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인라인 측정 박막 태양 광 모듈

Inline Measurement for Thin Film Photovoltaic Modules

박막 태양 전지판 또는 호일 (예 : CIS / CIGS, CdTe) 제조시 지정된 두께 및 구성 제한을 정확히 유지하는 것이 중요합니다. 이는 패널의 효율성에 직접적인 영향을 미치기 때문입니다. 정확하고 빠르며 신뢰할 수있는 인라인 측정 시스템을 통해서만 생산 매개 변수를 지속적으로 모니터링 할 수 있으므로 코팅 공정의 품질이 보장됩니다.

일반적인 박막 태양 광 발전 (PV) 시스템은 유리나 호일과 같은 기판에 코팅 된 상당히 복잡한 층으로 구성됩니다. 제조업체가 저렴하고 신뢰할 수있는 CdTe / CIS / CIGS 제품을 개발하기 위해 노력함에 따라 가장 중요한 문제는 다음과 같습니다.

  • 매우 더 높은 모듈 효율성 </ li>
  • 1µm 미만의 더 얇은 흡수층 </ li>
  • 광범위한 영역에서 일관된 흡수 필름 화학 양론 및 균일 성

X-ray fluorescence (XRF)와 같은 성숙한 비파괴 측정 기술이 균일 성과 화학 양론을 개선하여 세포 효율과 생산 수율을 개선하는 데 도움이됩니다. FISCHERSCOPE® X-RAY 5400을 사용하면 복잡한 CIS / CIGS / CdTe 시스템에서 레이어 두께 및 구성을 정확하고 정밀하게 측정하여 생산 중 다양한 단계에서 지속적인 인라인 품질 관리를 수행 할 수 있습니다.

X-ray 헤드는 냉각 된 표준 인터페이스를 통해 진공 챔버 시스템에 장착되기 때문에 기판 온도가 500 ° C에 근접하는 조건에서 생산 기계에도 사용할 수 있습니다.

생산 과정에서 제품의 움직임과 돌출이 발생할 수 있으며, 이로 인해 샘플과 측정 헤드 사이의 거리가 변동될 수 있습니다. 위조 효과를 방지하기 위해 FISCHER의 WinFTM® 소프트웨어는 측정 된 XRF 스펙트럼에 이미 포함 된 정보를 사용하여 움직이는 부품없이 안정적인 거리 보정을 달성하므로 2 차 거리 센서가 필요하지 않습니다.

거리 보정 기능을 활성화하면 측정 판독 값에 큰 영향을주지 않고 최대 +/- 5mm까지 측정 거리를 변경할 수 있습니다.

박막 태양 전지의 생산 품질은 XRF 기술을 사용하여 정확하고 정밀하게 모니터링 할 수 있습니다. FISCHER의 특수 설계된 인라인 X-ray 측정 헤드 인 FISCHERSCOPE® X-RAY 5400은 또한 라이브 프로덕션 환경의 모든 견고성 요구 사항을 충족합니다. 자세한 내용은 지역 FISCHER 담당자에게 문의하십시오.

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