PCB의 접점, X-선 형광(XRF)은 매우 효과적인 방법으로 확립되었습니다. FISCHER는 PCB의 접촉 패드 측정에 특별히 최적화된 다양한 XRF 시스템 모델인 FISCHERSCOPE® X-RAY 시리즈를 제공합니다. 프로세스 제어에 대한 자동화 요구가 꾸준히 증가함에 따라 다음 논리적 단계는 최소한의 작업자 노력으로 빠르고 효과적인 품질 제어를위한 솔루션을 개발하는 것이었습니다.
측정 중 작업자 개입을 최소화하기 위해 WinFTM® 분석 소프트웨어(버전 6.30 이상)는 이제 자동 패턴 인식을 제공합니다. 이를 통해 프로그래밍 가능한 XY 테이블이 있는 모든 XRF 기기의 매우 작은 구조에서 측정 지점을 정확하고 정밀하게 배치 할 수 있습니다. 특히 자동화된 프로세스에서 패턴 인식은 큰 회로 기판을 테스트하고 동일한 위치에서 반복적으로 측정할 때 효과적으로 사용할 수 있습니다.
장치에 다음 PCB를 로드 할 때 원래 프로그래밍 된 측정 지점에서 작은 오프셋이 발생하는 것은 드문 일이 아니지만 마이크로 미터 범위의 구조에서 실제 측정 위치는 패턴 인식 기술의 미세 조정 기능을 사용해야만 정확하게 찾을 수 있습니다.
WinFTM® 을 사용하면 이미지 인식 메뉴를 사용하여 이미지 세부 정보 또는 패턴을 정의 할 수 있으므로 사용자가 이미지 프레임 내에서 측정 위치를 자유롭게 선택할 수 있습니다. 그런 다음 측정을 시작하기 전에 소프트웨어가 측정 지점(십자선의 초점)을 사진 세부 정보와 비교하고 자동으로 더 정확한 위치를 도출하여 행의 다음 접촉 패드를 찾고 대상으로 지정합니다. 다양한 구조에서 자동 측정을 수행하기 위해 여러 이미지 세부 정보 또는 패턴을 정의 할 수도 있습니다.
패턴 인식 메뉴의 사전 설정을 사용하여 사전 지식 없이도 이 소프트웨어 기능을 쉽게 실행할 수 있습니다. 또한 다양한 검색 알고리즘을 선택할 수 있을뿐만 아니라 오류 검사를 통해 대상 이미지(패턴)에서 약간의 편차를 허용 할 수 있습니다.
WinFTM® 에 내장된 새로운 패턴 인식 기능은 FISCHER의 XRF 측정 시스템과 함께 사용할 때 인쇄 회로 기판의 우수한 자동 품질 관리를 가능하게 합니다. 자세한 내용은 지역 FISCHER 담당자에게 문의하십시오.