피셔 FAQ
질문이 있으신가요?
제품과 서비스에 대해 궁금한 점이 있으실 것입니다. 가장 자주 묻는 질문을 아래에 정리했습니다.
더 필요한 정보가 있다면 언제든지 문의 해 주세요.
성심껏 지원해 드리겠습니다.
또한 미디어 라이브러리에서 다양한 튜토리얼과 실용적인 정보를 확인하실 수 있습니다.
FAQ 중요 매개 변수
평균값
측정값 전체를 모두 더한 뒤 그 값의 개수로 나누면 산술 평균이 됩니다. 이 방법이 가장 일반적이며 다른 평균 계산 방법도 있지만 거의 사용되지 않습니다.
범위
범위 R은 가장 작은 측정값과 가장 큰 측정값 사이의 차이를 나타냅니다. 계산 방법은 최대값에서 최소값을 빼는 것입니다.
다만 범위는 이상값(극단적인 값)의 영향을 크게 받기 때문에 측정값의 개수가 적을 때에만 제한적으로 유용합니다.
데이터의 양이 많을 경우에는 범위보다 표준 편차가 분산 정도를 더 의미 있게 설명해 줍니다.
표준 편차
표준편차 σ는 측정값들이 평균 주변에서 얼마나 퍼져 있는지를 나타냅니다. 값들이 평균에 가까울수록 표준편차는 작고, 멀리 퍼질수록 표준편차는 커집니다. 측정 지점이 많을수록 비율의 의미가 더 커집니다.
변동 계수
표준 편차의 크기는 측정된 값의 분산뿐만 아니라 값의 크기에 따라 달라지며, 평균값이 높을수록 표준 편차도 높아집니다. 이 문제를 해결하기 위해 상대 표준 편차, 즉 변동 계수 V를 백분율로 표시하는 경우가 많습니다. 여기서 표준 편차는 산술 평균으로 나눕니다. 표준 편차와 마찬가지로 여기서도 높은 값은 측정값의 분산이 높다는 것을 나타냅니다.
FAQ XRF
XRF 방법(X-선 형광)이란 무엇인가요?
에너지 분산형 X-선 형광 분석(XRF) 은 원소 구성과 층 두께를 측정하는 데 사용할 수 있는 비파괴 측정 방법입니다. 이 방법은 입사된 1차 방사선에 의해 이온화된 원자로부터 특징적인 X-선이 방출되는 것을 이용합니다. 적절한 알고리즘을 사용하여 검사 중인 샘플의 양적 및 질적 원소 분포에 대한 결론을 도출할 수 있습니다.
XRF 방법을 사용하여 측정할 수 있는 것은 무엇인가요?
XRF 측정기는 비파괴 코팅 두께 측정및 재료 분석에 사용됩니다. 원칙적으로 나트륨(11)에서 우라늄(92)까지의 원소를 XRF 분석을 통해 측정할 수 있습니다. 측정할 수 있는 코팅 두께의 범위는 수 nm에서 약 100 µm까지입니다. 그러나 실제로 측정할 수 있는 층 두께는 고려 중인 층 시스템, 특히 가벼운 원소의 경우 환경 조건에 따라 크게 달라집니다. 바로 여기에서 측정 방법의 물리학이 한계를 설정합니다. 원소 분석에서는 밀당 범위의 농도를 측정할 수 있습니다. 여기에서도 원소 매트릭스 및 기타 영향 요인이 실제로 중요한 역할을 합니다.

XRF 측정을 위한 측정 스팟은 얼마나 큰가요?
시료의 측정 스팟은 콜리메이터의 크기와 사용된 측정 거리 또는 폴리카필러리 광학의 경우 초점이 맞는 스팟 크기에 따라 정의됩니다 . 콜리메이터의 일반적인 값은 30µm ~ 3mm이며, 폴리카필러리 광학이 있는 장치의 경우 10 ~ 20µm입니다.
엑스레이 튜브란 무엇인가요?
X-선 튜브는 1차 X-선 방사선을 생성하여 검사할 시료의 원자를 이온화하므로 XRF 분석 및 시료의 특징적인 형광 방사선을 생성하기 위한 기본 전제 조건을 제공합니다. 1차 X-선 방사선은 주로 브렘스트뢸웅 배경과 X-선 튜브에 사용된 양극 물질의 특징적인 X-선 방사선으로 구성된 연속 스펙트럼입니다(간단히 말해 여기 스펙트럼). 여기 스펙트럼의 정확한 모양은 사용된 튜브 전압과 전류, 양극의 스폿 크기에 의해 추가로 정의됩니다.
셔터란 무엇인가요?
셔터는 XRF 장비의 안전과 직결되는 핵심 구성 요소입니다. 측정이 시작될 때에만 열려 정확한 측정 시간을 제어하며, 그 외에는 항상 닫힌 상태로 유지되어 1차 X선 방사를 차단합니다.
또한 리미트 스위치가 장비 커버의 닫힘 상태를 감지하여, 측정 중 작업자가 1차 빔 영역에 접근할 수 없도록 안전을 보장합니다.
기본 필터의 용도는 무엇인가요?
기본 필터는 기본 방사선을 수정하는 데 사용됩니다. 필터에 따라 측정 작업의 여기 조건을 수정할 수 있습니다.
콜리메이터(Collimator) 또는 조리개(Aperture)란 무엇인가요?
콜리메이터는 XRF 측정 장비에서 1차 X선 빔의 단면을 제한하여, 시료 표면에 정의된 크기의 측정 스팟이 형성되도록 하는 장치입니다.
시료의 형상에 따라 작은 측정 스팟이 필요한 경우, Fischer XRF 장비는 다양한 크기의 콜리메이터를 선택할 수 있도록 설계되어 있습니다.
그러나 시료 구조상 매우 작은 측정 스팟이 요구되는 경우에는 기계식 콜리메이터 대신 폴리캐필러리 광학(Polycapillary Optics)이 사용됩니다. 이 기술은 비교적 많은 1차 여기 방사선을 10~20 µm 수준의 매우 작은 측정 스팟으로 집속할 수 있으며, 그 결과 측정 시간이 크게 단축됩니다.
폴리캐필러리 광학(Polycapillary Optics)이란 무엇인가요?
폴리캐필러리 광학은 수천 개의 매우 가는 유리 모세관(capillary)으로 구성되어 있으며, 전반사(total external reflection) 효과를 이용해 X선을 수 µm 수준의 미세한 스팟으로 집속시키는 기술입니다.
