피셔 FAQ

평균값

평균값을 계산하는 가장 간단한 방법은 모든 값을 더한 다음 이 합계를 값의 수로 나누는 것입니다. 이를 산술 평균이라고 합니다. 평균을 계산하는 다른 방법도 있지만 거의 사용되지 않습니다.

범위

범위 R은 가장 작은 측정값과 가장 큰 측정값이 얼마나 떨어져 있는지 보여줍니다. 범위를 계산하려면 가장 작은 측정값에서 가장 큰 측정값을 뺍니다. 범위는 이상값으로 인해 크게 왜곡될 수 있으므로 측정값이 적은 경우에만 유용합니다. 데이터 양이 많은 경우에는 표준 편차가 더 의미가 있습니다.

표준 편차

표준 편차 σ는 측정값이 평균값 주위에 얼마나 강하게 흩어져 있는지를 나타냅니다. 표준 편차가 높으면 측정된 값이 서로 크게 다르다는 것을 나타냅니다. 값이 모두 평균에 가까우면 표준 편차가 작습니다. 평균과 표준편차가 현실을 얼마나 잘 설명하는지는 무엇보다도 측정된 값의 수에 따라 달라집니다. 측정 지점이 많을수록 비율의 의미가 더 커집니다.

변동 계수

표준 편차의 크기는 측정값의 분산뿐만 아니라 값의 크기에 따라 달라지며, 평균값이 높으면 표준 편차도 자동으로 높아집니다. 이 문제를 해결하기 위해 상대 표준 편차, 즉 변동 계수 V를 백분율로 표시하는 경우가 많습니다. 여기서 표준 편차는 산술 평균으로 나눕니다. 표준 편차와 마찬가지로 여기서도 높은 값은 측정값의 분산이 높다는 것을 나타냅니다.

XRF 방법으로 무엇을 측정할 수 있나요?

주변 매체(공기, 헬륨, 진공), 검출기, 스폿 크기, 원자 번호 및 응용 분야에 따라 약 0.005 - 60 µm의 층 두께로 원자 번호 11부터 원소를 측정할 수 있습니다.

XRF 측정의 측정 스폿 크기는 어떻게 되나요?

측정 스팟은 콜리메이터와 측정 거리에 따라 달라집니다. 일반적인 값은 30µm ~ 3mm입니다.

피셔 XRF 기기의 측정 결과는 얼마나 정확하나요?

측정 정확도는 측정 작업마다 다를 수 있습니다. 이는 측정 시간, 측정 지점 및 XRF 기기를 보정한 표준의 불확도에 따라 달라집니다.

피셔 XRF 기기의 방사선 보호는 어떻게 되나요?

대부분의 XRF 기기는 독일 방사선 보호 조례에 따라 형식 승인을 받은 완전 보호 기기입니다.

"데이터 내보내기" 마스크는 무엇을 의미하나요?

내보내기 마스크의 정의는 내보낼 파라미터를 결정하는 데 사용할 수 있습니다. 내보내기 설정은 데이터가 전송되는 시기와 위치를 정의합니다. 그러면 측정 데이터를 텍스트 파일로 사용할 수 있습니다.

XRF 장치에서 "분산"을 요청하면 측정되는 항목은 무엇인가요?

여기서는 분산 스펙트럼이 요청됩니다. 분산 스펙트럼은 측정할 필요는 없지만 메뉴에서 로드할 수 있습니다: 일반 ► 스펙트럼 로드 및 평가... 메뉴에서 로드할 수 있습니다.

새 측정 작업을 만들 수 없는 이유는 무엇인가요?

슈퍼 소프트웨어가 활성화되어 있지 않습니다.

XRF 장치는 요청하지 않아도 측정된 모든 값을 인쇄합니다.

아마도 파일► 메뉴에서 단일 값 인쇄가 활성화되어 있을 것입니다. 이 경우 각 단일 값이 프린터 버퍼로 전송되고 페이지가 가득 차면 자동으로 인쇄됩니다.'단일 값 인쇄'를 비활성화하고 프린터 버퍼를 지웁니다.

