피셔 FAQ

평균을 구하는 가장 기본적인 방법은 모든 값을 더한 뒤, 그 합을 값의 개수로 나누는 것입니다. 이를 산술 평균이라고 부릅니다. 평균을 계산하는 다른 방식도 존재하지만, 실제로는 산술 평균이 가장 널리 사용됩니다.

범위 R은 가장 데이터에서 가장 큰 값과 가장 작은 값 사이의 차이를 의미합니다. 즉, 최대값에서 최소값을 뺀 값입니다. 다만 범위는 이상값(극단적인 값)에 크게 영향을 받기 때문에, 데이터가 적을 때만 유용합니다. 데이터 양이 많을 경우에는 범위보다는 표준 편차가 더 의미 있는 지표가 됩니다.

표준 편차 σ는 측정값이 평균값 주위에 얼마나 강하게 흩어져 있는지를 나타냅니다. 표준 편차가 높으면 측정된 값이 서로 크게 다르다는 것을 나타냅니다. 값이 모두 평균에 가까우면 표준 편차가 작습니다. 평균과 표준편차가 현실을 얼마나 잘 설명하는지는 무엇보다도 측정된 값의 수에 따라 달라집니다. 측정 지점이 많을수록 비율의 의미가 더 커집니다.

표준 편차는 데이터의 분산 정도를 잘 보여주지만, 값의 크기에 따라 자동으로 커질 수 있다는 한계가 있습니다. 평균값 자체가 크면 표준 편차도 자연스럽게 커지기 때문입니다. 이를 보완하기 위해 변동 계수(V)가 사용됩니다. 변동 계수는 표준 편차를 산술 평균으로 나눈 뒤 백분율로 나타낸 값으로, 상대적인 분산 정도를 보여줍니다. 변동 계수 값이 클수록 측정값들의 상대적 분산이 크다는 것을 의미합니다.

주변 매체(공기, 헬륨, 진공), 디텍터, 스팟 크기, 원자 번호 및 응용 분야에 따라 약 0.005 - 60 µm의 층 두께로 원자 번호 11부터 원소를 측정할 수 있습니다. 

측정 스팟은 콜리메이터와 측정 거리에 따라 달라집니다. 일반적인 값은 30µm ~ 3mm입니다.

측정 정확도는 측정 작업마다 다를 수 있습니다. 이는 측정 시간, 측정 지점 및 XRF 기기를 보정한 표준의 불확도에 따라 달라집니다. 

대부분의 XRF 기기는 독일 방사선 보호 조례에 따라 형식 승인을 받은 완전 방호형 기기입니다. 

데이터 내보내기는 내보낼 파라미터(측정값, 측정시간, 로트넘버 등)를 결정하는 데 사용할 수 있습니다. 내보내기 설정을 통해 데이터가 전송되는 시기와 경로를 설정할 수 있습니다. 측정 데이터를 텍스트 파일로 익스포트하거나 새로운 엑셀 시트에 값이 전송되도록 설정 할 수 있습니다. 

여기서는 Scatt 스펙트럼이 요청됩니다. Scatt 스펙트럼은 측정할 필요없이 메뉴에서 로드할 수 있습니다:  일반 ► 스펙트럼 로드 및 평가... 메뉴에서 로드할 수 있습니다.

통상 프로포셔널 카운터 디텍터 제품군은 FISIM의 버전이 라이트 버전이라 새로운 측정 프로덕트(레시피)를 만들 권한이 포함되어있지 않습니다. 단, FISIM을 슈퍼 버전으로 업그레이드 할 경우 새로운 측정 프로덕트를 만드는 권한 및 추가적인 옵션 기능들이 추가됩니다. 

아마도 파일► 메뉴에서 단일 측정값 인쇄가 활성화되어 있을 것입니다. 이 경우 각 단일 값이 프린터 버퍼로 전송되고 페이지가 가득 차면 자동으로 인쇄됩니다.'단일 측정값 인쇄'를 비활성화하고 프린터 버퍼를 지우면 해결됩니다.

블록 내에서 단일 값이 삭제된 경우 측정값 부분에 대시로 표시되며 값이 삭제됩니다. 이러한 경우에는 평가 ► 측정값 복원 메뉴에서 다시 표시할 수 있습니다. 그러나 일반적으로 블록 또는 프로덕트의 모든 측정값이 삭제된 경우는 데이터를 복원할 수 없습니다. 만약 측정시 스펙트럼 파일을 자동저장하는 옵션이 켜져있었다면 스펙트럼 파일을 불러오는 것으로 값을 복원할 수 있는 경우도 있습니다.