Fischer에서 자체 개발·제조한 폴리캐필러리 광학은 특히 작은 측정 스팟을 구현할 수 있으며, 장비에 따라 10 µm 또는 20 µm(예: FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ), 60 µm(롱 디스턴스 폴리캐필러리 적용 모델)까지 구현이 가능합니다.
폴리캐필러리 광학의 마이크로포커스 효과는 일반 콜리메이터 광학 대비 X선 빔 강도를 최대 10,000배까지 증가시킵니다. 이로 인해 매우 작은 구조도 짧은 측정 시간 안에 정밀하게 분석할 수 있습니다.
* 스팟 크기 기준: Mo-Kα에서의 반치폭(FWHM, Full Width at Half Maximum)
FISCHER XRF 장치에는 어떤 검출기가 설치되어 있나요?
- 비례 계수관(Proportional Counter Tube): 비교적 넓은 검출 입체각을 가지며, 구조가 복잡한 부품과 같이 측정 거리가 큰 경우에 적합합니다. 또한 작은 측정 스폿에서 비교적 얇은 코팅을 측정하는 등 단순한 측정 작업에 이상적입니다.
- 실리콘 PIN 다이오드(PIN Detector): 비례 계수관보다 훨씬 우수한 에너지 분해능을 제공합니다. 따라서 매우 얇은 층을 포함하는 다층 시스템 측정이나 정밀한 재료 분석에 주로 사용됩니다.
- 실리콘 드리프트 검출기(SDD): 최신 반도체 검출기로, 뛰어난 에너지 분해능과 PIN 대비 더 큰 검출 입체각을 동시에 제공합니다. 미량 원소 분석, 경원소 분석, 그리고 나노미터 범위의 초박막 코팅 측정에 특히 적합합니다.
검출기는 시료에서 방출되는 X-선 형광 호와 산란 스펙트럼을 흡수하여 에너지 분산 방식으로 측정합니다. 즉, 측정 시간 동안 입사하는 각 광자에 특정 에너지를 할당하고, 이를 바탕으로 에너지 대비 강도(Intensity vs. Energy) 형태의 형광 스펙트럼을 생성합니다.
이 스펙트럼은 이후 수행되는 코팅 두께 측정 및 재료 분석의 기초 데이터가 됩니다.
Fischer XRF 장비에는 다음 세 가지 검출기 유형 중 하나가 장착됩니다. 각 검출기는 작동 원리와 주요 적용 분야에서 차이를 보입니다.
디지털 펄스 프로세서(DPP)는 어떤 이점을 제공하나요?
이 하이테크 부품은 피셔에서 개발했습니다. 디지털 펄스 프로세서(DPP)는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환합니다. DPP의 품질 핵심은 손실 없이 가능한 한 많은 이벤트를 최단 시간에 처리하거나 여러 이벤트를 하나로 병합하는 능력입니다.
피셔의 DPP+는 초당 최대 500,000개의 펄스를 처리할 수 있어 측정 시간을 최단 시간으로 유지하면서 측정 시간을 최적화하는 데 크게 기여합니다.

XRF 측정 결과는 얼마나 정확하나요?
정확도는 측정 결과와 샘플의 "실제" 값 사이의 예상 편차를 나타냅니다.
그러나 정밀도에 영향을 미치는 무작위 오류와 정확도에 영향을 미치는 체계적 오류를 구분하는 것이 중요합니다. 정밀도는 분광기의 품질, 측정 거리, 측정 시간, 작업자의 영향 및 환경 조건 등의 요인에 의해 영향을 받습니다. 반면 정확도는 주로 사용된 표준의 불확실성이나 잘못 가정된 시료 구성과 같이 보정 시 잘못된 가정에 의해 영향을 받습니다.
XRF 측정의 반복성에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?
- 분광기의 품질
- 측정 거리
- 콜리메이터/측정 지점
- 층 두께
- 여기 조건
- 측정 시간
반복성은 동일한 조건에서 장치로 측정할 때 시료에서 얻은 측정값의 분산을 의미합니다. 이상적인 조건에서 측정한다는 것은 여러 번 측정해도 시료가 변하지 않고 이동하지 않는다는 것을 의미합니다. 영향을 미치는 요인은 다음과 같습니다:
XRF 측정의 재현성에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?
- 위치(경사면, 원통형 부품, 음영)
- 샘플의 초점
- 작업자의 영향
- 샘플의 속성
- 기본 재료의 두께
- 추가 배경(예: 산란 방사선으로 인한 PCB)
- 기본 재료 및 코팅의 구성
- 거칠기
- 환경 조건
재현성은 다양한 조건에서 장치로 측정할 때 샘플에서 얻은 측정값의 분산을 의미합니다. 다양한 조건이란 여러 위치 및/또는 여러 사람 및/또는 다양한 환경 조건에서 측정하는 것을 의미합니다. 영향을 미치는 요인에는 다음이 포함됩니다:
XRF 측정의 정확도에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?
- 추적 가능성
- 표준의 불확실성
- 표준 측정의 불확실성
- 기본 재료 보정의 오류
- 층의 밀도 및 구성
- 샘플과 보정 표준의 차이
XRF 측정의 정확도에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?
정확도는 측정 결과와 정확한(알 수 없는) 값 사이의 편차에 대한 추정값입니다. 영향을 미치는 요인은 다음과 같습니다:
FAQ XRF - 소프트웨어 및 운영
XRF 장비의 최신 소프트웨어 버전은 어디에서 다운로드할 수 있나요?
최신 소프트웨어는 기본적으로 XRF 장비와 함께 제공됩니다. 추가 문의 사항이 있거나 업데이트가 필요한 경우에는 담당 영업 또는 서비스 담당자에게 문의해 주시기 바랍니다.
“데이터 내보내기(Data Export)” 마스크란 무엇인가요?
데이터 내보내기 마스크는 어떤 파라미터를 어떤 형식으로 내보낼지 정의하는 기능입니다.
WinFTM® 소프트웨어 메뉴에서 **“Evaluation ► Export ► Export Settings”**로 이동하면, 내보낼 데이터 항목과 파일 형식을 설정할 수 있습니다. 또한 데이터 전송 방식을 온라인 전송, Excel 파일 저장, RS232 출력 또는 TCP-IP 전송 중에서 선택할 수 있습니다.필요에 따라 하나 이상의 내보내기 마스크를 사전에 정의해 둘 수 있으며, 추가적인 설정 옵션도 제공합니다.
XRF 장치에서 "Scatt"를 요청하면 측정되는 것은 무엇인가요?
WinFTM® 소프트웨어에서 “Scatt”는 산란(Scatter) 시료를 의미하며, 이는 아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 공중합체(ABS)로 구성된 기준 시료입니다. 해당 시료와 산란 스펙트럼은 출고 시 공장에서 이미 교정되어 제공됩니다.