측정값이 실수로 삭제되었습니다. 복원할 수 있나요?

블록 내에서 단일 값이 삭제된 경우 측정값 열거에 대시가 표시됩니다. 이러한 측정값은 평가 ► 측정값 복원 메뉴에서 다시 표시할 수 있습니다. 그러나 블록 또는 항목의 모든 측정값이 삭제된 경우 데이터를 복원할 수 없습니다.

피셔 코팅 두께 게이지의 측정 정확도에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?

코팅 두께 측정기의 측정 정확도는 코팅 두께, 표면 상태, 사용된 프로브 등과 같은 요인에 따라 달라집니다. 이상적인 조건에서의 정확도 및 반복성에 대한 정보는 프로브의 기술 데이터 시트에서 확인할 수 있습니다.

위상 감응 와전류 방식: 어떤 층-베이스 재료 조합을 측정할 수 있나요?

여기에는 다양한 측정 옵션이 있습니다: 예를 들어, 위상 감응 와전류 방법을 사용하여 자화성 금속 위에 비자화성 금속을 측정할 수 있습니다. 예를 들어 철 위에 아연이 있습니다. 그러나 전기적으로 비전도성인 플라스틱 위에 자화되지 않는 금속도 생각할 수 있습니다(예: Iso 위에 구리). 또 다른 측정 예로는 구리 위의 니켈(자화성 금속 위에 자화성 금속)이 있습니다.

진폭 감응 와전류 방법: 어떤 레이어-베이스 재료 조합을 측정할 수 있나요?

진폭 감응 와전류 방식은 알루미늄의 아노다이징 또는 페인트, 구리의 페인트 또는 티타늄의 세라믹과 같이 전기 전도성, 자화 불가능한 기본 재료 위에 전기적으로 비전도성 코팅을 측정하는 데 사용됩니다.

자기 유도 방식: 어떤 레이어-베이스 재료 조합을 측정할 수 있나요?

자기 유도 방법을 사용하면 철 위에 아연 또는 철 위에 페인트와 같이 자화하기 쉬운 기본 재료의 비자성 코팅을 측정할 수 있습니다.

위상 감응 와전류 프로브와 자기 유도 프로브로 니켈 층을 측정할 때 고려해야 할 사항은 무엇인가요?

각각의 경우 실제 니켈 도금 부품과 알려진 코팅 두께로 보정해야 합니다. 니켈 코팅의 자성은 매우 다양할 수 있으므로 측정할 부품과 보정할 부품의 자성이 상당히 다를 수 있습니다. 이는 측정 오류로 이어질 수 있으며, 특히 입고 물품 검사에서 문제가 될 수 있습니다.

측정 장치 또는 피셔 프로그램에서 알 수 없는 오류 메시지가 표시됩니다. 어떻게 해야 하나요?

먼저 사용 설명서를 살펴보고 오류와 수정 방법이 설명되어 있는지 확인하세요. 그렇지 않은 경우, 일련 번호, 측정 장치의 정확한 명칭, 측정 프로브, Fischer 프로그램의 버전 번호, 오류 번호(오류 코드), 오류 메시지의 정확한 문구 및 오류가 발생한 상황을 보내주시기 바랍니다. 여기에서 담당자를 찾을 수 있습니다.

SIGMASCOPE®는 특정 전기 전도도를 측정하기 위해 어떤 방법을 사용하나요?

위상 감응 와전류 방식 (표준 DIN 50994 초안 및 표준 DIN EN 2004-1 참조)을 사용합니다.

SIGMASCOPE®의 측정 단위 MS/m은 무엇을 의미하나요?

MS/m은 1m당 메가 지멘스를 의미하며, 이는 1,000,000 지멘스/m에 해당합니다. 이 단위는 특정 전기 저항 옴 x mm²/m의 측정 단위의 역수(역수)입니다. 따라서 1 지멘스는 1/옴에 해당합니다.