정확도는 코팅 두께, 표면 상태, 사용된 프로브 등에 따라 달라집니다. 이상적인 조건에서의 정확도 및 반복성은 각 프로브의 기술 데이터 시트에서 확인할 수 있습니다.

이 방식은 자성체 금속 위의 비자성체 금속(예: 철 위의 아연), 비전도성 플라스틱 위의 비자성 금속(예: 플라스틱 위의 구리), 또는 자성체 금속 위의 자성체 금속(예: 구리 위의 니켈) 등 다양한 조합을 측정할 수 있습니다.

진폭 감응 와전류 방식은 알루미늄의 아노다이징, 구리의 페인트, 티타늄의 세라믹 코팅처럼 전기 전도성·비자성 원소재 위의 비전도성 코팅 측정에 적합합니다.

자기 유도 방법을 사용하면 자성체 원소재 위의 비자성체 코팅(예: 철 위의 아연, 철 위의 페인트)을 측정할 수 있습니다.

두 방식 모두 실제 니켈 도금 부품으로 보정해야 합니다. 니켈의 자성은 부품마다 다를 수 있어, 측정 부품과 보정 부품이 다르면 측정 오차로 이어질 수 있습니다. 이는 특히 입고 검사에서 문제가 될 수 있습니다.

먼저 사용 설명서를 확인하세요. 해결되지 않으면 장비 일련 번호, 모델명, 프로브 종류, 소프트웨어 버전, 오류 코드, 오류 메시지와 발생 상황을 기록해 담당자에게 문의해야 합니다.

위상 감응 와전류 방식을 사용합니다 (DIN 50994 초안 및 DIN EN 2004-1 표준 참조).

MS/m은 메가지멘스/미터(MS/m)를 의미하며, 1 MS/m = 1,000,000 S/m입니다. 이는 전기 저항 단위(Ω·mm²/m)의 역수에 해당합니다.

%IACS는 International Annealed Copper Standard를 의미하며, 100% IACS는 58 MS/m에 해당합니다. 이 기준을 통해 다른 단위로 변환할 수 있습니다.

전기 전도도는 온도에 직접적으로 영향을 받습니다. 온도가 높을수록 전도도가 낮아집니다. 따라서 모든 전도도 값은 20°C 기준으로 환산해야 하며, Fischer의 전도도 표준도 20°C 기준값을 제공합니다.

• 측정하는 동안 기기가 실제와 동일한 온도에서 보정되어야 합니다.
• 또는 측정 및 보정 중에 온도 센서(내부/외부)를 사용하여 측정 대상의 온도를 기록해야 합니다.

이러한 조건이 충족되지 않으면 체계적인 측정 오류가 발생할 수 있습니다.

FDX10 및 FDX13H 듀플렉스 프로브를 사용할 수 있으며, 정확한 측정을 위해 아연층은 최소 70 µm 이상이어야 합니다.

ESG2 및 ESG20 프로브를 사용할 수 있으며, 이는 아연과 강철 사이에 확산층이 없는 경우에만 가능합니다. (예: 전기도금, 얇은 용융 아연 코팅)

깨끗한 표면, 안정적인 전극 접촉, 적절한 분리 속도, 그리고 코팅에 맞는 전해질 사용이 필요합니다. 자세히 알아보기

깨끗한 표면, 안정적인 전극 접촉, 적절한 분리 속도, 그리고 코팅에 맞는 전해질 사용이 필요합니다. 자세히 알아보기

코팅 두께, 표면 상태, 측정 셀 씰의 품질, 분리 속도, 코팅의 순도 등이 있습니다.

장치와 컴퓨터를 전송 케이블로 연결하고, 드라이버를 설치한 후 평가 프로그램에서 올바른 인터페이스를 선택합니다. 데이터 구분을 위해 그룹 구분 기호를 설정할 수도 있습니다.

드라이버가 제대로 설치되지 않았거나 관리자 권한이 없을 수 있습니다. 또한 소프트웨어에서 잘못된 인터페이스를 선택했을 가능성도 있으니 장치 관리자에서 확인이 필요합니다.

