NL
nl
Dutch
en
English
de
German
cn
Chinese (Simplified)
zh
Chinese (traditional)
th
Thai
it
Italian
ko
Korean
vi
Vietnamese
JP
Japanese
ES
Spanish
FR
French
PT
Portuguese
TR
Turkish
Contact
Worldwide
BRA
GER
UK
USA
Producten
XRF-instrumenten
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®/XUL®
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®
GOLDSCOPE SD®
GOLDSCOPE SD® 600
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500
FISCHERSCOPE® X-RAY MODULAR CHAMBER
WinFTM®
Kalibratiestandaarden
Accessoires
Tactiele meetapparaten
MP0® serie
DMP®10-40 serie
DUALSCOPE® FMP100 en H FMP150
SR-SCOPE® DMP®30
PHASCOPE® PMP10
PHASCOPE® PMP10 DUPLEX
COULOSCOPE® CMS2 en CMS2 STEP
FISCHERSCOPE® MMS® PC2
BETASCOPE®
SIGMASCOPE® SMP350
SIGMASCOPE® GOLD B en GOLD C
FERITSCOPE® DMP®30
Sondes
Fischer DataCenter
Tactile Suite®
Kalibratiestandaarden
Accessoires
Terahertz-systemen
TERASCOPE®
Tera Suite®
Meetapparatuur voor nano-indentatie
FISCHERSCOPE® HM2000
FISCHERSCOPE® HM2000 S
PICODENTOR® HM500
WIN-HCU®
Kalibratiestandaarden
Accessoires
Automatiseringsoplossingen
TERASCOPE®
FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 serie
FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 serie
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI
FISCHERSCOPE® XAN® LIQUID ANALYZER
FISCHERSCOPE® MMS® Automation
Speciale oplossingen
Kalibratiestandaarden
Accessoires
Röntgenoptiek
Polycapillaire optiek
Optiek voor speciale toepassingen
Toepassingen
Industrie
Galvanisch verzinken
Elektronica en halfgeleiders
Automotive
Goud, horloges en juwelen
Verven en vernissen
Bevestigingstechnologie
IJzer en staal
Huishouden en toebehoren
Lucht- en Ruimtevaart
Bouw en infrastructuur
Technische materialen
Eten en drinken
Marine- en transporttechnologie
Geneesmiddelen en farmaceutica
Olie, gas en petrochemie
Optica en fijnmechanica
Energie
Recycling
Textiel en speelgoed
Testlaboratoria
Individuele oplossingen
Oplossingen
XRF - Energie dispersieve X-RAYfluorescentieanalyse
Meetmethode magnetische inductie
Amplitudegevoelige wervelstroommethode
Fasegevoelige wervelstroommethode
Duplex coatingmeting
Magnetische meetmethode
Ferrietgehalte
Elektrische geleidbaarheid
Microresistiviteitsmethode
Bèta-backscatter methode
Terahertz meetmethode
Coulometrische meetmethode
Geïnstrumenteerde indentatietest
Technologie
Laagdiktemeting
Materiaalanalyse
Microhardheid/Hardheidsmeting
Materiaal testen
Vind je Fischer
Diensten
Service
Verkoop en advies op locatie
Advies over toepassingen
Product trainingen
Fischer 360° ondersteuning
Mediatheek
FAQ
Waarom Fischer
Het voordeel van Fischer
Bedrijf
Succesverhaal
Visie en waarden
Verantwoordelijkheid en duurzaamheid
Fischer wereldwijd
DAkkS kalibratielaboratorium
Certificering en accreditatie
Referenties
Nieuws
Newsroom
Evenementen
+49 (0)7031 303-0
Kontaktformular
Startpagina
Nieuws
Newsroom
The news record is not available anymore.