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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ

솔더 범프? PCB? 리드 프레임? 하나의 측정기로 이 모든 것을 측정하십시오!

FISCHERSCOPE® XDV®-μ 측정기는 가장 작은 구조물에 대한 정밀한 층 두께 측정 및 재료 분석을 위해 개발된 Fischer의 고급 X-ray 형광 시리즈입니다. 모든 장비에는 X-ray 빔을 10μm (FWHM)에 집중시키는 Polycaplillary 광학 장비가 장착되어 있습니다. Polycaplillary 광학 장비는 높은 방사선 강도를 생성하여 콜리메이터가있는 광학 장비에 비해 측정 시간을 크게 줄입니다. 

모든 Fischer XRF 측정기에는 다용도 WinFTM 소프트웨어가 제공되므로 다양한 응용 분야를 매우 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한 WinFTM에는 한 번의 클릭으로 개별 보고서를 작성할 수있는 통합 보고서 생성 도구가 있습니다. 또한, WinFTM 소프트웨어는 캘리브레이션을 쉬게 할 수있는 가이드를 제공합니다. 

XDV-μ 장비는 다양한 필터, 전압 및 전류 설정과 함께 작동하여 최대 24 개의 요소가 있는 복잡한 애플리케이션에서 가장 적합한 조건을 만들 수 있습니다. 또한 XDV-μ에는 프로그래밍 가능한 XY 스테이지 및 패턴 인식 소프트웨어가 있어 여러 샘플에서 가능한 한 쉽게 자동 측정 할 수 있습니다. 

표준 버전에서 XDV-μ에는 텅스텐 X-ray 튜브가 장착되어 일반 응용 분야에서 높은 정밀도를 제공합니다. 몰리브덴 및 크롬 변형도 가능합니다. 

XDV-μ 측정기에는 대형 실리콘 드리프트 검출기 (50mm² 유효 영역)와 새로운 디지털 펄스 프로세서 (DPP+)가 장착되어 있습니다. 이러한 구성 요소를 함께 사용하면 카운트 속도가 매우 높아서 측정 시간을 최소화하면서 반복성을 최적화 할 수 있습니다.

특수용도를 위한 특수 측정기

XDV-μ 시리즈에는 전자 및 반도체 산업의 특정 애플리케이션에 맞는 특수 장비가 포함되어 있습니다. 예를 들어, XDV-μ LD는 조립 된 PCB의 측정에 적합하고 XDV-μ 웨이퍼에는 자동 웨이퍼 척이 있으며 XDV-μ LEAD FRAME은 리드 프레임 코팅 측정에 최적화되어 있습니다.

더 자세한 정보를 원하십니까? 지금 샘플을 보내거나 XDV-μ 시리즈의 무료 데모를 준비하세요!

[Translate to Korean:]

We have developed the FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ especially for measuring smallest structures and components with short measuring times. A large-area silicon drift detector and the polycapillary optics enable precise, repeatable measurements e.g. on bond surfaces, SMD components or thin wires. That permits precise quality monitoring of the coatings on printed circuit boards – and ensures their long-term function.

The FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD is your XRF instrument for the measurement of bulky samples. Due to the measuring distance of 12 mm, even assembled PCBs can be measured without any problems.

  • Microfocus tube with tungsten anode; molybdenum anode optionally available
  • Flexible, 4-fold exchangeable primary filter
  • Polycapillary optics for particularly small measuring spots (10 – 60 µm FWHM) with short measuring times
  • Silicon drift detectors with 20 or 50 mm² effective areas
  • Video system with 3× optical zoom for precise sample positioning
  • Precise, programmable measuring stage for automated measurements

[Translate to Korean:]

Rely on the specialist for lead frames. With the FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LEAD FRAME, you can precisely test thin layers and multi layer systems in the nanometer range on very flat micro-electrical components. A typical composition is gold, palladium and nickel on a CuFe substrate. Also, this XRF gauge is perfectly suited for determining the phosphorus content in NiP layers.

The XDV-µ LEAD FRAME has both interchangeable primary filters and polycapillary optics engineered for low energies. That creates the ideal conditions for the respective measurement.

  • Helium flush allows for measurement of even very light elements starting at sodium
  • Polycapillary optics
  • High-power tubes with chrome anode
  • 4-fold automatically exchangeable filter
  • High-resolution CCD color camera, crosshairs with calibrated scale, adjustable LED illumination and laser pointer (class 1) for exact sample placement
  • Silicon drift detector
  • Fast, programmable XY-stage with pop-out function and electrically driven Z-axis for automated measurements

특징

  • Al (13)에서 U (92), XDV-μ LD에서 최대 24 개 요소의 동시 측정 : S (16) -U (92)
  • 마이크로 구조물에 대한 측정을 위해 X-ray 빔을 10μm(FWHM)까지 집중시키는 첨단 광학
  • 여러 샘플에서 자동 측정을 위한 프로그래밍 가능한 XY 스테이지 및 패턴 인식
  • 샘플을 쉽게 배치할 수 있도록 샘플 단계 확장
  • 칼리브레이션 과정의 가이드
  • 장기간 사용하기위한 견고한 디자인
  • 광학 현미경(270배 확대) 비디오, 레이저 포인터를 사용하여 정확한 측정 지점을 표시
  • 보정 없는 측정을 위한 기본 파라미터 분석
  • IPC-4552A, 4553A, 4554 and 4556, ASTM B568, ISO 3497 준수
  • Fischer의 인증 표준은 국제적으로 공인된 기본 단위로 추적 가능

애플리케이션

  • 마이크로미터 및 나노미터 범위의 Au / Pd / Ni / CuFe 및 Sn / Ni 코팅
  • 조립 및 조립되지 않은 회로기판
  • 나노미터 범위에서 base 금속화 층(UBM, Under-bump metalization) 시험
  • 광원소 측정(예: Au 및 Pd에 따른 인 함량 측정(ENEPIG 및 ENIG)
  • Lead-free solder caps on copper pillars
  • 반도체 산업에서 C4 및 소형 땜납 요철과 소형 접촉 표면의 원소 조성 테스트

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