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자동 패턴 인식으로 PCB의 품질 관리 단순화

현대의 인쇄 회로 기판(PCB)에는 전기 연결을 위한 수많은 접점이 있으며 모두 금속으로 코팅되어 있습니다. 이러한 코팅 영역의 도량형 모니터링은 정확한 공정 제어를 위해 필수적입니다. 그러나 특히 대규모 보드의 경우 이러한 작은 측정 지점에 수동으로 배치하는 것은 불가능합니다.

PCB의 접점, X-선 형광(XRF)은 매우 효과적인 방법으로 확립되었습니다. FISCHER는 PCB의 접촉 패드 측정에 특별히 최적화된 다양한 XRF 시스템 모델인 FISCHERSCOPE® X-RAY 시리즈를 제공합니다. 프로세스 제어에 대한 자동화 요구가 꾸준히 증가함에 따라 다음 논리적 단계는 최소한의 작업자 노력으로 빠르고 효과적인 품질 제어를위한 솔루션을 개발하는 것이었습니다.

측정 중 작업자 개입을 최소화하기 위해 WinFTM® 분석 소프트웨어(버전 6.30 이상)는 이제 자동 패턴 인식을 제공합니다. 이를 통해 프로그래밍 가능한 XY 테이블이 있는 모든 XRF 기기의 매우 작은 구조에서 측정 지점을 정확하고 정밀하게 배치 할 수 있습니다. 특히 자동화된 프로세스에서 패턴 인식은 큰 회로 기판을 테스트하고 동일한 위치에서 반복적으로 측정할 때 효과적으로 사용할 수 있습니다.

장치에 다음 PCB를 로드 할 때 원래 프로그래밍 된 측정 지점에서 작은 오프셋이 발생하는 것은 드문 일이 아니지만 마이크로 미터 범위의 구조에서 실제 측정 위치는 패턴 인식 기술의 미세 조정 기능을 사용해야만 정확하게 찾을 수 있습니다.

WinFTM® 을 사용하면 이미지 인식 메뉴를 사용하여 이미지 세부 정보 또는 패턴을 정의 할 수 있으므로 사용자가 이미지 프레임 내에서 측정 위치를 자유롭게 선택할 수 있습니다. 그런 다음 측정을 시작하기 전에 소프트웨어가 측정 지점(십자선의 초점)을 사진 세부 정보와 비교하고 자동으로 더 정확한 위치를 도출하여 행의 다음 접촉 패드를 찾고 대상으로 지정합니다. 다양한 구조에서 자동 측정을 수행하기 위해 여러 이미지 세부 정보 또는 패턴을 정의 할 수도 있습니다.

패턴 인식 메뉴의 사전 설정을 사용하여 사전 지식 없이도 이 소프트웨어 기능을 쉽게 실행할 수 있습니다. 또한 다양한 검색 알고리즘을 선택할 수 있을뿐만 아니라 오류 검사를 통해 대상 이미지(패턴)에서 약간의 편차를 허용 할 수 있습니다.

WinFTM® 에 내장된 새로운 패턴 인식 기능은 FISCHER의 XRF 측정 시스템과 함께 사용할 때 인쇄 회로 기판의 우수한 자동 품질 관리를 가능하게 합니다. 자세한 내용은 지역 FISCHER 담당자에게 문의하십시오.

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