FISCHERSCOPE X-RAY XAN

Like the XUL series, the FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

측정기는 단순한 형태의 샘플을 분석하는 데 적합입니다 . 그러나 XAN 시리즈의 큰 장점은 고품질 Semiconductor 검출기에 있습니다. X-ray 형광을 사용하면 코팅의 두께를 측정 할뿐만 아니라 합금 성분 (예 : 구리)을 분석 할 수 있습니다. 

전체적으로, XAN 시리즈는 다양한 용도에 적합하도록 5개의 탁상용 벤치탑 XRF 측정기로 구성되어 있습니다. The XAN 215 에는 비용 효율적인 PIN 검출기를 사용합니다. 간단한 코팅 두께 작업에 적합입니다. 합금 또는 귀금속을 사용하는 보다 복잡한 용도의 경우 Silicon Drift 검출기(예: XAN 220)를 사용하는 장비를 권장합니다. 해상도가 훨씬 높아 금과 백금을 안정적으로 구별할 수 있습니다. 중금속과 기타 유해물질의 흔적을 탐지해야 할 때 XAN 250이 해결책입니다.

[Translate to Korean:]

With the XAN 220, XAN 222, XAN 250 and XAN 252, you can now measure even more precisely and quickly. Like the GOLDSCOPE SD 520 and SD 550, the instruments are equipped with the latest digital pulse processor DPP+ – completely developed in-house by Fischer. By using the new processor in conjunction with the also newly available, larger silicon drift detector (50 mm² effective area), even more signals of the sample can be processed. This results in an excellent energy resolution. Your benefit: Shorten the measuring time up to 3 times or reduce the absolute standard deviation of the repeatability by up to 45 %.