다만, 산란 스펙트럼을 다시 불러와야 하는 경우에는 소프트웨어 메뉴 **“General ► Load and evaluate”**를 통해 로드할 수 있습니다.
새 측정 작업을 만들 수 없는 이유는 무엇인가요?
새로운 측정 작업을 생성하려면 “Super Software”라고 불리는 별도의 소프트웨어 라이선스가 필요합니다. 해당 라이선스가 활성화되어 있지 않으면 새로운 측정 작업을 만들 수 없습니다.
라이선스를 별도로 구매하실 수 있으며, 필요 시 Fischer 애플리케이션 담당자가 측정 작업 설정을 지원해 드립니다.
XRF 장치는 모든 측정값을 메시지 없이 인쇄합니다.
WinFTM® 소프트웨어 메뉴에서 "개별 값 인쇄" 옵션이 활성화되어 있을 수 있습니다. 이 경우 각 개별 값이 프린터 버퍼로 전송되고 페이지가 가득 차면 자동으로 인쇄됩니다. "개별 값 인쇄"를 비활성화하고 프린터 버퍼를 삭제합니다.
측정값이 실수로 삭제되었습니다. 복원할 수 있나요?
블록 내에서 개별 값이 삭제된 경우 측정값 목록에 대시가 표시됩니다. 블록의 개별 측정값을 다시 표시하려면 WinFTM® 소프트웨어 메뉴에서 "평가 ► 측정값 복원"으로 이동합니다. 단, 전체 블록 또는 항목이 삭제된 경우 데이터를 복구할 수 없습니다.
소프트웨어의 어떤 기능이 FISCHER 디바이스로 측정하는 것을 특별하게 만드나요?
당사의 WinFTM® 소프트웨어는 X-선 형광 분석을 이용한 코팅 두께 측정 및 재료 분석을 위한 시중에서 가장 강력한 소프트웨어입니다. 측정 데이터를 효율적으로 평가 및 관리하고 표준 없이 정확한 측정을 가능하게 합니다.
FAQ XRF - 애플리케이션
XRF는 어떤 산업에 적합합니까?
- 전자 및 반도체
- 전기 도금
- 자동차
- 금, 귀금속 분석 및 보석류
- 페인트 및 바니시
- 체결 기술
- 철 및 철강
- 가정 및 설비
- 항공우주
- 건설 및 인프라
- 그리고 훨씬 더
XRF 분석은 다양한 산업 분야에서 사용됩니다. 어떤 산업 분야에 종사하든 고객의 요구 사항과 과제를 잘 알고 있으므로 고객의 응용 분야에 꼭 맞는 맞춤형 측정 솔루션을 찾아드립니다. 신뢰할 수 있는 산업 분야는 다음과 같습니다:
다른 측정 방법에 비해 XRF가 제공하는 장점은 무엇인가요?
- 비파괴: 샘플이 X-선 형광에 의해 손상되지 않으므로 입출고 검사 또는 제조 공정 중에 사용하기에 이상적입니다.
- 최소한의 시료 준비: 대부분의 경우 X-선 형광 분석을 사용한 측정에는 시료 준비가 필요하지 않습니다.
- 짧은 측정 시간: 대부분의 애플리케이션을 몇 초 내에 측정할 수 있습니다.
- 다중 원소 분석: 한 번의 측정으로 여러 원소와 층 두께를 동시에 측정할 수 있습니다.
- 광범위한 응용 분야: X-선 형광 분석은 밀당 범위의 원소 농도 또는 최대 100%의 순도 수준뿐만 아니라 수 nm에서 10 µm에 이르는 층 두께를 측정할 수 있습니다.
FISCHER의 XRF 기기를 선택해야 하는 이유는 무엇인가요?
- FISCHER = 코팅 두께 측정 분야의 시장 리더
- 휴대용 기기, 벤치탑 시스템에서 완전 통합형 하이엔드 시스템에 이르는 광범위한 XRF 제품 포트폴리오
- 독일산, 최고의 제조 품질
- 탁월한 측정 정밀도 및 신뢰성
- 고객의 요구 사항에 맞는 다양한 개별 구성: 다양한 검출기, X-선 튜브 및 광학장치(콜리메이터 및 폴리카필러리 광학장치), 측정 방향, 테이블 구성 등
- 최대 24개 원소에 대한 동시 원소 분석
- 인증 및 맞춤형 표준
- 코팅 두께 측정 및 재료 분석을 위한 강력한 소프트웨어(WinFTM®, FISIQ® X)
- 수십 년의 전문성을 갖춘 최고 수준의 고객 서비스 및 어플리케이션 컨설팅
여러 가지 이유가 있으니 직접 확인해 보세요:
FISCHER XRF 기기에 대한 관련 제품 정보는 어디에서 찾을 수 있나요?
FISCHER 측정기를 구매하면 QR 코드를 통해 모든 추가 정보를 편리하게 받아볼 수 있습니다.
FAQ Tactile
피셔 코팅 두께 게이지의 측정 정확도에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?
코팅 두께 게이지의 측정 정확도는 코팅 두께, 표면 상태, 사용된 프로브 등과 같은 요인에 따라 달라집니다. 이상적인 조건에서의 정확도 및 반복성에 대한 정보는 프로브의 기술 데이터 시트에서 확인할 수 있습니다.
위상 감응 와전류 방식: 어떤 레이어-베이스 재료 조합을 측정할 수 있습니까?
여기에는 다양한 측정 옵션이 있습니다: 예를 들어 위상 감응 와전류 방법을 사용하여 자화성 금속에서 비자화성 금속을 측정할 수 있습니다. 예를 들어 철 위에 아연이 있습니다. 그러나 전기적으로 비전도성인 플라스틱 위에 자화되지 않는 금속도 생각할 수 있습니다(예: Iso 위에 구리). 또 다른 측정 예로는 구리 위의 니켈(자화성 금속 위에 자화성 금속)이 있습니다.
진폭 감응형 와전류 방법: 어떤 레이어-베이스 재료 조합을 측정할 수 있나요?
진폭 감응 와전류 방법은 알루미늄의 아노다이징 또는 페인트, 구리의 페인트 또는 티타늄의 세라믹과 같이 전기 전도성, 자화 불가능한 기본 재료의 전기 비전도성 코팅을 측정하는 데 사용됩니다.
자기 유도 방식: 어떤 레이어-베이스 재료 조합을 측정할 수 있나요?
자기 유도 방식을 사용하면 철 위에 아연이나 철 위에 페인트와 같이 자화하기 쉬운 기본 재료의 비자성 코팅을 측정합니다.