거친 표면에서는 항상 안정적으로 영점을 잡기 어렵습니다. 따라서 가능하다면 표면을 연마하는 것이 좋습니다. 또한 기류나 외부 진동으로 인해 측정값이 불안정하거나 부정확할 수 있으므로, 계측기는 보호된 장소에 설치해야 합니다. 매우 낮은 힘으로 측정할 때는 보호 케이스와 댐핑 테이블을 사용하면 외부 영향을 최소화할 수 있습니다.

인덴터가 더럽거나 마모되었을 수 있습니다. WIN-HCU®는 정기적으로 청소 절차를 제공합니다. 또한 애플리케이션과 각 샘플에 맞는 올바른 조건을 선택했는지 확인하세요. 테스트 조건이 올바르지 않으면 편차가 발생할 수 있습니다. 이러한 조치로도 문제가 해결되지 않는다면, 압자가 마모된 경우일 수 있으며 이때는 Shape Correction이 필요합니다. 모양 보정은 Fischer 전문가만 수행해야 합니다.

현미경에 잘못된 렌즈가 설정되어 있을 수 있습니다. 다른 렌즈를 사용해 보고, 자동 렌즈 인식 기능이 없는 기기라면 WIN-HCU® 올바른 렌즈가 선택되었는지 확인하세요.

여전히 자국이 보이지 않는다면 검사 하중이 너무 낮은 경우 일 수 있습니다. 이 경우 원자현미경(AFM)으로 확인이 가능합니다. 또 다른 이유로는 현미경 위치와 실제 측정 위치 간 오프셋이 지나치게 큰 경우가 있습니다. 오프셋은 Measuring table ► Microscope settings 에서 확인할 수 있습니다.

코팅을 횡단면으로 측정할 때는 Fischer의 마이크로 섹션 샘플 홀더 사용을 권장합니다. 적절한 홀더 없이 측정하면 장착 과정에서 오프셋이 발생할 수 있습니다.

언로딩 곡선이 기록되지 않았을 가능성이 큽니다. 설정을 확인해 보세요. 또한 매우 부드러운 시편은 하중(크리프) 하에서 계속 변형되므로 모든 경우에 압입 경도를 측정할 수 있는 것은 아닙니다. 이때는 압흔 크리프(CIT)를 결정하기 위해 크리프 설정을 사용해야 합니다. WIN-HCU® 소프트웨어에서 Edit ► Application settings ► Parameters ► Straight 메뉴를 통해 ISO 14577에 따른 압입 계수 EIT와 압입 경도 HIT를 결정할 수 있습니다.

측정 중 시료가 하중을 받아 변형된 경우입니다. 테스트 시편이 제대로 고정되어 있는지 확인하고, 필요하다면 Fischer의 HM 범용 시편 그립이나 HM 호일 클램핑 장치를 사용하세요.

선택한 테스트 하중이 코팅 두께에 비해 너무 높습니다. 이 경우 기판이 측정에 영향을 주게 됩니다.

동적 측정 모드는 관리자만 활성화할 수 있습니다. 관리자 권한이 있음에도 활성화가 되지 않는다면 고객사 보안 소프트웨어에서 이를 제한하고 있을 수 있습니다. 보안 제한이 적은 PC에서 시도해 보시는 것도 방법입니다.

Shape Correction은 관리자 권한이 필요합니다. WIN-HCU®에 관리자 권한으로 로그인하세요. 또한 Shape Correction은 Fischer 전문가 또는 자격을 갖춘 직원만 수행해야 합니다. 추가로, 압자 위치가 400 µm 이상일 경우에도 새 측정을 시작할 수 없습니다.

먼저 Setting ► Options ► User-defined export 애서 내보내기 항목을 정의해야 합니다. 정의하지 않으면 내보내기 실행이 불가능합니다.

? ► about WIN-HCU 메뉴에서 확인할 수 있습니다. 여기에서 장비의 일련 번호와 WIN-HCU® 버전을 확인할 수 있습니다.

측정값을 비교하려면 최소한 산술 평균, 표준 편차, 개별 측정값의 개수가 필요합니다. 표준 편차와 측정값 수가 없다면 평균값만으로는 의미 있는 비교를 할 수 없습니다.

DIN EN ISO 9001 표준에 따르면 추적성이 필요한 경우 측정 장비를 반드시 교정해야 합니다. 모든 물리적 측정 방법은 코팅과 기재 재료의 특성(부품 형상, 전기 전도도, 자성, 코팅 밀도, 표면 상태 등)에 영향을 받습니다. 따라서 레이어나 기재 특성이 달라질 때마다 측정 장비를 재보정해야 할 수 있습니다.