SIGMASCOPE®의 측정 단위 %IACS는 무엇을 의미하나요?

IACS는 "국제 어닐링 구리 표준"을 의미합니다. 이 측정 단위는 영미권 국가에서 자주 사용됩니다. 다음이 적용됩니다: 100% IACS의 특정 전기 전도도는 58 MS/m에 해당합니다. 이 관계를 통해 모든 전기 전도도 값을 한 측정 단위에서 다른 단위로 변환할 수 있습니다.

SIGMASCOPE®로 전기 전도도를 측정할 때 측정 대상의 온도에 주의를 기울여야 하는 이유는 무엇입니까?

특정 전기 전도도는 온도에 직접적으로 의존합니다. 온도가 높을수록 전도도가 낮아집니다. 측정값의 비교 가능성을 보장하기 위해 전도도는 항상 20°C를 기준으로 지정됩니다. 이러한 이유로 피셔의 전도도 표준도 20°C에 대한 값을 제공합니다.

SIGMASCOPE®가 물리적으로 실제 전도도의 측정값을 20°C로 변환할 수 있으려면 다음 조건이 충족되어야 합니다:

• 측정하는 동안 기기가 실제와 동일한 온도에서 보정되어야 합니다.
• 또는 측정 및 보정 중에 온도 센서(내부/외부)를 사용하여 측정 대상의 온도를 기록해야 합니다.

이러한 조건이 충족되지 않으면 체계적인 측정 오류가 발생할 수 있습니다.

고강도 부식 방지에서 "강철에 용융 아연을 칠하는" 이중 코팅 시스템의 코팅 두께를 측정하는 데 사용할 수 있는 프로브에는 어떤 것이 있습니까?

FDX10 및 FDX13H 듀플렉스 측정 프로브입니다. 이러한 프로브는 정확한 측정을 위해 용융 아연의 최소 코팅 두께가 70 µm여야 합니다.

이중 코팅 시스템 "약 아연 도금 강철에 페인트"의 코팅 두께를 측정하는 데 사용할 수 있는 프로브는 무엇입니까?

얇은 아연 층의 경우 ESG2 및 ESG20 프로브가 사용됩니다. 이 프로브는 아연과 강철 사이에 확산층이 없는 경우에만 사용할 수 있습니다. 이는 일반적으로 전기 도금 및 매우 얇은 용융 아연 코팅(예: 자동차 엔지니어링)의 경우에 해당합니다. 두께가 70µm 이상인 고강도 부식 방지 용융 아연 코팅은 일반적으로 강철과 아연 사이에 뚜렷한 확산층을 형성합니다. 이러한 경우에는 ESG2 및 ESG20 프로브를 사용할 수 없습니다.

전기량 측정법으로 측정할 수 있는 층-베이스 재료 조합은 무엇입니까?

금속, 플라스틱 또는 세라믹의 전기 전도성 금속층. 자세히 알아보기

전기량 측정을 위한 요구 사항은 무엇인가요?

깨끗한 코팅 표면, 측정할 물체에 대한 스탠드 클램프의 양호한 접촉, 측정할 물체의 양호한 접촉 등이 충족되어야 합니다. 또한 코팅 두께에 맞는 분리 속도를 선택해야 합니다. 또한 적절한 전해질을 사용해야 합니다. 자세히 알아보기

전기량 측정 방법의 정확도에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?

코팅 두께, 표면 상태, 사용된 측정 셀 씰, 분리 속도 및 코팅의 순도 등이 요인입니다.

데이터를 컴퓨터로 전송하려면 어떻게 해야 하나요?

전송 케이블을 컴퓨터와 측정 장치에 연결합니다. 컴퓨터에 적절한 드라이버 소프트웨어를 설치합니다. 사용 중인 평가 프로그램에서 측정기가 연결된 올바른 인터페이스를 선택합니다. 측정값의 그룹을 구분하려면 측정 장치에서 그룹 구분 기호를 설정하세요.