위상에 민감한 와전류 프로브와 자기 유도 프로브로 니켈 층을 측정할 때 고려해야 할 사항은 무엇입니까?
각각의 경우 실제 니켈 도금 부품과 알려진 코팅 두께로 보정해야 합니다. 니켈 코팅의 자성은 매우 다양할 수 있으므로 측정할 부품과 보정할 부품의 자성이 상당히 다를 수 있습니다. 이는 측정 오류로 이어질 수 있으며, 특히 입고 물품 검사에서 문제가 될 수 있습니다.
측정 장치 또는 피셔 프로그램에서 알 수 없는 오류 메시지가 표시됩니다. 어떻게 해야 하나요?
먼저 사용 설명서를 확인하여 오류 및 수정 사항이 설명되어 있는지 확인하세요. 그렇지 않은 경우 일련 번호, 측정 장치의 정확한 명칭, 측정 프로브, Fischer 프로그램의 버전 번호, 오류 번호(오류 코드), 오류 메시지의 정확한 문구 및 오류가 발생한 상황을 보내주시기 바랍니다. 여기에서 담당자를 찾을 수 있습니다.
시그마스코프®는 특정 전기 전도도를 측정하기 위해 어떤 방법을 사용하나요?
위상 민감 와전류 방식 ( 표준 DIN 50994 및 표준 DIN EN 2004-1 참조).
시그마스코프®의 측정 단위 MS/m은 무엇을 의미하나요?
MS/m은 1m당 메가 지멘스를 의미하며, 이는 1,000,000 지멘스/m에 해당합니다. 이 단위는 특정 전기 저항률 Ohm x mm²/m에 대한 측정 단위의 역수(역수)입니다. 따라서 1 지멘스는 1/옴에 해당합니다.
시그마스코프®의 측정 단위 %IACS는 무엇을 의미하나요?
IACS는 "국제 어닐링 구리 표준"을 의미합니다. 이 측정 단위는 영미권 국가에서 자주 사용됩니다. 다음이 적용됩니다: 100 % IACS의 특정 전기 전도도는 58 MS/m에 해당합니다. 이 관계를 통해 모든 전기 전도도 값을 한 측정 단위에서 다른 단위로 변환할 수 있습니다.
시그마스코프®로 전기 전도도를 측정할 때 측정 대상의 온도에 주의를 기울여야 하는 이유는 무엇인가요?
- 측정하는 동안 기기가 실제와 동일한 온도에서 보정되어야 합니다.
- 또는 측정 및 보정 중에 온도 센서(내부/외부)를 사용하여 측정 대상의 온도를 기록해야 합니다.
특정 전기 전도도는 온도에 직접적으로 의존합니다. 온도가 높을수록 전도도가 낮아집니다. 측정값의 비교 가능성을 보장하기 위해 전도도는 항상 20°C를 기준으로 지정됩니다. 이러한 이유로 피셔의 전도도 표준도 20°C에 대한 값을 제공합니다.
SIGMASCOPE®가 물리적으로 실제 전도도의 측정값을 20°C로 변환할 수 있으려면 다음 조건이 충족되어야 합니다:
이러한 조건이 충족되지 않으면 체계적인 측정 오류가 발생할 수 있습니다.
고강도 부식 방지에서 "강철에 용융 아연을 칠하는" 이중 코팅 시스템의 코팅 두께를 측정하는 데 사용할 수 있는 프로브는 무엇입니까?
FDX10 및 FDX13H 듀플렉스 측정 프로브 사용. 이러한 프로브는 정확한 측정을 위해 용융 아연의 최소 코팅 두께가 70µm여야 합니다.
이중 코팅 시스템 "얇은 아연 도금 강철에 페인트"의 코팅 두께를 측정하는 데 사용할 수 있는 프로브는 무엇입니까?
얇은 아연 층의 경우 ESG2 및 ESG20 프로브가 사용됩니다. 이러한 프로브는 아연과 강철 사이에 확산층이 없는 경우에만 사용할 수 있습니다. 이는 일반적으로 전기 도금 및 매우 얇은 용융 아연 코팅(예: 자동차 엔지니어링)의 경우에 해당합니다. 두께가 70µm 이상인 고강도 부식 방지 용융 아연 코팅은 일반적으로 강철과 아연 사이에 뚜렷한 확산층을 형성합니다. 이러한 경우에는 ESG2 및 ESG20 프로브를 사용할 수 없습니다.
전해식 측정법으로 측정할 수 있는 레이어-베이스 재료 조합은 무엇입니까?
금속, 플라스틱 또는 세라믹의 전기 전도성 금속 층. 자세히 알아보기
전해식 측정에 필요한 요건은 무엇인가요?
깨끗한 코팅 표면, 측정할 물체에 대한 스탠드 클램프의 양호한 접촉 등 다음 조건이 충족되어야 합니다. 또한 코팅 두께에 맞는 분리 속도를 선택해야 합니다. 또한 적절한 전해질을 사용해야 합니다. 자세히 알아보기
전해식 측정 방법의 정확도에 영향을 미치는 요인은 무엇인가요?
코팅 두께, 표면 상태, 사용된 측정 셀 씰, 분리 속도 및 코팅의 순도 등이 그 요인입니다.
내 컴퓨터로 데이터를 전송하려면 어떻게 해야 하나요?
전송 케이블을 컴퓨터와 측정 장치에 연결합니다. 컴퓨터에 적절한 드라이버 소프트웨어를 설치합니다. 사용 중인 평가 프로그램에서 측정기가 연결되는 올바른 인터페이스를 선택합니다. 측정값의 그룹을 구분하려면 측정 장치에서 그룹 구분 기호를 설정하세요.
데이터 전송이 작동하지 않는 이유는 무엇인가요?
그 이유는 다음과 같습니다: 올바른 드라이버가 관리자 권한으로 로드되었나요? 컴퓨터의 소프트웨어에서 올바른 인터페이스를 선택했나요? (자세한 내용은 장치 관리자 참조)
휴대용 측정기 최신 소프트웨어 버전은 어디서 다운로드할 수 있나요?
휴대용 측정기의 경우 미디어 라이브러리에서 최신 버전의 소프트웨어를 찾을 수 있습니다.
휴대용 FISCHER 측정기와 관련된 제품 정보는 어디에서 찾을 수 있나요?
FISCHER 측정기를 구매하면 QR 코드를 통해 모든 추가 정보를 편리하게 받아볼 수 있습니다.
