아연 도금된 다양한 패스너 제품 (예 : 못, 나사, 볼트 등)은 사양에 따라 테스트해야합니다. 일반적으로 이것은 반구형 표면, 나사산 스템 또는 절단 끝 부분에 있습니다. 비파괴 검사의 경우 고정밀 X 선 형광 (XRF) 또는 보다 비용 효율적인 와전류 방법을 사용할 수 있습니다. 이 방법은 EN (DIN) 14592 분류의 요구 사항을 충족합니다. 다양한 기판에서 거친 표면에서도 전기 전도성 코팅을 측정 할 수 있기 때문에 다른 전자기 방법보다 더 적합합니다. 또한 측정되는 부품의 형상이 측정 자체에 거의 영향을 미치지 않기 때문에 작은 물체를 측정 할 때 큰 이점을 제공합니다.
최적의 측정 결과에는 곡면의 거친 표면에서 작은 측정 영역을 가능하게하는 특수 프로브가 필요합니다. ESD2.4 프로브와 함께 사용되는 휴대용 PHASCOPE® PMP10 기기는이 측정 작업에 이상적인 조합입니다.
다음 표는 PHASCOPE® PMP10으로 측정 한 아연 두께의 평균 값을 XRF 시스템으로 측정 한 값과 비교한 것 입니다.