Jump to the content of the page

Fosforgehalte in elektrolytisch nikkel Direct meetbaar

Fosfor, waarvan de concentratie de mechanische en magnetische eigenschappen van een coating aanzienlijk beรฏnvloedt, wordt opgenomen bij het gebruik van typische methoden voor het elektrolytisch of chemisch afzetten van nikkel. Het meten van het fosforgehalte is daarom al sinds de introductie van elektrolytisch nikkel voor technische toepassingen een probleem.

In tegenstelling tot nu was de rรถntgenfluorescentieanalyse - die veel gebruikt wordt in de galvaniseringsindustrie voor coatingdiktemeting en -analyse - alleen in staat om de fosforconcentratie indirect te bepalen door evaluatie van het signaal van het substraatmateriaal, waardoor de toepasbaarheid van de techniek wordt beperkt tot systemen met substraten die slechts uit รฉรฉn zwaar element bestaan. Bovendien was een minimale laagdikte van ongeveer 4 ยตm vereist.

Echter, met behulp van de FISCHERSCOPEยฎ X-RAY met hoge resolutie siliciumdrift detectoren (SDD), kan het fluorescentiesignaal van fosfor direct worden gemeten, zolang de excitatiecondities correct zijn geselecteerd.

De informatiediepte is zeer oppervlakkig: Fluorescentiestraling van alleen de bovenste 1 ยตm komt in de spectra evaluatie; daarom kan interferentie van de diffractiereflex grotendeels worden uitgesloten. De meetonzekerheid van het fosforgehalte is ongeveer 0,5 massaprocent.

Omdat het meten van de dikte van een NiP-coating onder andere excitatievoorwaarden wordt uitgevoerd dan het bepalen van de concentratie P, vullen deze twee meetapplicaties elkaar aan. Traceerbaarheid kan worden gegarandeerd door gebruik te maken van de respectievelijke calibratiestandaarden (met Fe, Cu, Al en PCB als substraatmateriaal) van FISCHER.

De combinatie van state-of-the-art detectortechnologie zoals SDD, meerdere prikkelingen in verschillende modi, en de krachtige analysesoftware, WinFTMยฎ, maakt betrouwbare, nauwkeurige metingen mogelijk van zowel de laagdikte als het fosforgehalte van elektrolytische nikkelcoatings op een grote verscheidenheid aan substraatmaterialen. De FISCHERSCOPEยฎ X-RAY XDVยฎ-SDD verenigt al deze prestatie-eigenschappen in รฉรฉn instrument.

Jump to the top of the page