De professionele serie voor het testen van printplaten
De gedrukte schakelingen van vandaag hebben een groot aantal gecoate contactpunten. Om de betrouwbaarheid van de soldeerverbindingen, de corrosiebestendigheid en de houdbaarheid te garanderen, moeten de respectieve diktes van de verschillende materialen in de juiste verhouding tot elkaar staan. Voor de controle van deze nauwe specificaties is energiedispersieve röntgenfluorescentie de methode bij uitstek.
Met de PCB-serie biedt Helmut Fischer gespecialiseerde meetoplossingen voor printplaten. De PCB-professionals bieden betrouwbare en snelle resultaten voor zowel eenvoudige als ambitieuze meettaken en laagdiktemetingen tot in het nanometerbereik.
Er zijn diverse modellen leverbaar, afhankelijk van uw eisen. Bel ons! Wij zijn er voor u.
FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
Voor eenvoudige metingen en steekproefsgewijze controles is de FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB het ideale XRF-instrument. Als robuust instapinstrument is de XRF-spectrometer uitgerust met een proportionele tegenbuisdetector, wat zorgt voor korte meettijden.
- Microfocusbuis van wolfraam voor standaardtoepassingen
- Kleinste meetpunt Ø ca. 0. 15 mm
- Proportionele tegenbuisdetector voor het analyseren van elementen van kalium (19) tot uranium (92)
- Gepatenteerd door Fischer: de DCM methode voor eenvoudige en snelle instelling van de meetafstand
- Vaste, brede monstertrap voor printplaten tot 610 x 610 mm
- Maximale monsterhoogte 90 mm
- Volledig beschermd instrument met typegoedkeuring volgens de Duitse stralingsbeschermingswet
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
De FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB is ook uitgerust met een proportionele tellerbuis. Echter, dit XRF-instrument heeft een verscheidenheid aan collimatoren en filters, zodat u de optimale meetomstandigheden voor uw taak kunt creëren. In de basisconfiguratie heeft het een uittrekbare monstertrap, die de positionering van de printplaat vereenvoudigt. Op verzoek is ook een programmeerbare XY-trap leverbaar voor geautomatiseerde metingen.
- Microfocusbuis van wolfraam voor standaardtoepassingen
- Afhankelijk 4x verwisselbaar diafragma voor optimale meetcondities
- Afhankelijk 3x verwisselbaar filter voor betere excitatiecondities voor complexere taken
- Kleinste meetplek Ø ca. 0. 15 mm
- Proportionele tegenbuisdetector voor het analyseren van elementen van kalium (19) tot uranium (92)
- Handmatig uittrekbare of een programmeerbare meettafel voor printplaten tot 610 x 610 mm
- Maximale monsterhoogte: 5 mm
- Gepatenteerd door Fischer: de DCM-methode voor eenvoudige en snelle aanpassing van de meetafstand
- Individuele acceptatiekeuring als volledig beschermd instrument volgens de Duitse stralingsbeschermingswet
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
In tegenstelling tot de XULM-PCB en XDLM-PCB is de FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB uitgerust met een zeer gevoelige silicium driftdetector (SDD), verschillende diafragma's en filters. Hierdoor ontstaan optimale meetomstandigheden, ook voor testen volgens de ENIG- en ENEPIG-methoden. In zijn basisconfiguratie heeft het instrument een pop-out monstertafel die het positioneren van de PCB vereenvoudigt. Op verzoek kan deze worden uitgerust met een monstertafelverlenging voor grote PCB's.
- Microfocusbuis van wolfraam of chroom
- 4x verwisselbaar diafragma voor optimale meetcondities
- 3x verwisselbaar filter voor optimale excitatiecondities voor complexere taken
- Kleinste meetspot Ø ca. 0. 15 mm
- Silicon drift detector (SDD) voor analyse van elementen van aluminium (13) tot uranium (92)
- Gepatenteerd door Fischer: de DCM methode voor eenvoudige en snelle aanpassing van de meetafstand
- Handmatig uittrekbare trap voor printplaten tot 610 x 610 mm
- Maximale monsterhoogte 10 mm
- Individuele acceptatiekeuring als volledig beschermd instrument volgens de Duitse stralingsbeschermingswet
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
In zeer betrouwbare toepassingen zijn printplaten kwaliteitskritische componenten. In dergelijke gevallen worden high-end coatings volgens de ENIG en ENEPIG processen gebruikt. Aangezien de dunste laagdiktes in deze processen tussen 40 en 100 nm bedragen, volstaat de nauwkeurigheid van proportionele tellerbuizen niet langer om het proces te controleren. Dit is waar de FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB de juiste keuze is. De combinatie van een zeer gevoelige silicium driftdetector (SDD) en polycapillaire optiek maakt nauwkeurige metingen mogelijk op structuren die minder dan 50 µm groot zijn.
Vooral bij zeer kleine structuren kan het individueel selecteren van elke meetpositie veel tijd in beslag nemen als grote aantallen willekeurige monsters moeten worden geïnspecteerd. Maar met de door Fischer geïmplementeerde beeldherkenningssoftware kunt u zich deze moeite besparen. U hoeft alleen maar een deel van het beeld op te slaan. De XDV-µ PCB zoekt de overeenkomstige structuren en meet ze automatisch.
- Microfocusbuis met wolfraam of molybdeen
- 4x verwisselbaar diafragma voor optimale meetomstandigheden
- 4x verwisselbaar filter voor optimale excitatie-condities voor complexere taken
- Polycapillaire optiek voor zeer kleine meetvlekken Ø ca. 20 of 10 µm
- Silicon drift detector (SDD) voor analyse van elementen van aluminium (13) tot uranium (92)
- Programmeerbare meettrap, optioneel met vacuümhouder voor FLEX PCBs
- Maximale monsterhoogte < 4-5 mm
- Individuele acceptatiekeuring als volledig beschermd instrument volgens de Duitse stralingsbeschermingswet