데이터 전송이 작동하지 않는 이유는 무엇인가요?

이유는 다음과 같습니다: 관리자 권한이 있는 올바른 드라이버가 로드되었나요? 컴퓨터의 소프트웨어에서 올바른 인터페이스를 선택했나요? (자세한 내용은 장치 관리자 참조)

수치가 크게 달라집니다. 그 이유는 무엇일까요?

거친 표면의 경우 영점을 항상 안정적으로 결정할 수는 없습니다. 따라서 가능하면 표면을 연마해야 합니다. 기류와 외부 진동으로 인해 측정값의 변동이 심하거나 부정확한 측정값이 나올 수도 있습니다. 따라서 계측기는 보호된 장소에 설치해야 합니다. 매우 낮은 힘으로 측정할 때는 닫힌 측정 상자와 댐핑 테이블을 사용하면 외부 영향을 피하는 데 도움이 됩니다.

측정값이 잘못되었습니다. 그 이유는 무엇일까요?

인덴터가 더럽거나 마모되었을 수 있습니다. WIN-HCU®는 정기적으로 수행해야 하는 청소 절차를 제공합니다. 또한 애플리케이션에 맞는 올바른 강제 시간 체제를 선택했는지 확인하십시오. 테스트 매개변수가 다르면 편차가 발생할 수 있습니다.

이러한 조치로도 도움이 되지 않는 경우 압자가 마모된 경우 모양 보정을 수행할 수도 있습니다. 형상 보정은 피셔 전문가만 수행해야 합니다.

측정 후 표면에 압자 자국이 보이지 않습니다. 왜 그럴까요?

현미경에 잘못된 대물렌즈가 설정되어 있을 수 있습니다. 다른 대물렌즈를 사용해 보고 자동 대물렌즈 인식 기능이 없는 기기의 경우 WIN-HCU® 소프트웨어에서 올바른 대물렌즈를 선택했는지 확인하십시오.

여전히 인상체가 보이지 않는다면 검사 강도를 너무 낮게 선택한 것일 수 있습니다. 이러한 경우, 예를 들어 원자 현미경(AFM)으로 인상을 확인할 수 있습니다. 또 다른 이유는 현미경 위치와 실제 측정 위치 사이의 오프셋이 너무 크기 때문일 수 있습니다. 설정된 오프셋 설정은 측정 테이블 ► 현미경 설정에서 확인할 수 있습니다.

코팅을 횡단면으로 측정할 때는 피셔의 적절한 마이크로 섹션 샘플 홀더를 사용하는 것이 좋습니다. 적절한 홀더 없이 횡단면에서 측정을 수행하면 장착 과정으로 인해 각 측정마다 측정 위치에서 현미경 위치까지 체계적인 오프셋이 발생합니다.

압입 경도 및 압입 계수에 대한 측정값이 나오지 않는 이유는 무엇인가요?

아마도 언로딩 곡선이 기록되지 않았을 수 있습니다. 설정을 확인해 보세요. 또한 매우 부드러운 샘플은 하중(크리프) 하에서 계속 변형될 수 있으므로 모든 경우에 압입 경도를 측정할 수 없습니다. 압흔 크리프_(CIT)를 결정하려면 크리프 설정을 사용하세요. 편집 ► 애플리케이션 설정 ► 파라미터 ► 직선을 사용하여 ISO 14577에 따라 압흔 계수 _EIT 및 압흔 경도 _HIT를 결정합니다.

로딩 및 언로딩 곡선이 각각 "변형됨" 및 "강하게 구부러짐"입니다. 그 이유는 무엇일까요?

측정 중 시료가 하중을 받아 변형되었습니다. 테스트 시편이 잘 고정되었는지 확인합니다. 구성 요소 형상에 따라 적합한 액세서리인 HM 범용 시편 그립 또는 Fischer의 HM 호일 클램핑 고정 장치를 사용하십시오.

