scala aan toepassingen bestrijken. De XAN 215 heeft een kosteneffectieve pindetector. Dit is ideaal voor eenvoudige coatingdikte taken, bijvoorbeeld zink op ijzer of Au/Ni/Cu. Voor complexere toepassingen met legeringen of edelmetalen raden we onze apparaten aan met een siliciumdriftdetector (bijvoorbeeld de XAN 220): Door zijn veel hogere resolutie kan hij op betrouwbare wijze onderscheid maken tussen goud en platina. En als je sporen van zware metalen en andere gevaarlijke stoffen moet detecteren, is de XAN 250 je oplossing.

Nog krachtiger dankzij DPP+ en grotere SDD

Met de XAN 220, XAN 222, XAN 250 en XAN 252 kunt u nu nog nauwkeuriger en sneller meten. Net als de GOLDSCOPE SD 520 en SD 550 zijn de instrumenten uitgerust met de nieuwste digitale pulsprocessor DPP+ - volledig in eigen beheer ontwikkeld door Fischer. Door het gebruik van de nieuwe processor in combinatie met de eveneens nieuw verkrijgbare, grotere siliciumdriftdetector (50 mm² effectief oppervlak), kunnen nog meer signalen uit het monster worden verwerkt. Dit resulteert in een uitstekende energieresolutie. Uw voordeel: verkort de meettijd tot 3 keer of verkleint de absolute standaardafwijking van de herhaalbaarheid met maximaal 45 %.

Functies

  • Universele röntgenfluorescentiespectrometers voor metaal- en edelmetaalanalyse, coatingdiktemeting en RoHS-screening volgens DIN ISO 3497 en ASTM B 568
  • Premium halfgeleiderdetectoren (PIN en SDD) zorgen voor een uitstekende detectienauwkeurigheid en hoge resolutie
  • XAN 250 en 252: voor het meten van lichtelementen zoals aluminium, silicium of zwavel 
  • Collimator: vast of 4 verwisselbare, kleinste meetspot ca. 0,3 mm
  • Primair filter: vast of 6 verwisselbare
  • Vaste monsterondersteuning of een handmatige XY-trap
  • Videocamera voor eenvoudige locatie van de beste meetsite
  • Up tot 17 cm monsterhoogte 

Toepassingen

  • Niet-destructieve analyse van tandlegeringen, zilvertest
  • Multilayer coatings
  • Analyse van functionele coatings van ten minste 10 nm dik in de elektronica- en halfgeleiderindustrie
  • Trace-analyse in consumentenbescherming, bijvoorbeeld het testen op de aanwezigheid van lood in speelgoed
  • Metaallegering volgens de hoogste nauwkeurigheidseisen in de sieradenindustrie en in raffinaderijen

Downloads

Naam Type Grootte Download
Jump to the top of the page