XUV

XUV® 제품군의 진공 측정 챔버를 사용하면 X-레이 형광 분석(RFA)을 통해 나트륨에서 경원소를 분석할 수 있습니다. 실내 공기의 방사선 흡수 특성으로 인해 일반적으로 이 방법을 사용하는 것은 가능하지 않습니다. 이러한 이유로 이 장비는 매우 까다로운 코팅 두께 측정 및 소재 분석 작업에 이상적입니다.

XUV

특징:

  • 감지 한도가 낮고 범용적으로 업그레이드가 가능한 측정 가능성을 반복 가능한 정밀도로 조사 및 개발하는 데 적합
  • 경원소의 경우에도 정밀한 측정을 위한 진공 챔버 및 고성능 실리콘 이동 감지기
  • 프로그래밍이 가능한 X, Y, Z축 자동화 직렬 시험
  • 교환이 가능한 조리개 및 필터로 다양한 소재 및 측정 요구 사항에 맞춤 가능

어플리케이션:

도금 두께 측정

  • nm 단위로 나트륨의 경원소 계층
  • 알루미늄 및 실리콘 계층

재료 분석

  • 보석용 원석으로 진위성 및 산지 측정
  • 일반 소재 분석 및 포렌식
  • 고분해능 추적 분석

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