하중 곡선이 꼬여 있습니다. 그 이유는 무엇일까요?

선택한 테스트 하중이 코팅 두께에 비해 너무 높습니다. 따라서 기판 재료가 측정에 영향을 미칩니다.

"동적 측정 모드"를 활성화할 수 없는 이유는 무엇인가요?

동적 측정 모드는 관리자만 활성화할 수 있습니다. 관리자 권한이 있음에도 불구하고 활성화할 수 없는 경우, 이는 일반적으로 이를 방지하는 고객별 보안 관련 소프트웨어 때문일 수 있습니다. 한 가지 가능성은 소프트웨어 관련 보안 예방 조치가 낮은 컴퓨터를 사용하는 것입니다.

"모양 보정" 메뉴 항목이 회색으로 표시되고 선택할 수 없는 이유는 무엇인가요?

모양 보정에는 관리자 권한이 필요합니다. 이에 따라 WIN-HCU®에 로그인하세요. 모양 보정은 Fischer 전문가 또는 자격을 갖춘 직원만 수행해야 합니다. 측정이 중단되었으며 새로운 측정을 시작할 수 없습니다. 또한 압자 위치가 400 µm 이상의 값에 있습니다.

'평가' ► '사용자 지정 내보내기'를 클릭하면 오류 메시지가 표시되는 이유는 무엇인가요?

먼저 설정 ► 옵션 ► 사용자 정의 내보내기에서 사용자 정의 내보내기를 정의해야 내보내기를 실행할 수 있습니다.

내 측정기에 대한 일련 번호 및 기타 중요한 정보는 어디에서 찾을 수 있나요?

선택 ? WIN-HCU에 대한 정보를 선택하세요. 여기에서 측정 장치의 일련 번호와 WIN-HCU® 버전을 확인할 수 있습니다.

측정값을 사용할 때 최소로 사용해야 하는 통계적 특성 값은 무엇인가요?

측정값을 비교하려면 최소한 다음 특성값을 사용해야 합니다: 산술 평균, 표준 편차 및 개별 측정값의 개수. 해당 표준편차와 측정값 수가 없으면 평균값을 서로 의미 있고 진지하게 비교할 수 없습니다.

측정기를 캘리브레이션해야 하는 이유는 무엇인가요?

DIN EN ISO 9001 표준에 따르면, 추적성이 필요한 경우 측정 장비를 반드시 교정해야 합니다. 모든 물리적 측정 방법은 코팅 및 기본 재료의 특성에 영향을 받습니다. 이러한 특성의 예로는 부품 형상, 전기 전도도, 자성, 코팅의 밀도 또는 측정 표면 등이 있습니다. 따라서 레이어 또는 기본 재료의 특성이 변경될 때마다 측정 장비를 재보정해야 할 가능성이 높습니다.

예를 들어 평평한 시트에서 자기 유도 또는 와전류 측정 장치를 교정했는데 이제 직경이 작은 회전 부품에서 측정하고 싶습니다. 다른 교정 없이도 이 작업을 수행할 수 있습니까?

평평한 시트에서 보정하면 곡면에서 체계적인 측정 오류가 발생합니다. 결과적으로 측정값이 너무 높아집니다. 이는 측정 장치가 곡면의 물체에서 나오는 신호를 마치 평평한 부분에서 나오는 것처럼 평가하기 때문입니다. 따라서 부품 또는 측정 표면의 모양이나 기하학적 구조가 변경되면 정기적인 보정이 필요합니다.

두 사람이 서로 다른 측정 결과에 도달합니다. 그 이유는 무엇이며 어떻게 할 수 있을까요?