자주 묻는 측정 방법
XRF 방법/에너지 분산형 X-선 형광 분석(XRF)
에너지 분산형 X-선 형광 분석(XRF) 은 원소 구성과 층 두께를 측정하는 데 사용할 수 있는 비파괴 측정 방법입니다. 물질이 X선으로 여기되면 원자는 특징적인 형광 신호를 방출합니다. 방출된 방사선의 스펙트럼을 통해 시료의 성질에 대한 결론을 도출할 수 있습니다. 형광 스펙트럼은 샘플의 양적 및 질적 원소 분포와 해당 층 두께를 결정하는 데 사용할 수 있습니다.
자기 측정 방법
자기 방식은 홀 효과를 사용하여 홀 전압 변화를 측정함으로써 비자성 물질에 대한 자성 코팅의 층 두께를 결정합니다(또는 그 반대의 경우도 마찬가지).
진폭 감응형 와전류 방식
진폭 감응 와전류 방식은 금속에 유도된 와전류로 인해 코일에 의해 생성된 교류 자기장의 감쇠를 감지하여 전기 전도성이 있지만 자성이 없는 비철 금속의 층 두께를 측정합니다.
위상 감응 와전류 방식
위상 감응 와전류 방식은 와전류에 의해 발생하는 임피던스 변화의 위상각을 감지하고 이를 사용하여 코팅 두께를 계산함으로써 다양한 기판의 전기 전도성 코팅 두께를 측정합니다.
이중 코팅
자동차 엔지니어링과 같은 이중 코팅 측정의 경우, 자기 유도 방식과 위상 감응 와전류 방식을 결합하여 두께에 관계없이 아연 및 페인트 층을 정확하게 측정합니다.
자기 유도 방식
자기 유도 측정 방식은 교류 자기장의 증폭을 감지하여 비파괴 코팅 두께 측정에 모재의 자기 특성을 이용합니다.
페라이트 콘텐츠
자기 유도 방식은 페라이트 입자에 의한 저주파 자기장의 증폭을 측정하여 강철의 페라이트 함량을 비파괴적으로 측정하는 데 사용됩니다.
전기 전도성
전도도 방법은 위상 감응 와전류 프로브를 사용하여 금속의 전기 전도도를 비파괴적으로 측정하여 조성 및 미세 구조와 같은 재료 특성을 결정합니다.
마이크로 저항 방식
미세 저항 방식은 프로브로 전류를 통과시켜 절연 기판의 전기 전도성 층의 두께를 정밀하게 측정하고 층 두께에 따라 달라지는 두 측정 바늘 사이의 전압 강하를 기록하는 방식입니다.
베타레이 산란 방법
베타레이 산란 방법을 사용하면 방사성 원자의 방사선을 사용하여 다양한 기판에서 유기 및 무기 층의 두께를 비파괴적으로 측정할 수 있습니다.
전해식 측정 방법
전해식 측정 방법은 패러데이의 법칙에 따라 금속 층을 용해하고 필요한 시간에 걸쳐 두께를 계산합니다. 모든 기본 재료의 여러 금속층에 적합하며 특히 다층 시스템의 경우 X-선 형광에 대한 비용 효율적인 대안입니다.
FAQ 칼리브레이션 - Tactile
측정값을 사용할 때 최소로 사용해야 하는 통계적 특성 값은 무엇인가요?
측정값을 비교하려면 최소한 다음과 같은 특성 값을 사용해야 합니다: 산술 평균, 표준 편차 및 개별 측정값의 개수. 해당 표준편차와 측정값 수가 없으면 평균값을 서로 의미 있고 진지하게 비교할 수 없습니다.
측정기를 캘리브레이션해야 하는 이유는 무엇인가요?
DIN EN ISO 9001 표준에 따르면, 추적성이 필요한 경우 측정 장비는 반드시 보정해야 합니다. 모든 물리적 측정 방법은 코팅 및 기본 재료의 특성에 영향을 받습니다. 이러한 특성의 예로는 부품 형상, 전기 전도도, 자성, 코팅의 밀도 또는 측정 표면 등이 있습니다. 따라서 레이어 또는 기본 재료의 특성이 변경될 때마다 측정 장비를 재보정해야 할 가능성이 높습니다.
평평한 시트에서 자기 유도 전류 또는 와전류 측정 장치를 교정했는데 이제 예를 들어 직경이 작은 회전 부품에서 측정하고 싶습니다. 다른 교정 없이 이 작업을 수행할 수 있나요?
아니요. 평평한 시트에서 보정하면 곡면에서 체계적인 측정 오류가 발생합니다. 결과적으로 측정값이 너무 높아집니다. 이는 측정 장치가 곡면 물체에서 나오는 신호를 마치 평평한 부품에서 나오는 것처럼 평가하기 때문입니다. 따라서 부품 또는 측정 표면의 모양이나 기하학적 구조가 변경되면 정기적인 보정이 필요합니다.
두 사람이 서로 다른 측정 결과에 도달합니다. 그 이유는 무엇이며 어떻게 해야 할까요?
가능한 원인은 보정(특성 곡선)이 다른 두 개의 측정 장치를 사용하거나 동일한 측정 장치로 측정했지만 다른 측정 표면에서 측정했기 때문일 수 있습니다. 측정 장치로 얻은 측정값의 정확성은 항상 교정 표준에 의해 보장됩니다. 자기 유도 및 와전류 측정기의 경우, 측정할 실제 코팅되지 않은 물체의 측정 표면에서 보정을 수행해야 하며, 코팅된 부품에 대해서도 코팅 두께를 측정해야 합니다. 또한 동일한 지점 또는 동일한 측정 표면에서 측정이 이루어져야 하며, 의미 있는 평균값과 의미 있는 표준 편차를 위해 충분한 수의 측정값이 기록되어 있는지 확인해야 합니다. 그래야만 비교 가능한 측정 결과를 얻을 수 있습니다.
휴대용 코팅 두께 측정기의 보정은 어떻게 확인하나요?
코팅되지 않은 공작물에서 여러 측정값(보통 5~10개)을 측정한 후 나중에 측정할 지점에서 보정 포일을 측정합니다. 피셔 베이스 캘리브레이션 플레이트는 이 캘리브레이션에 유용하지 않습니다. 그 후 사용자는 필름 설정값과 측정된 평균값에서 허용할 편차를 결정해야 측정 장치가 여전히 충분히 잘 보정된 것으로 간주됩니다. 통계 및 측정된 필름 두께의 불확실성과 관련하여 측정 장치의 보정에 대한 평가는 예를 들어 DIN EN ISO 2178: 2016 "자성 모재의 비자성 코팅 - 필름 두께 측정 - 자기 방법"(8장) 및 DIN EN ISO 2360:2017 "비자성 금속 모재의 비전도성 코팅 - 필름 두께 측정 - 와전류 방법"(8장) 표준에 따라 제공됩니다.
