FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

Product kan variëren op basis van model of functies

 

Inline meting met de hoogste precisie voor dunne films.

Robuust XRF-instrument voor het meten en analyseren van dunne films en laagsystemen in het lopende proces met aansluiting op het productiecontrolesysteem.

Tot 50% ¹ toegenomen
prestaties dankzij DPP+
Robuust en onderhoudsarm
zonder bewegende delen
Meten in vacuüm ²
of in de lucht
¹ ² Meer tonen
Minder tonen

¹ Aanzienlijk verbeterde standaarddeviatie en dus meetcapaciteit of aanzienlijk kortere meettijd vergeleken met DPP naar DPP+.

² Alleen FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.

 

Continue en slimme kwaliteitscontrole.

De FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 serie is ontworpen voor maximale bedrijfstijd en overtuigt onder andere door een hoge mate van maatwerk en uitstekende meetprestaties - contactloos, niet-destructief en nauwkeurig. De apparaten van deze serie vormen modulaire eenheden, waardoor ze eenvoudig als pure componenten in een bestaande installatie kunnen worden geïnstalleerd.

Op maat gemaakt.

Eenvoudige integratie, individueel aanpasbaar aan uw toepassing

Breekt geen zweet uit.

Monstertemperaturen tot 250 °C (482 °F) dankzij waterkoeling.

DPP+ digitale pulsprocessor.

Kortere meettijden of verbetering van de standaardafwijking*.

*in vergelijking met de DPP

Robuust en betrouwbaar.

Geen bewegende delen

Compact ontwerp.

Meetkop met alle benodigde onderdelen in één unit

Geschikt voor vacuüm.

Kan gemonteerd worden op vacuümkamers

  • Kenmerken

      Microfocusbuis met wolfraamanode; molybdeenanode optioneel

      Vast diafragma (configureerbaar tot Ø 11 mm)

      Voor metingen in vacuüm of in de lucht

      Optioneel met waterkoeling voor monstertemperaturen tot 250 °C

      Siliciumdriftdetector 50 mm² voor de hoogste precisie

      Vast filter (configureerbaar)

      Peltierkoeling

      Hogere telsnelheden en aanzienlijk kortere meettijden dankzij DPP+

      Elke installatiepositie mogelijk

      Afstandsbediening en gegevensexport via TCP/IP-interface

  • Toepassingsvoorbeelden

      • Meten van dunne coatings en lage afzettingen op producten en substraten met een groot oppervlak, zoals brandstofcellen, op glaspanelen en zeer hete oppervlakken
      • Meten van de samenstelling en dikte van lagen in fotovoltaïsche systemen zoals CIGS, CIS, CdTe en CdS
      • Meten van dunne lagen van enkele µm op metalen strips, metaalfolies en plastic films
      • Procesbewaking van sputter- en galvaniseerapparatuur

      Hebt u nog andere toepassingen? Neem dan contact met ons op!

Fischer Inzichten.

Meetmethode.

Leer en ontdek hoe röntgenfluorescentieanalyse werkt.

Meer informatie
Diensten.

Wij bieden je alles wat je nodig hebt voor betrouwbare meetresultaten.

Meer informatie
Waarom Fischer.

Ervaar veel goede redenen die voor ons als bedrijf spreken.

Meer informatie

Ontdek meer producten.