FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®는

측정 작업이 까다로울수록 검출기 유형이 더 중요합니다! 따라서 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 3가지 Semiconductor 검출기를 제공합니다.

 

Silicon PIN 다이오드는 중거리 검출기로, 비교적 넓은 측정 영역에서 여러 원소를 측정하는 데 적합합니다. PIN이 장착된 경우 XDAL 는 종종 단단한 재료 코팅 검사를 위해 사용됩니다.

고품질 Silicon drifit 검출기(SDD)는 Silicon PIN 다이오드보다 뛰어난 에너지 분해능을 제공합니다. 따라서 XDAL 측정기는 전자 산업에서 복잡한 측정 작업(예: 박 합금층의 측정 또는 금 및 백금과 같은 매우 유사한 요소의 재료 분석)을 해결하기 위해 사용됩니다. ENIG 및 ENEPIG 애플리케이션에서 품질 관리를 위해 신뢰할 수 있는 XRF 측정기입니다.

특히 까다로운 작업을 해결하기 위해 Fischer는 초대형 검출기 표면을 갖춘 SDD를 제공합니다. 이 검출기의 강도는 단 몇 나노미터의 범위까지 층을 안정적으로 측정하고 밀리미터 단위로 추적분석을 할 수있는 능력이 있습니다. 이러한 XDAL  장비로는 tin whiskers를 피하기 위해 신뢰성이 높은 애플리케이션에 사용하여 납 함량을 테스트 할 수 있습니다.