FDX10 및 FDX13H 듀플렉스 프로브를 캘리브레이션할 때 고려해야 할 사항은 무엇인가요?
이 듀플렉스 프로브에는 두 개의 측정 채널이 있습니다. 자기 유도 채널은 페인트와 아연의 총 코팅 두께를 측정합니다. 진폭 감응 와전류 채널은 아연의 페인트 층 두께를 측정합니다. 캘리브레이션을 위해서는 원래 부품에 해당하는 완전히 코팅되지 않은 강철 부품과 최소 70µm의 아연이 포함된 아연 도금 부품이 필요합니다. 프로브의 자기 유도 채널은 코팅되지 않은 강철 부품에서 보정됩니다. 사용되는 캘리브레이션 포일은 예상되는 총 코팅 두께 범위(페인트 및 아연)에 맞춰야 합니다. 아연 도금 부품은 진폭 감응 와전류 채널을 교정하는 데 사용됩니다. 사용되는 캘리브레이션 포일은 예상되는 페인트 층 두께 범위의 틀을 구성해야 합니다.
ESG2 및 ESG20 듀플렉스 프로브를 캘리브레이션할 때 고려해야 할 사항은 무엇인가요?
이 듀플렉스 프로브에는 두 개의 측정 채널이 있습니다. 자기 유도 채널은 페인트와 아연의 총 코팅 두께를 측정합니다. 위상 감응 와전류 채널은 페인트 아래의 아연 코팅 두께를 측정합니다. 캘리브레이션을 위해서는 원래 부품에 해당하는 완전히 코팅되지 않은 강철 부품과 일반적인 아연 코팅이 된 아연 도금 부품이 필요합니다. 프로브의 자기 유도 채널은 코팅되지 않은 강철 부품에서 보정됩니다. 사용되는 보정 포일은 예상되는 총 코팅 두께 범위(페인트 및 아연)에 맞춰야 합니다. 아연 도금된 부품에서는 프로브의 위상에 민감한 와전류 채널이 보정됩니다. 아연 층 자체가 캘리브레이션 층이므로 여기에는 캘리브레이션 포일을 사용하지 않아야 합니다. 이 캘리브레이션 단계에서는 아연 도금된 부분만 측정하면 됩니다. 아연층 두께는 캘리브레이션 전에 기준층 두께로 측정할 필요가 없습니다. 아연 층의 교정 기준값은 첫 번째 단계에서 보정된 자기 유도 채널에 의해 제공됩니다.
코팅의 밀도가 캘리브레이션에 영향을 미치나요?
예, 그렇습니다. 예를 들어, 코팅 밀도가 2g/cm³인 부품으로 측정 장치를 보정했는데 이제 밀도가 1g/cm³인 부품을 측정해야 하는 경우 체계적인 측정 오류가 발생할 수 있습니다. 그러면 측정값이 너무 낮습니다. 이는 측정 장치가 새 물체의 신호를 마치 해당 층의 밀도가 2g/cm³인 것처럼 평가하기 때문입니다.
FAQ 칼리브레이션 - XRF
FISCHER XRF 장비에서 ‘정규화(Normalization)’란 무엇을 의미하나요?
측정 기술에서 정규화란 현재 설정이나 새로운 기본 재료에 맞도록 측정 작업을 조정하는 과정을 의미합니다.
1차 필터, 양극 전류, 콜리메이터를 변경하거나 새로운 합금의 기본 재료를 사용할 경우 반드시 정규화를 수행해야 합니다.
정규화를 통해 일관되고 정확한 측정 결과를 보장할 수 있습니다.
FISCHER XRF 장비에서 신뢰하기 어려운 값이 나타납니다. 측정이 정상인지 어떻게 확인할 수 있나요?
측정 장비 모니터링을 통해 XRF 장비가 제대로 작동하는지 확인하고 측정 결과가 시료를 제대로 반영하는지 또는 장비 결함이 원인인지 평가할 수 있습니다. 측정 장비 모니터링에서는 특정 기준 시료(FISCHER 표준 또는 고객 기준 부품)를 동일한 조건에서 일정한 간격으로 측정합니다. 측정값이 애플리케이션에 따라 이전에 설정한 허용 오차 및 개입 한계 내에 속하면 XRF 장치가 제대로 작동하는 것으로 간주할 수 있습니다.
FISCHER XRF 장비에서 기준 측정(Reference measurement)이란 무엇인가요?
기준 측정은 에너지 축(Energy axis)을 재보정하기 위한 절차입니다. 작업자가 간편하게 수행할 수 있으며, 특히 비례 계수관(Proportional Counter)을 사용하는 XRF 장비에서 정기적으로 실시하는 것이 권장됩니다.
이 과정은 온도 변화로 인한 영향을 보정하여, 측정 결과의 안정성과 정확성을 유지하는 데 중요한 역할을 합니다.
XRF 장비의 캘리브레이션은 어떻게 확인하나요?
WinFTM® 소프트웨어의 “Items ► Calibration Standards” 메뉴를 통해 교정 표준을 재측정할 수 있습니다.
이를 통해 기존 캘리브레이션이 올바르게 유지되고 있는지, 장비가 정상 상태인지, 또는 재교정이 필요한지를 확인할 수 있습니다.
X-레이 교정 표준시편은 얼마나 자주 재인증을 받아야 하나요?
재인증 주기는 사용 빈도와 사용 환경에 따라 달라지며, 사용자가 직접 결정할 수 있습니다.
일반적으로 높은 측정 정확도를 유지하기 위해 약 1~3년 주기로 재인증하는 것이 권장됩니다.
캘리브레이션 과정에서 X-선 교정 포일을 겹쳐 사용할 수 있나요?
일반적인 기준으로는 비례 계수관(Proportional Counter) 장비의 경우 2~3장의 포일을 사용할 수 있으며, PIN 또는 실리콘 드리프트 검출기(SDD)가 장착된 장비에서는 1장의 포일 사용이 권장됩니다.
XRF 장치용 순수 원소 플레이트는 재인증을 받아야 하나요?
아니요, 일반적으로 재인증은 필요하지 않습니다.
순수 원소 플레이트는 XRF 포화 두께(saturation thickness)에 해당하는 순수 원소로 구성되어 있어, 적절하게 사용하면 장기간 안정적으로 유지됩니다.
다만 기계적 손상이나 오염이 발생하지 않도록 주의해야 합니다.
노미네이션 또는 캘리브레이션 중 “Base material calibration set” 및 “Base material measurement object”를 요청하면 어떻게 해야 하나요?
