FISCHERSCOPE X-RAY PCB series

간단한 측정 및 스팟 검사를 위해서는 FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB가 적합입니다. 비례 카운터 튜브 검출기가 장착되어있어 측정 시간이 짧습니다. 이 X-ray 형광 측정기는 0.1µm 이상의 두께를 측정하는 데 권장됩니다.

• 표준 애플리케이션을 위한 텅스텐 마이크로포커스 튜브
• 가장 작은 측정 지점 Ø 약. 0.15mm
• 칼륨(19)에서 우라늄(92)까지의 원소 분석을 위한 비례 카운터 튜브 검출기
• Fischer의 특허: 측정 거리를 간단하고 빠르게 조정하기 위한 DCM 방법< /li>
• 최대 610 x 610mm(24" x 24")의 인쇄 회로 기판용 고정식 넓은 샘플 스테이지
• 최대 샘플 높이 90mm
• 완전히 보호되는 기기 독일 방사선 보호법에 따른 형식 승인

고신뢰성 애플리케이션에서 인쇄 회로 기판은 품질이 중요한 구성 요소입니다. 이러한 경우 ENIG 및 ENEPIG 공정에 따른 고급 코팅이 사용됩니다. 이러한 공정에서 가장 얇은 층 두께는 40~100nm이므로 비례 카운터 튜브의 정확도로는 더 이상 공정을 모니터링하기에 충분하지 않습니다. 여기에서 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB가 올바른 선택입니다. 고감도 SDD(실리콘 드리프트 검출기)와 다모세관 광학 장치의 조합으로 크기가 50 µm 미만인 구조물에 대한 정밀한 측정이 가능합니다.

특히 매우 작은 구조를 다룰 때 많은 수의 무작위 샘플을 검사해야 하는 경우 각 측정 위치를 개별적으로 선택하는 데 많은 시간이 걸릴 수 있습니다. 그러나 Fischer에서 구현한 이미지 인식 소프트웨어를 사용하면 이러한 노력을 줄일 수 있습니다. 이미지의 일부를 저장하기만 하면 됩니다. XDV-µ PCB는 해당 구조를 검색하고 자동으로 측정합니다.

• µ-XRF를 사용하여 가장 작은 지점에서 훨씬 더 높은 성능을 제공하는 텅스텐 양극이 있는 마이크로초점 튜브 Ultra; 몰리브덴 양극 선택 사항
• 최적화된 측정 조건을 위한 4x 가변 조리개
• 보다 복잡한 작업을 위한 최적의 여기 조건을 위한 4x 가변 필터
• 매우 작은 측정 지점용 다모세관 광학 장치 Ø 약. 20 또는 10 µm
• 알루미늄(13)에서 우라늄(92)까지의 원소 분석을 위한 실리콘 드리프트 검출기(SDD)
• 프로그래밍 가능한 측정 스테이지, 선택적으로 FLEX PCB용 진공 홀더 포함< /li>
• 최대 샘플 높이 < 4-5mm
• 독일 방사선 보호법에 따라 완전 보호 장비로 개별 승인 검사
• 디지털 펄스 프로세서 DPP+. 동일한 표준 편차로 더욱 짧은 측정 시간*
  _{*DPP 와 비교}

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