평평한 시트에서 교정된 장비를 곡면에 사용하면 체계적인 측정 오류가 발생합니다. 일반적으로 값이 실제보다 높게 나타납니다. 이는 측정 장치가 곡면 신호를 평면 신호로 잘못 해석하기 때문입니다. 따라서 부품의 형상이나 기하 구조가 달라지면 반드시 재보정이 필요합니다.

보정(특성 곡선)이 다른 장비를 사용했거나, 동일한 장비라도 서로 다른 표면에서 측정을 했기 때문일 수 있습니다. 정확한 비교를 위해서는 측정 장비가 교정 표준에 맞게 보정되어야 하며, 실제 코팅되지 않은 표면과 코팅 두께 측정을 반드시 포함해야 합니다. 또한 동일한 지점 또는 동일한 표면에서 충분한 횟수의 측정을 수행해야 합니다. 그래야만 신뢰할 수 있는 평균값과 표준 편차를 얻을 수 있습니다.

보정용 포일을 코팅되지 않은 샘플에 올려두고 실제 측정할 위치에서 여러 번(보통 5~10회) 측정합니다. Fischer의 기본 교정 플레이트는 이 과정에 적합하지 않습니다. 측정된 평균값과 포일 두께를 비교해 허용 가능한 편차 이내라면 장비가 올바르게 보정된 것입니다. 보다 공식적인 평가는 DIN EN ISO 2178:2016 및 DIN EN ISO 2360:2017 표준에 따라 수행됩니다.

이 프로브는 페인트와 아연의 총 두께를 측정하는 동시에 아연층 위에 도포된 페인트 두께도 구분해 측정할 수 있습니다. 교정을 위해서는 원래 부품과 동일한 형태의 코팅되지 않은 강철 시편과 최소 70µm 이상의 아연층을 가진 아연 도금 시편이 필요합니다. 강철 부품은 자기 유도 채널 보정에 사용되며, 아연 도금 부품은  와전류 채널 보정에 사용됩니다. 이때 보정 포일은 각각 예상되는 총 코팅 두께와 페인트 두께 범위에 맞춰 선택해야 합니다.

이 프로브는 페인트와 아연의 총 두께뿐만 아니라 페인트 아래에 존재하는 아연 두께도 정확하게 측정할 수 있습니다. 교정 시에는 코팅되지 않은 강철 부품과 일반적인 아연 도금 부품이 필요합니다. 강철 부품은 자기 유도 채널 교정에 사용되고, 총 두께 범위에 맞는 보정 포일이 필요합니다. 아연 도금 부품에서는 와전류 채널 을 교정하는데, 이 경우 아연층 자체가 교정 기준으로 사용되므로 별도의 보정 포일은 필요하지 않습니다. 아연 두께는 미리 측정할 필요가 없으며, 첫 단계에서 보정된 자기 유도 채널이 기준값을 제공합니다.

네, 영향을 줍니다. 예를 들어 밀도 2 g/cm³의 코팅으로 교정된 장비를 밀도 1 g/cm³의 코팅에 사용하면 체계적인 오류가 발생합니다. 장비가 새 물체의 신호를 기존 밀도(2 g/cm³)로 해석하기 때문에 실제보다 낮은 값이 표시됩니다.

노미네이션은 측정 작업을 현재 설정이나 새로운 기본 재료에 맞게 조정하는 것을 의미합니다. 이는 1차 필터, 양극 전류, 콜리메이터를 변경할 때 반드시 수행해야 하며, 기본 재료의 합금 조성이 변경된 경우에도 필수적으로 요구됩니다.

교정 표준을 다시 측정하여 장비 상태를 점검 할 수 있습니다. 이를 "교정" 또는 "캘리브레이션"이라고 하며, 측정값과 표준시편의 공칭값 사이에 큰 편차가 발견되면 캘리브레이션 또는 기기의 점검이 필요합니다.

레퍼런스 측정은 에너지 축의 재교정을 의미합니다. 이는 온도 영향을 보정하기 위해 프로포셔널 카운터 튜브용 XRF 기기를 조정하는 과정입니다.

메뉴 항목 ►표준시편 측정모드 에서 표준시편을 재측정할 수 있습니다. 이때 편차가 발견되면 XRF 기기를 다시 교정해야 합니다.