가능한 원인은 보정(특성 곡선)이 다른 두 개의 측정 장치를 사용하거나 동일한 측정 장치로 다른 측정 표면에서 측정을 수행했기 때문일 수 있습니다. 측정 장치로 얻은 측정값의 정확성은 항상 교정 표준에 의해 보장됩니다. 자기 유도 및 와전류 측정기의 경우, 측정할 실제 코팅되지 않은 물체의 측정 표면에서 보정을 수행해야 하며, 코팅된 부분의 코팅 두께도 측정해야 합니다. 또한 동일한 지점 또는 동일한 측정 표면에서 측정이 이루어져야 하며, 의미 있는 평균값과 의미 있는 표준 편차를 위해 충분한 수의 측정값이 기록되어 있는지 확인해야 합니다. 그래야만 비교 가능한 측정 결과를 얻을 수 있습니다.

촉각 코팅 두께 게이지의 보정은 어떻게 확인하나요?

코팅되지 않은 공작물에 여러 개의 측정값(보통 5~10개)이 있는 보정 포일을 부착하고 나중에 측정할 지점에서 이를 측정합니다. 피셔 베이스 캘리브레이션 플레이트는 이 캘리브레이션에 유용하지 않습니다. 그 후 사용자는 필름 설정값과 측정된 평균값에서 허용할 편차를 결정해야 측정 장치가 여전히 충분히 잘 보정된 것으로 간주됩니다. 통계 및 측정된 필름 두께의 불확실성과 관련하여 측정 장치의 캘리브레이션 평가는 예를 들어 DIN EN ISO 2178: 2016 "자성 모재의 비자성 코팅 - 필름 두께 측정 - 자기 방법"(8장) 및 DIN EN ISO 2360:2017 "비자성 금속 모재의 비전도성 코팅 - 필름 두께 측정 - 와전류 방법"(8장) 표준에 따라 제공됩니다.

FDX10 및 FDX13H 듀플렉스 프로브를 교정할 때 고려해야 할 사항은 무엇인가요?

이 듀플렉스 프로브에는 두 개의 측정 채널이 있습니다. 자기 유도 채널은 페인트와 아연의 총 코팅 두께를 측정합니다. 진폭 감응 와전류 채널은 아연의 페인트 층 두께를 측정합니다. 캘리브레이션을 위해서는 원래 부품에 해당하는 완전히 코팅되지 않은 강철 부품과 최소 70µm의 아연이 포함된 아연 도금 부품이 필요합니다. 프로브의 자기 유도 채널은 코팅되지 않은 강철 부품에서 보정됩니다. 사용되는 캘리브레이션 포일은 예상되는 총 코팅 두께 범위(페인트 및 아연)에 맞춰야 합니다. 아연 도금 부품은 진폭 감응 와전류 채널을 교정하는 데 사용됩니다. 사용되는 캘리브레이션 포일은 예상되는 페인트 층 두께 범위의 틀을 구성해야 합니다.

ESG2 및 ESG20 듀플렉스 프로브를 교정할 때 고려해야 할 사항은 무엇인가요?

이러한 듀플렉스 프로브에는 두 개의 측정 채널이 있습니다. 자기 유도 채널은 페인트와 아연의 총 코팅 두께를 측정합니다. 위상에 민감한 와전류 채널은 페인트 아래의 아연 코팅 두께를 측정합니다. 캘리브레이션을 위해서는 원래 부품에 해당하는 완전히 코팅되지 않은 강철 부품과 일반적인 아연 코팅이 된 아연 도금 부품이 필요합니다. 프로브의 자기 유도 채널은 코팅되지 않은 강철 부품에서 보정됩니다. 사용되는 보정 포일은 예상되는 총 코팅 두께 범위(페인트 및 아연)에 맞춰야 합니다. 아연 도금된 부품에서는 프로브의 위상에 민감한 와전류 채널이 보정됩니다. 아연 층 자체가 캘리브레이션 층이므로 여기에는 캘리브레이션 포일을 사용하지 않아야 합니다. 이 캘리브레이션 단계에서는 아연 도금된 부분만 측정하면 됩니다. 아연층 두께는 캘리브레이션 전에 기준층 두께로 측정할 필요가 없습니다. 아연 층의 교정 기준값은 첫 번째 단계에서 보정된 자기 유도 채널에 의해 제공됩니다.

