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특징

  • DIN ISO 3497 및 ASTM B 568에 따른 <0.05μm 층의 자동 측정 및 ppm 범위의 재료 분석을 위한 범용 X-ray 형광 분석기
  • 3가지 검출기 옵션 (Si-PIN diode; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
  • 3x 변경가능한 필터
  • 4X 변경가능한 콜리메이터
  • 가장 작은 측정 지점 0.15mm
  • 최대높이 14cm
  • 위치 결정 정확도가 10µm 인 프로그래밍 가능 XY 스테이지
  • 대형 인쇄 회로 기판의 측정을 위한 슬롯형 하우징
  • 인증된 완전보호장비 

애플리케이션

  • 코팅 및 합금의 재료 분석 (얇은 코팅 및 저농도)
  • 전기산업, ENIG, ENEPIG
  • 커넥터
  • 금, 보석 및 시계 제조업
  • PCB 제조시 얇은 금(나노미터) 및 팔라듐 코팅
  • 미량원소 분석
  • 신뢰성이 높은 애플리케이션을 위한 납(Pb) 결정(주석의 수염 방지)
  • 경질 재료 코팅 분석

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