이는 표준시편이 얼마나 자주 사용되는지에 따라 달라집니다. 일반적으로 약 1~3년 주기로 재인증하는 것이 보편적입니다.

네, 가능합니다. 프로포셔널 카운터 튜브 장비에서는 보통 2~3개의 포일을, PIN 또는 실리콘 드리프트 디텍터 장비에서는 1개의 포일을 사용할 수 있습니다.

아니요. 순수 원소 플레이트는 포화 두께로 인해 안정성이 매우 높으므로 재인증할 필요가 없습니다.

이 경우 WinFTM®은 모재를 측정하도록 요구하는 것입니다. 따라서 캘리브레이션 세트와 측정 대상의 코팅되지 않은 모재(원소재)를 올려 측정해야 합니다. 잘못된 모재(원소재)를 사용할 경우 결과의 정확성에 큰 영향을 미칠 수 있으므로 주의가 필요합니다.

ISO 17025 인증서는 공인 기관에서 정의한 절차에 따라 발급되며, 제조사 인증서 보다 불확실성이 낮습니다. 따라서 신뢰성과 정확성이 특히 중요한 경우 ISO 17025 인증서를 권장합니다.

Fischer는 특정 유지보수 주기를 지정하지 않습니다. 표준 시편을 재교정을 위해 보내야 할 필요성은 사용 조건, 환경 및 보관 요인, 그리고 귀사의 특정 표준 시편에 대한 의존도 및/또는 내부 검사 장비 요구사항에 따라 크게 달라질 수 있습니다. 따라서 귀사 또는 귀사의 검사 장비 모니터링 팀이 표준 시편을 보내야 할 적절한 주기를 평가하고 결정하는 데 가장 적합합니다. 일반적인 주기는 약 1~3년마다입니다.

개별 상담이 필요하십니까? 주저하지 마시고 당사에 문의하십시오.

아니요, 인증서에는 정해진 유효 기간이 없습니다. 표준 시편을 재교정을 위해 보내야 할 필요성은 사용 조건, 환경 및 보관 요인, 그리고 귀사의 특정 표준 시편에 대한 의존도 및/또는 내부 검사 장비 요구사항에 따라 크게 달라질 수 있습니다. 따라서 귀사 또는 귀사의 검사 장비 모니터링 팀이 재교정이 필요한 시점을 평가하고 결정하는 데 가장 적합합니다.

개별 상담이 필요하십니까? 주저하지 마시고 당사에 문의하십시오.

예, 맞춤형 특별 솔루션을 제공합니다. 한편으로는 기술적으로 가능한 경우, 당사 카탈로그의 층 두께를 조합하여 귀사의 특정 요구사항에 맞출 수 있습니다. 다른 한편으로는 기술적으로 가능하다면 귀사의 자재로 표준 시편을 제작할 수 있습니다. 귀사의 요구사항에 대해 Fischer 담당자와 자유롭게 상의하십시오.

표준 시편은 절대로 기계적으로나 화학적으로 세척해서는 안 됩니다! 그렇게 하면 손상, 불균일성 및/또는 층 두께 감소를 유발하여 교정 결과를 변경할 수 있습니다.

Al, Cu, Ag의 변색: 이 금속들의 경우, 금속 표면의 산화는 산화층을 형성하여 하부 금속이 산소와 더 이상 반응하지 않도록 보호합니다(부동태화). 금속에 따라 이는 전형적인 변색을 유발할 수 있지만, 측정 결과에 부정적인 영향을 미치지는 않습니다.

중요: 표준 시편을 세척하지 마십시오! 마모로 산화층을 제거하면 교정 결과가 왜곡될 수 있습니다.

Fe, Zn, Zn/Fe의 변색: 철 산화(녹) 또는 아연 산화(백청)의 경우, 부식은 표준 시편에 파괴적인 영향을 미칩니다. 부식이 발생하면 이러한 표준 시편은 교체를 위해 보내야 합니다. 부식성 환경은 부식 과정을 가속화하므로, 항상 표준 시편의 올바른 취급 및 보관에 특히 주의하십시오(다음 질문 참조).

예외적인 경우 COULOSCOPE® 표준 시편: 당사의 COULOSCOPE® 표준 시편은 세척에 관한 한 예외입니다. 니켈 산화층을 재활성화할 수 있는 "지우개"가 함께 제공됩니다.