코팅의 밀도가 캘리브레이션에 영향을 미치나요?

네, 그렇습니다. 예를 들어, 코팅 밀도가 2g/cm³인 부품으로 측정 장치를 보정했는데 이제 밀도가 1g/cm³인 부품을 측정해야 하는 경우 체계적인 측정 오류가 발생할 수 있습니다. 그러면 측정값이 너무 낮습니다. 이는 측정 장치가 새 물체의 신호를 마치 해당 층의 밀도가 2g/cm³인 것처럼 평가하기 때문입니다.

피셔 XRF 기기에서 노미네이션이란 무엇을 의미합니까?

측정 기술에서 노미네이션은 측정 작업을 현재 설정 또는 새로운 기본 재료에 맞게 조정하는 것을 의미합니다. 이는 1차 필터, 양극 전류 또는 콜리메이터를 변경할 때 반드시 수행해야 합니다. 또한 기본 재료의 합금 조성이 변경된 경우에도 표준으로 요구됩니다.

제 Fischer XRF 기기가 믿을 수 없는 값을 측정합니다. 여전히 올바르게 측정하고 있는지 어떻게 확인할 수 있나요?

측정기 모니터링 방법은 다음과 같습니다. 교정 표준을 다시 측정하여 XRF 측정기를 점검합니다. 표준에서는 이를 "교정"이라고 부릅니다. 측정값과 표준의 공칭값 사이에 상당한 편차가 있는 경우 조정이 필요합니다.

Fischer XRF 기기에서 기준 측정이란 무엇인가요?

기준 측정은 에너지 축의 재교정입니다. 온도 영향에 대한 비례 카운터 튜브로 XRF 기기를 보정합니다.

XRF 기기의 캘리브레이션을 어떻게 확인하나요?

교정 표준은 메뉴 항목 ►교정 표준 측정에서 재측정할 수 있습니다. 편차가 감지되면 XRF 기기를 재교정해야 합니다.

X선 교정 표준은 얼마나 자주 참조해야 하나요?

이는 측정 기기가 보정 표준을 측정하는 데 얼마나 자주 사용되는지에 따라 다릅니다. 따라서 이는 고객이 결정할 수 있습니다. 일반적인 값은 대략 1-3년에 한 번씩입니다.

캘리브레이션 과정에서 X-선 캘리브레이션 포일을 쌓을 수 있나요?

예, 가능합니다. 일반적으로 비례 카운터 튜브 측정 장치에는 2~3개의 포일을, PIN 또는 실리콘 드리프트 검출기가 있는 측정 장치에는 1개의 포일을 사용할 수 있습니다.

XRF 기기용 순수 원소 플레이트를 재인증해야 하나요?

아니요, 필요하지 않습니다. 표준은 포화 두께로 인해 안정성이 매우 높기 때문에 순수 원소 플레이트를 재인증할 필요가 없습니다.

지명 또는 교정 중에 XRF 기기에서 "기본 재료 cal. set" 및 "기본 재료 측정 대상"을 요청하면 어떻게 해야 하나요?

여기서 WinFTM®은 기본 재료를 묻습니다. 캘리브레이션 세트와 측정 대상의 코팅되지 않은 모재를 적용하고 측정해야 합니다. 주의: 여기에 잘못된 부품을 배치하면 결과의 정확성에 매우 큰 영향을 미칠 수 있습니다.

캘리브레이션 표준에 대한 공장 인증서와 ISO 17025 인증서의 차이점은 무엇인가요?

ISO 17025 인증서가 있는 교정 표준은 인정 기관에서 정의한 절차에 따라 측정되며 공장 인증서가 있는 교정 표준보다 불확실성이 낮습니다.