WinFTM® 소프트웨어는 기본 재료 조성이 유사하지만 실제로는 차이가 있는 시료 시스템도 측정할 수 있도록 설계되어 있습니다. 예를 들어, 서로 다른 구리 합금이 이에 해당합니다.
이러한 경우 정규화(노미네이션) 또는 캘리브레이션 과정에서 두 가지 기본 재료를 구분하여 지정하도록 요청합니다. “Base material calibration set”은 조성이 정확히 알려져 있으며 추가 보정에 사용되는 기준 기본 재료를 의미합니다.
“Base material measurement object”는 실제로 측정하려는 고객 부품의 기본 재료를 의미합니다.
두 항목을 혼동할 경우 체계적인 오차가 발생하여 잘못된 보정이 이루어질 수 있으므로, 각각의 기본 재료를 정확히 구분하여 적용해야 합니다.
캘리브레이션 표준에 대한 공장 인증서와 ISO 17025 인증서의 차이점은 무엇인가요?
ISO 17025 인증서를 받은 캘리브레이션 표준은 공인 인정 기관에서 규정한 절차에 따라 측정되며, 공장 인증서가 부여된 표준보다 측정 불확도가 더 낮습니다.
따라서 더 높은 신뢰성과 추적성이 요구되는 경우에는 ISO 17025 인증서를 사용하는 것이 권장됩니다.
FAQ 표준
표준 시편이란 무엇이며 왜 중요한가요?
표준 시편은 조성이 알려져 있고 검증된 물질로, XRF 장비를 조정하고 점검하는 데 사용됩니다. 표준 시편은 측정 결과의 정확성과 재현성을 보장합니다.
측정에 적합한 표준 시편을 어떻게 선택하나요?
표준 시편은 측정할 재료 및 코팅 조성과 최대한 유사해야 합니다. 이를 통해 교정이 실제에 가깝고 정확한 결과를 제공하도록 보장할 수 있습니다.
FISCHER는 어떤 종류의 표준 시편을 제공하나요?
- 단일층, 다층, 합금층, 순수 원소 및 합금을 위한 고체 표준
- 단일층, 다층 및 합금층을 위한 포일 표준
- 특정 산업과 애플리케이션을 위한 사전 구성된 세트
FISCHER는 500개가 넘는 매우 다양한 인증 표준 시편을 제공합니다. 여기에는 다음이 포함됩니다.
FISCHER 표준 시편의 주요 장점은 무엇인가요?
표준 시편이 구겨지거나 찢어지거나 손상된 경우에도 계속 사용할 수 있나요?
아니요. 표준 시편이 구겨지거나 찢어졌거나 그 밖의 방식으로 손상된 경우에는 사용하지 않아야 합니다. 교정용 포일은 층이 얇아 특히 찢어지거나 변형되기 쉬우므로 매우 주의해서 취급하십시오. 손상이 발견되면 검사를 위해 표준 시편을 당사로 보내주시기 바랍니다. 당사에 직접 문의해 주세요.




Cu 포일, 찢어짐
사용 불가Au 포일, 구겨짐
사용 불가Nb 포일, 찢어짐
사용 불가Au 포일
사용 가능표준 시편의 어느 부분이 측정용으로 인증되어 있나요?
엑스레이 표준 시편의 경우 인증서에 중앙의 2 × 2 mm 영역이 지정되어 있습니다. 다른 측정 영역이 인증된 경우에는 인증서에 명확하게 기재됩니다. 접촉식 측정용 포일의 경우 인증된 측정 영역이 포일 위에 원으로 직접 표시되어 있습니다.

인증된 측정 영역은 빨간색으로 표시되어 있습니다. 표준 시편을 유지보수 또는 검사를 위해 얼마나 자주 보내야 하나요?
FISCHER 진델핑겐에서는 특정 유지보수 주기를 정하고 있지 않습니다. 표준 시편을 재교정을 위해 보내야 하는 시점은 사용 조건, 환경 및 보관 요인, 특정 표준 시편에 대한 회사의 의존도, 내부 검사 장비 요건에 따라 크게 달라질 수 있습니다. 따라서 고객 또는 검사 장비 관리팀이 표준 시편의 적절한 발송 주기를 가장 잘 평가하고 결정할 수 있습니다. 일반적인 권장 주기는 약 1년에서 3년입니다.
개별 상담이 필요하신가요? 문의해 주세요
인증서에 유효기간이 있나요?
아니요, 인증서에는 정해진 만료일이 없습니다. 재교정을 위해 표준을 보내야 할 필요성은 사용 조건, 환경 및 보관
아니요. 인증서에는 정해진 유효기간이 없습니다. 표준 시편을 재교정을 위해 보내야 하는 시점은 사용 조건, 환경 및 보관 요인, 특정 표준 시편에 대한 회사의 의존도, 내부 검사 장비 요건에 따라 크게 달라질 수 있습니다. 따라서 고객 또는 검사 장비 관리팀이 재교정이 필요한 시점을 가장 잘 평가하고 결정할 수 있습니다.
개별 상담이 필요하신가요? 문의해 주세요
FISCHER 표준 시편 카탈로그에서 제공하지 않는 요구사항이 있습니다. 맞춤형 솔루션도 제공하나요?
네, 맞춤형 특수 솔루션을 제공합니다. 기술적으로 가능한 경우 카탈로그에 있는 여러 코팅 두께를 고객의 구체적인 요구사항에 맞게 조합할 수 있습니다. 또한 기술적으로 가능하다면 고객이 제공한 재료를 사용하여 표준 시편을 제작할 수도 있습니다. 당사의 FISCHER 담당자가 고객의 요구사항에 대해 기꺼이 상담해 드립니다!
표준 시편의 표면이 변색되었습니다. 표준 시편을 세척해도/세척해야 하나요?
표준 시편은 절대로 기계적 또는 화학적 방법으로 세척해서는 안 됩니다! 세척하면 손상, 불균일 및/또는 코팅 두께 감소가 발생하여 교정 결과가 달라질 수 있습니다.
Al, Cu, Ag의 변색: 이러한 금속은 금속 표면의 산화로 산화물층이 형성되며, 이 층은 아래쪽 금속이 산소와 추가로 반응하지 않도록 보호합니다(부동태화). 금속에 따라 특유의 변색이 나타날 수 있지만 측정 결과에는 부정적인 영향을 주지 않습니다.