표준 시편을 응축되거나 부식성 있는 환경에 보관하지 마십시오. 과도한 습도는 층을 손상시킬 수 있습니다.

아니요, 케이스에서 DAkkS 마크를 제거하지 마십시오. DAkkS 인증서는 케이스에 있는 해당 DAkkS 마크와 함께만 유효합니다.

요청 시 DAkkS 인증서를 재발급해 드릴 수 있습니다. 단, 이 경우 처리 시간이 길고 추가 비용이 발생할 수 있다는 점에 유의하십시오. 이를 위해 Fischer 담당자에게 직접 연락하시면 개별 견적을 기꺼이 제공해 드릴 것입니다.

아쉽게도 아직은 불가능하지만, 현재 작업 중입니다.

여기에서 이용 약관을 찾을 수 있습니다.

예, 하지만 이는 장치에 설치된 다중 모세관 광학 장치에 따라 다릅니다. 다중 모세관 광학 장치에 따라 약 10-50 µm 범위의 측정 스팟을 측정할 수 있습니다. 이 매우 작은 측정 스팟을 사용하여 "핀 홀"과 같은 국소적인 불균일성이나 거칠기가 높은 표면의 두께 차이를 시각화할 수 있습니다. 따라서 당사의 교정 표준 시편을 단일 지점 측정하면 (재료에 따라) 더 큰 측정 산포나 교정 결과의 왜곡을 초래할 수 있습니다. 따라서 당사의 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 장치로 측정된 표준 시편의 경우 항상 스캔 모드를 사용해야 합니다.

표준 시편은 개별적이며 표준화 대상이 아니므로 적합성 선언을 발행할 수 없습니다. 또한, 당사는 RoHS 측정 및 특수 코팅용 표준 시편도 제공하며, 이 중 일부는 RoHS를 준수하지 않는 재료를 사용해야 합니다.

당사의 표준 시편은 명시된 코팅 두께의 ±20%의 제조 관련 편차가 있을 수 있습니다. 이는 결함이 아니라 허용 가능한 공차 범위 내에 있습니다. 당사는 항상 명시된 견적값에 최대한 가까운 표준 시편을 제공합니다.

모든 측정값은 특정 정도의 편차를 가집니다. 따라서 재인증 후 인증서에 명시된 값은 명시된 측정 불확도 내에 있는 한, 라벨에 표시된 값과 다를 수 있습니다. DIN EN ISO/IEC 17025:2017에 따라 인증된 접촉식 포일의 경우, 포일에 인쇄된 값은 시스템 관련 요인으로 인해 인증서에 나열된 값과 다를 수도 있습니다. 현재 유효한 값은 항상 인증서에 명시된 값입니다.

예, 접촉식 표준 시편은 일반적으로 접촉 측정으로 인한 자연적인 마모에 노출됩니다. 표시된 측정 표면 내에 찌그러짐이나 균열과 같은 손상이 보이면 표준 시편을 교체하는 것이 좋습니다.

접촉식 측정 장치용 포일은 사용으로 인해 마모되므로 재인증될 수 없습니다.

포일 두께의 편차는 측정 설정 때문일 가능성이 높습니다. 포일이 평평한 스탬프로 측정되었다고 가정합니다. 이 방법으로는 포일 두께를 측정할 때 포일에 거의 자국이 남지 않습니다. 따라서 포일의 실제 두께가 측정됩니다. 이 방법으로 측정된 포일 두께는 일반적으로 Fischer가 지정한 포일 두께보다 약간 높습니다.

당사에서 측정한 교정 포일은 해당 측정 프로브로 당사 장치를 교정하는 데 사용됩니다.

Fischer의 측정 프로브는 교정 포일이나 측정할 표면에 놓이는 작은 볼 팁을 가지고 있습니다. 프로브를 플라스틱 포일에 놓으면 이 볼 팁이 작은 압력 자국을 만드는데, 이는 교정 포일의 두께 등에 따라 달라집니다. 이 압흔은 당사의 교정 포일을 측정할 때 고려됩니다. 결과적으로, Helmut Fischer에서 제조한 교정 포일의 공칭값은 항상 교정 포일의 실제 두께보다 약간 낮을 것입니다. 교정 포일의 이 압력 자국이 고려되지 않으면, 이 포일로 당사 측정 장치를 교정한 후 실제 부품에서 실제로 잘못된 층 두께를 측정하게 될 것입니다.