Jump to the content of the page

Inline meting van dunne film fotovoltaïsche modules

Bij de vervaardiging van dunne film zonnepanelen of folies (bijvoorbeeld CIS/CIGS, CdTe) is het van cruciaal belang om de opgegeven grenzen van dikte en samenstelling precies te handhaven, omdat dit direct van invloed is op de efficiëntie van het paneel. Alleen met een nauwkeurig, snel en betrouwbaar inline meetsysteem kunnen de productieparameters continu worden bewaakt en daarmee de kwaliteit van de coatingprocessen gewaarborgd.

Een typisch dunne film fotovoltaïsch (PV) systeem bestaat uit een vrij complexe stapel lagen bedekt met substraten zoals glas of folies. Aangezien fabrikanten ernaar streven om goedkopere, betrouwbare CdTe/CIS/CIGS-producten te ontwikkelen, zijn enkele van hun meest kritieke problemen:

  • verhoogde moduleefficiëntie
  • steeds dunnere absorbtielagen van minder dan 1μm
  • consistente absorbtiefilm stoichiometry en uniformiteit over grote gebieden

Dit is waar volwassen, niet-destructieve meettechnologie, zoals röntgenfluorescentie (XRF), helpt om uniformiteit en stoichiometrie te verbeteren – en daarmee de celefficiëntie en productieopbrengst. De FISCHERSCOPE® X-RAY 5400 maakt nauwkeurige en precieze meting van de laagdikte en samenstelling in complexe CIS/CIGS/CdTe-systemen mogelijk, voor continue inline kwaliteitscontrole in verschillende stadia tijdens de productie.

Omdat de röntgenkoppen via gekoelde standaardinterfaces aan het vacuümkamersysteem worden gemonteerd, kunnen ze zelfs worden gebruikt in productiemachines onder omstandigheden waarin de substraattemperaturen 500°C naderen.

Verschuiving en uitzetten van het product kan optreden tijdens het productieproces, waardoor de afstand tussen monster en meetkop fluctueert. Om vervalsende effecten te voorkomen, gebruikt FISCHER's WinFTM® Software informatie die al in de gemeten XRF-spectra zit, waardoor betrouwbare afstandscompensatie wordt bereikt zonder bewegende onderdelen en waardoor de noodzaak van secundaire afstandssensoren wordt voorkomen.

Met de geactiveerde afstandscompensatiefunctie kan de meetafstand tot +/- 5 mm worden gewijzigd zonder de meetwaarden aanzienlijk te beïnvloeden.

Productiekwaliteit van dunne film zonnecellen kan nauwkeurig en nauwkeurig worden gecontroleerd met behulp van XRF-technologie. FISCHER's speciaal ontworpen inline röntgenmetingskop, FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, ook alle robuustheidseisen van live productieomgevingen . Voor meer informatie kan u contact opnemen met uw lokale FISCHER vertegenwoordiger.

Jump to the top of the page