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FISCHERSCOPE® X-RAY 기기의 패턴 인식

Pattern Recognition in FISCHERSCOPE® X-RAY Instruments

FISCHERSCOPE® X-RAY 기기의 패턴 인식

대부분의 경우 X 선 형광 분석법 (XRF)은 시간이 많이 걸리는 시료 준비가 필요하지 않습니다. X 선 빔에 프로브를 간단히 배치하는 것으로 대부분 충분합니다. 그러나 테스트중인 샘플의 치수가 측정 지점 크기와 같으면 정확한 배치가 어렵습니다. 다음 물체의 코팅 두께 측정 :

  • 인쇄 회로 기판의 플러그 접점
  • 커넥터 </ li>
  • SMD 구성 요소

새로운 패턴 인식 기능을 통해 프로그래밍 가능한 XY 테이블이있는 모든 FISCHERSCOPE® X-RAY 기기는 어려운 조건에서도 샘플을 안전하게 배치 할 수 있습니다. 소프트웨어 WinFTM®는 이미지 세부 사항 (패턴)을 저장하고 측정하는 동안 검색합니다. 그런 다음 XY 테이블 위치를 다시 조정하여 패턴을 찾고 올바른 위치에서 측정을 수행합니다.

장점 :

  • 샘플 배치 중 작업자 영향 감소
  • 샘플의 치수 공차 영향 감소

패턴 인식을 적용한 동영상 :

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