중요: 표준 시편을 세척하지 마십시오! 마찰로 산화물층을 제거하면 교정 결과가 왜곡될 수 있습니다.Fe, Zn, Zn/Fe의 변색: 철의 산화(녹) 또는 아연의 산화(백청)가 발생하면 부식이 표준 시편을 손상시킵니다. 부식이 발생한 표준 시편은 교체를 위해 보내야 합니다. 부식성 환경은 부식 과정을 가속하므로 표준 시편을 올바르게 취급하고 보관하는 데 항상 특별히 주의하십시오(다음 질문도 참조).
COULOSCOPE® 표준 시편의 예외: COULOSCOPE® 표준 시편은 세척과 관련하여 예외입니다. 니켈 산화물층을 다시 활성화할 수 있는 “지우개”가 함께 제공됩니다.
표준 시편은 어떻게 보관해야 하나요?
결로가 발생하거나 부식성이 있는 환경에 표준 시편을 보관하지 마십시오. 과도한 습도는 코팅층을 손상시킬 수 있습니다.
표준 시편 케이스에서 DAkkS 라벨을 제거해도 되나요?
아니요. 케이스에서 DAkkS 표시를 제거하지 마십시오. DAkkS 교정 성적서는 케이스에 부착된 해당 DAkkS 표시와 함께 사용하는 경우에만 유효합니다.
DAkkS 교정 성적서를 찾을 수 없습니다. 새 성적서는 어디에서 또는 어떻게 받을 수 있나요?
요청 시 DAkkS 교정 성적서를 재발급해 드릴 수 있습니다. 다만, 재발급에는 긴 처리 기간과 추가 비용이 발생하므로 유의해 주십시오. 이를 위해 고객의 전담 FISCHER 담당자에게 직접 문의해 주십시오. 고객에게 맞는 개별 견적을 기꺼이 제공해 드립니다.
DAkkS 인증서를 디지털 형태로도 사용할 수 있나요?
안타깝게도 아직은 지원되지 않지만 노력 중입니다.
이용약관은 어디에서 찾을 수 있나요?
여기에서 이용 약관을 확인할 수 있습니다
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 장비로 FISCHER 표준 시편을 측정할 수 있나요?
네, 하지만 장비에 설치된 폴리캐필러리 광학계 에 따라 달라집니다. 폴리캐필러리 광학계에 따라 약 10–50 µm 범위의 측정 스폿으로 측정할 수 있습니다. 이러한 매우 작은 측정 스폿을 사용하면 “핀홀”과 같은 국부적인 불균일성이나 표면 거칠기가 높은 표면의 코팅 두께 차이를 시각화할 수 있습니다. 따라서 표준 시편을 단일 지점에서 측정하면 재료에 따라 측정값의 산포가 커지거나 교정 결과가 왜곡될 수 있습니다. 따라서 당사의 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 장비로 표준 시편을 측정할 때는 항상 스캔 모드를 사용해야 합니다.
적합성 선언서(Declaration of Conformity)는 어디에서 확인할 수 있나요?
표준 시편은 개별적으로 제작되며 표준화 대상이 아니므로 적합성 선언서를 발행할 수 없습니다. 또한 RoHS 측정 및 특수 코팅을 위한 표준 시편도 제공하며, 이 중 일부는 RoHS를 준수하지 않는 재료를 사용해야 합니다.
납품된 표준 시편의 공칭값이 견적서에 명시된 값과 다릅니다. 그 이유는 무엇인가요?
당사의 표준 시편은 제조 공정으로 인해 지정된 코팅 두께에서 ±20 %의 편차가 발생할 수 있습니다. 이는 결함이 아니며 허용 공차 범위 내에 해당합니다. 당사는 항상 견적서에 명시된 값과 최대한 가까운 표준 시편을 제공합니다.
어떤 값이 유효한가요? 표준 시편에 표시된 값인가요, 아니면 인증서에 기재된 값인가요? 이러한 값이 때때로 다른 이유는 무엇인가요?
모든 측정값에는 일정한 수준의 변동이 발생할 수 있습니다. 따라서 재인증 후 인증서에 기재된 값은 지정된 측정 불확실성 범위 내에 있는 한 표준 시편에 표시된 값과 다를 수 있습니다. 또한 DIN EN ISO/IEC 17025:2017 에 따라 인증된 접촉식 측정용 포일의 경우 시스템 관련 요인으로 인해 포일에 인쇄된 값이 인증서에 기재된 값과 다를 수 있습니다. 현재 유효한 값은 항상 인증서에 기재된 값입니다.
Tactile 표준도 마모될 수 있나요?
네, Tactile 측정은 표면과 직접 접촉하는 방식이므로 표준은 자연적인 마모가 발생할 수 있습니다.
표시된 측정 영역 내에 움푹 들어간 자국이나 균열 등 손상이 확인되는 경우에는 해당 표준을 교체할 것을 권장합니다.
왜 Tactile 측정용 포일은 재인증이 불가능한가요?
Tactile 측정용 포일은 측정 과정에서 직접 접촉이 이루어지기 때문에 사용에 따라 자연적인 마모가 발생합니다.
이러한 특성으로 인해 재인증을 통해 동일한 상태를 보장할 수 없으므로, 촉각 포일은 재인증 대상이 아닙니다.
Tactile 측정용 플라스틱 포일을 제3자 기관에서 인증했을 때 측정값이 Helmut Fischer에서 제공한 값보다 높게 나오는 이유는 무엇인가요?
포일 두께의 편차는 측정 구성에서 비롯되었을 가능성이 높습니다. 해당 포일은 평평한 압자를 사용하여 측정된 것으로 추정됩니다. 이 방법으로 포일 두께를 측정하면 포일에 압흔이 거의 생기지 않습니다. 따라서 포일의 실제 두께가 측정됩니다. 이 방법으로 측정한 포일 두께는 일반적으로 FISCHER에서 지정한 포일 두께보다 약간 높습니다.
당사에서 측정한 교정용 포일은 해당 측정 프로브를 사용하여 당사 장비를 교정하는 데 사용됩니다. FISCHER 측정 프로브 에는 교정용 포일 또는 측정할 표면 위에 놓이는 작은 구형 팁이 있습니다. 프로브를 플라스틱 포일 위에 놓으면 구형 팁이 작은 압흔을 만들며, 이 압흔은 교정용 포일의 두께를 비롯한 여러 요인에 따라 달라집니다. 당사는 교정용 포일을 측정할 때 이 압흔을 고려합니다. 따라서 Helmut Fischer에서 제조한 교정용 포일의 공칭값은 항상 포일의 실제 두께보다 약간 낮습니다. 이 압흔을 고려하지 않으면 해당 포일로 당사의 측정 장비를 교정한 후 실제 부품에서 잘못된 코팅 두께를 측정하게 됩니다.